公开(公告)号：CN111291532B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202010054107.X

申请日：2020-01-17

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 聂国健 ,  李欣荣 ,  郑丽香 ,  于迪 ,  杨云 ,  雷庭 ,  王浩

IPC: G06F30/398 ,  G06F119/02

Abstract: 本申请涉及一种片上系统互连可靠性仿真方法、装置、设备及存储介质。通过对芯片设计模型进行简化，并根据对应的材料参数和环境试验参数对简化模型进行仿真分析，得到芯片设计模型的可靠性结果。其中，简化模型至少包括关于片外互连结构的电路板简化模型，以及关于片内互连结构的键合线简化模型；仿真分析至少包括热学仿真、振动仿真和寿命仿真。基于此，本申请实施例综合考虑片上系统片外和片内的互连可靠性，且从热学和振动等方面来分析片上系统的失效情况，能够获得更为准确的仿真结果，提高准确性及仿真效率。此外，结合仿真得到的可靠性结果，能够便于设计师及时发现片上系统设计的薄弱环节，进而有针对性的改进设计。

公开(公告)号：CN115936312A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211536480.4

申请日：2022-12-02

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 杨云 ,  韩俊杰 ,  王浩 ,  刘瑜珂 ,  于迪 ,  聂国健 ,  赵征凡

IPC: G06Q10/063 ,  G06F16/36

Abstract: 本申请涉及一种电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质。属于电子元器件评估技术领域，所述方法包括：获取电子元器件的至少两项评估数据要素；其中，所述评估数据要素包括数据类型、数据内容和数据来源中的至少一种；根据至少两项所述评估数据要素，确定与各项所述评估数据要素相关联的实体信息；根据不同实体信息间的关联关系和至少两项所述评估数据要素，构建所述电子元器件的知识图谱模型；基于所述知识图谱模型，评估所述电子元器件。本方法基于知识图谱模型对电气元器件评估时，思路更加清晰，根据条理性，可大幅提高工作效率，并且最终关系展示也层次分明，逻辑性更强。

公开(公告)号：CN111291532A

公开(公告)日：2020-06-16

申请号：CN202010054107.X

申请日：2020-01-17

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 聂国健 ,  李欣荣 ,  郑丽香 ,  于迪 ,  杨云 ,  雷庭 ,  王浩

IPC: G06F30/398 ,  G06F119/02

Abstract: 本申请涉及一种片上系统互连可靠性仿真方法、装置、设备及存储介质。通过对芯片设计模型进行简化，并根据对应的材料参数和环境试验参数对简化模型进行仿真分析，得到芯片设计模型的可靠性结果。其中，简化模型至少包括关于片外互连结构的电路板简化模型，以及关于片内互连结构的键合线简化模型；仿真分析至少包括热学仿真、振动仿真和寿命仿真。基于此，本申请实施例综合考虑片上系统片外和片内的互连可靠性，且从热学和振动等方面来分析片上系统的失效情况，能够获得更为准确的仿真结果，提高准确性及仿真效率。此外，结合仿真得到的可靠性结果，能够便于设计师及时发现片上系统设计的薄弱环节，进而有针对性的改进设计。

公开(公告)号：CN111274687B

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202010045849.6

申请日：2020-01-16

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 胡湘洪 ,  于迪 ,  聂国健 ,  杨云 ,  李欣荣

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F119/02 ,  G06F119/14

Abstract: 本申请涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。所述元器件失效率预计方法在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的预计步骤，使得所述待测试元器件组的失效率更加符合所述待测试元器件组的实际使用情况。解决了传统数理统计预计模型失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，达到了达到减小所述预计失效率与实际失效率预计偏差的技术效果。

公开(公告)号：CN111274687A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN202010045849.6

申请日：2020-01-16

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 胡湘洪 ,  于迪 ,  聂国健 ,  杨云 ,  李欣荣

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F119/02 ,  G06F119/14

Abstract: 本申请涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。所述元器件失效率预计方法在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的预计步骤，使得所述待测试元器件组的失效率更加符合所述待测试元器件组的实际使用情况。解决了传统数理统计预计模型失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，达到了达到减小所述预计失效率与实际失效率预计偏差的技术效果。