公开(公告)号：CN104101580A

公开(公告)日：2014-10-15

申请号：CN201410359063.6

申请日：2014-07-25

Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所

Inventor： 张卫 ,  邹凯 ,  张凯 ,  吴建平 ,  路大举 ,  黄志伟 ,  杨锐 ,  陈天江 ,  郑捷 ,  余鸿铭 ,  卢飞 ,  尹新启 ,  廖原 ,  李建明 ,  田飞 ,  王锋 ,  陈黎

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明公开了一种基于半球阵列探测的BRDF快速测量装置，由激光器、光纤、光纤分束器、光功率计、二维调节激光准直机构、全封闭半球暗室、阵列光电探测器、数据采集处理系统、上位机组成。本发明无复杂机械结构和机电控制系统，结构简单，操作方便；半球型全封闭设计自带暗室实验环境，提高了系统环境适应性；通过半球空间密集型阵列探测，可以在2秒内一次性快速完成待测材料反射半球空间所有采样角度的双向反射分布函数的测量，提高了测量效率；无复杂的光学系统，采用光电探测器与高速数字电路采集模块这种简易通用模式实现多路信号快速采集处理，成本较低。