非对称重离子微孔膜制作方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115970502A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211620756.7

    申请日:2022-12-16

    Abstract: 本发明涉及重离子微孔膜技术领域,尤其涉及非对称重离子微孔膜制作方法。本发明提供一种有效改善重离子微孔膜易堵塞和避免过滤速度衰减快的非对称重离子微孔膜制作方法。非对称重离子微孔膜制作方法,包括有以下步骤:S1、辐照;S2、热处理;S3、蚀刻;S4、清洗;S5、干燥。本发明通过对聚合物薄膜采用双面蚀刻,使得制作出非对称重离子微孔膜,被过滤流体从微孔的小口端进入,从大口端流出,可以减少小颗粒吸附在微孔内所致的阻塞,具有更好的过滤性能,具有更高的截留效率和更大的过滤速度,可以有效改善重离子微孔膜易堵塞的问题,避免过滤速度衰减快。

    用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法

    公开(公告)号:CN114873340A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210391955.9

    申请日:2022-04-14

    Abstract: 本发明的实施例涉及核径迹技术领域,尤其涉及一种用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。适用于但不仅限于沿预定方向连续不间断传送的核孔膜的测量,可测量核孔膜的物理参数。设备包括:夹持系统,用于夹持核孔膜以将核孔膜的待测部分稳定地保持在测量位置;测量系统,用于在夹持系统将待测部分稳定地保持在测量位置时,测量核孔膜待测部分的物理参数;传送系统,当待测部分保持在测量位置时,用于使位于设备上游和下游的核孔膜沿原定方向继续传送。设备能够对处于传送状态的核孔膜进行测量,即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送,也无需裁剪核孔膜,是一种无损测量设备。

    一种核孔膜孔径自动化测量方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116087251A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202211535606.6

    申请日:2022-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种核孔膜孔径自动化测量方法,通过对样品表面镀导电薄膜,对镀膜后的样品进行电镜扫描,对扫描图像依次做USM锐化处理、腐蚀膨胀处理、霍夫圆检测处理,得到核孔膜孔内外径及其统计分布;本发明的方法可检测到所有的核孔膜的孔,通过霍夫圆梯度检测算法和同心圆处理算法检测到同心圆、交叉圆,准确度高,与人工统计误差在5%之内;使用算法自动进行运算,检测时间短,不需要人工操作,极大的提高了检测准确度;且架构简单,可移植运行,提高应用范围。

    中子单色器屏蔽系统
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111627585B

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN201910062118.X

    申请日:2019-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种中子单色器屏蔽系统,该中子单色器屏蔽系统包括:屏蔽转鼓,具有一容置空间以容纳单色器,该屏蔽转鼓包含:若干块层叠的屏蔽块;复合楔形块结构,该复合楔形块结构沿着径向分布有至少两层的楔形块结构,每层楔形块结构中包含多个楔形块;以及楔形块提升装置,设置于最高层屏蔽块上,与复合楔形块结构中的楔形块的位置一一对应;其中,通过利用楔形块提升装置提升不同位置处的楔形块,为不同的单色器起飞角提供中子出射孔道。复合楔形块结构在很大程度上减少屏蔽开口尺寸,进而减少非中子路径上的开口的尺寸,能够大大提升屏蔽效果、降低谱仪的本底进而提高谱仪性能。

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