一种大口径光学元件的微挠性结构宏微结合精调装置

    公开(公告)号:CN107121748B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN201710367072.3

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 本发明公开了一种大口径光学元件的微挠性结构宏微结合精调装置,该装置包括基板、光学元件、盖板、盖板螺钉和微挠性精调模块;光学元件通过其自身的正面与基板内的三个支撑面接触安装,盖板通过盖板螺钉将光学元件固定在底框内部,微挠性精调模块安装在盖板上,微挠性精调模块采用宏动调节和微动调节相结合的方式来进行光学元件面型的调节,采用弹簧作为宏动调节的主要零件实现对光学元件面型的初步调节,采用微挠性结构件作为微动调节的主要零件实现对光学元件面型的精确调节。本发明的微挠性结构件能够将运动输入的调整精度进行放大,使得微挠性结构件的输出调整精度大大提高,宏动调节过程和微动调节过程互不影响,具有较大的工程实用意义。

    小角度测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN104482884B

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201410671101.1

    申请日:2014-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种小角度测量装置及其测量方法,包括光电自准直仪,所述光电自准直仪前端设置有测量头,该测量头包括安装平台、竖直地安装在所述安装平台上的第一反射镜和第二反射镜,其中,第一反射镜与光电自准直仪光轴呈45°倾斜设置,其镜面与该光电自准直仪相对,所述第二反射镜镜面与第一反射镜相对,该第二反射镜与光电自准直仪光轴之间的夹角θ为锐角。采用以上技术方案,能够在不改变已有光电自准直仪的情况下,提高其小角度测量的分辨率,并且不会放大光束漂移、气流扰动等因素引起的角度扰动量,测量准确、方便。

    小角度测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN104482884A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410671101.1

    申请日:2014-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种小角度测量装置及其测量方法,包括光电自准直仪,所述光电自准直仪前端设置有测量头,该测量头包括安装平台、竖直地安装在所述安装平台上的第一反射镜和第二反射镜,其中,第一反射镜与光电自准直仪光轴呈45°倾斜设置,其镜面与该光电自准直仪相对,所述第二反射镜镜面与第一反射镜相对,该第二反射镜与光电自准直仪光轴之间的夹角θ为锐角。采用以上技术方案,能够在不改变已有光电自准直仪的情况下,提高其小角度测量的分辨率,并且不会放大光束漂移、气流扰动等因素引起的角度扰动量,测量准确、方便。

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