光不连续性测试仪校准装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN116131940A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310408252.7

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明公开一种光不连续性测试仪校准装置,包括:控制装置,用于发送预设的第一控制指令给所述信号发生器;信号发生器,与电吸收调制器连接,用于根据所述第一控制指令产生不连续的电信号,并将所述电信号输出给所述电吸收调制器;电吸收调制器,放置在恒温装置中,用于根据所述电信号输出与所述电信号相对应的光不连续信号;恒温装置,用于保持所述电吸收调制器处于恒定温度下;所述控制装置,还用于发送预设的第二控制指令给所述程控光衰减器;程控光衰减器,与所述电吸收调制器连接,用于根据所述第二控制指令对所述电吸收调制器输出的光不连续信号进行衰减处理,并输出光不连续校准信号。

    光不连续性测试仪校准装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN116131940B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310408252.7

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明公开一种光不连续性测试仪校准装置,包括:控制装置,用于发送预设的第一控制指令给所述信号发生器;信号发生器,与电吸收调制器连接,用于根据所述第一控制指令产生不连续的电信号,并将所述电信号输出给所述电吸收调制器;电吸收调制器,放置在恒温装置中,用于根据所述电信号输出与所述电信号相对应的光不连续信号;恒温装置,用于保持所述电吸收调制器处于恒定温度下;所述控制装置,还用于发送预设的第二控制指令给所述程控光衰减器;程控光衰减器,与所述电吸收调制器连接,用于根据所述第二控制指令对所述电吸收调制器输出的光不连续信号进行衰减处理,并输出光不连续校准信号。

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