-
公开(公告)号：CN104216000B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201410443111.X
申请日：2014-09-02
Applicant: 中国原子能科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法，包括如下步骤：选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数，将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式；然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据；随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差；计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围，测试过程中参考准直器发散角可以任选，相对于6个待定参数的5次多项式，并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。
-
公开(公告)号：CN104216000A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201410443111.X
申请日：2014-09-02
Applicant: 中国原子能科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法，包括如下步骤：选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数，将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式；然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据；随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差；计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围，测试过程中参考准直器发散角可以任选，相对于6个待定参数的5次多项式，并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。
-
公开(公告)号：CN102253405B
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201110179496.X
申请日：2011-06-28
Applicant: 中国原子能科学研究院
Inventor： 高建波 , 李峻宏 , 刘晓龙 , 李际周 , 陈东风 , 刘蕴韬 , 王洪立 , 孙凯 , 肖红文 , 韩松柏 , 李眉娟 , 张莉 , 吴展华 , 李天富 , 焦学胜 , 梁峰 , 杨浩智 , 王子军 , 胡瑞
Abstract: 本发明属于中子散射技术，具体涉及一种多轴中子单色器姿态调整装置。该调整装置包括机械台体以及通过电缆与机械台体相连接的控制系统，其中，所述的机械台体包括设置在底盘上的旋转台，旋转台上设有平移调节器，在平移调节器上方设有倾斜调节器，倾斜调节器上设置单色器转位转台，机械台体的各运动机构带动单色器进行多自由度的位置组合调节；所述的控制系统包括设有控制软件的工控计算机以及通过驱动器对步进电机实现控制的电机控制单元。本发明集光机电和计算机控制技术为一体，可以对中子单色器进行五自由度的运动调节。
-
公开(公告)号：CN101599307B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910119503.X
申请日：2009-03-12
Applicant: 中国原子能科学研究院
Inventor： 李际周 , 李峻宏 , 高建波 , 陈东风 , 刘蕴韬 , 孙凯 , 王洪立 , 韩松柏 , 李天富 , 焦学胜 , 余周香 , 租勇 , 刘荣灯 , 刘晓龙 , 杨建立 , 林永明
IPC: G21F7/00
Abstract: 本发明属于中子散射技术领域，公开了一种中子单色器的屏蔽装置。该装置为封闭的圆柱形鼓状结构，中间旋转部分是由一个带有齿圈并设置N+1个防旋电磁铁的旋转托盘，安装于其上的一个大楔块，N个分度小楔块，以及下部转盘轴承组成，大楔块与旋转托盘相互固定在一起，N个分度小楔块依次置于大楔块的缺口部位。在小楔形块的上方设置一个固定电磁铁，防旋电磁铁、固定电磁铁在通电时吸住小楔块。本发明所提供的技术方案通过软硬件配合来完成复杂的运动，结构简单，加工方便。
-
公开(公告)号：CN102288626A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110200084.X
申请日：2011-07-18
Applicant: 中国原子能科学研究院
Inventor： 陈东风 , 李眉娟 , 刘晓龙 , 吴展华 , 田庚方 , 杨浩智 , 李峻宏 , 高建波 , 焦学胜 , 李天富 , 韩文泽 , 肖红文 , 余周香 , 胡瑞 , 孙凯 , 王洪立 , 刘蕴韬
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种中子织构测试设备，涉及中子辐射技术领域，解决了现有技术中配备一个限制水平方向发散的准直器，而竖直方向的发散度得不到有效的限制的问题。本发明实施例提供的方案为：包括第一准直器、单色器、样品台、探测器和第三准直器，所述第三准直器包括两个相互垂直的限制中子束发散度方向的水平准直器和竖直准直器。本发明实施例适用于中子测量仪器等。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102269520A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201110179475.8
申请日：2011-06-28
Applicant: 中国原子能科学研究院
Inventor： 高建波 , 李峻宏 , 陈东风 , 刘蕴韬 , 王洪立 , 孙凯 , 肖红文 , 韩松柏 , 李眉娟 , 张莉 , 吴展华 , 李天富 , 焦学胜 , 梁峰 , 杨浩智 , 王子军 , 胡瑞
Abstract: 本发明涉及中子衍射样品原位实验技术，具体涉及一种用于中子衍射样品原位实验的镜面高温炉装置。其结构包括上、下两个椭球反射保温装置，椭球反射保温装置中设有椭球镜面，其中，所述的上、下两个椭球反射保温装置之间通过若干根支撑杆连接，用于放置样品的坩埚通过水平支架设置在若干根支撑杆所围成的空间中，坩埚设有加热装置。本发明所提供的镜面高温炉装置的中间部分采用支撑杆支撑连接，保证了中子束流进入和穿出样品的路径通透，减少了中子束流的吸收衰减。
-
公开(公告)号：CN104776946A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201510226446.0
申请日：2015-05-06
Applicant: 中国原子能科学研究院
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明涉及一种用于放射性样品中子残余应力测量的屏蔽装置，包括装置主体(1)，所述装置主体(1)为三层盒式组合结构，在中盒(2)的内部设有用于放置样品夹持装置(4)的空心区域(3)；在中盒(2)的侧壁上设有入射孔道(5)、出射孔道(6)和衍射孔道(7)，所述入射孔道(5)、出射孔道(6)和衍射孔道(7)均与所述空心区域(3)相连通。本发明的屏蔽装置，不但满足放射性样品三维无损深度残余应力的测量，同时也满足放射性样品辐射屏蔽的安全要求，方便实用。
-
公开(公告)号：CN104215998A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201410412062.3
申请日：2014-08-20
Applicant: 中国原子能科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种微通道中子示踪仪，包括一探头、一高压部与一供电部，所述高压部连接所述供电部与所述探头，接受所述供电部供给的电能为所述探头提供高压电平，其特征在于：所述探头包括一壳体、一入射窗、一高压极、一微通道板与一显示屏。将中子转化与电子倍增集成到了同一器件内工作，大大节省了体积；采用了一层单向透射窗口，提高了测量精度；采用了曲管微通道板，减少了测量误差；将高压部与供电部集成到了手柄中，减小了体积，使设备使用更方便；显示屏能够接受电子，可同时获取中子的强度与位置信息；探测灵敏度高，可实现每秒每平方厘米几个中子的情况下泄露的微弱中子束检测。
-
公开(公告)号：CN103091701A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201110332619.9
申请日：2011-10-28
Applicant: 中国原子能科学研究院
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明属于冷中子束流品质二维测量技术，具体涉及一种多用途冷中子束流品质测量用飞行时间设备。其结构包括供冷中子束流通过的第一狭缝装置，第一狭缝装置的后侧设有机械斩波器，机械斩波器与水平设置的中子飞行管的进口端相连接，中子飞行管的出口端与第二狭缝装置连接，第二狭缝装置的后侧设有探测器和屏蔽装置，探测器通过多道时间分析器与计算机相连接。本发明结构精巧，硬件成本低，整个系统更加简易稳定，能够实现高精确度的转角定位和快速启制动，同时考虑到冷中子束流传输系统具体设计情况，能够充分满足各个冷中子谱仪对于束流能谱和品质参数测量的需求。
-
公开(公告)号：CN102435623A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110276888.8
申请日：2011-09-19
Applicant: 中国原子能科学研究院
Inventor： 陈东风 , 刘蕴韬 , 李峻宏 , 李际周 , 高建波 , 韩松柏 , 李天富 , 焦学胜 , 李眉娟 , 王洪立 , 孙凯 , 肖红文 , 祖勇 , 刘荣灯 , 武梅梅 , 余周香 , 梁峰 , 张莉 , 胡瑞 , 刘晓龙 , 韩文泽 , 吴立齐 , 陈娜 , 孙硕
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种中子衍射残余应力测定装置与方法，该装置使用反应堆中子源，经过单色器单色化后，得到所需的某一波长的单色中子束流，并利用该中子束流进行残余应力的测定。由于中子不带电荷，和物质相互作用时与核外电子几乎没有作用，不需克服电荷库仑力障碍，因而能量较低的中子也能进入到原子内；大多数材料对中子吸收也很低，所以入射中子束的穿透深度较深。同时通过准直器和狭缝准直、限定的中子束流还具有很高的空间分辨率，通过三个方向互相垂直的平移与绕测试中心点转动来实现被测试件的三维、无损和深度的应力测试工作，克服了X射线和同步辐射残余应力测定装置只能无损测定晶体材料表面及近表面残余应力的不足。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
29
records
(took 0.033 seconds)
