中子束过滤器过滤性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105388169B

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201510760920.8

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中,所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,中子束过滤器。另一种方案中,进一步包括偏转单色器,旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析,通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度,非常快速和直观,并极大地减小了测量误差,尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。

    一种便携式中子探测装置

    公开(公告)号:CN102253404B

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201110179451.2

    申请日:2011-06-28

    Abstract: 本发明涉及一种便携式中子探测装置,包括外套筒(2)及依次安装在外套筒(2)内并压紧连接的中子闪烁体转换屏(5)、光导材料(6)、端窗式光电倍增管(7)和底座(3),端窗式光电倍增管(7)的一端设有突出在底座(3)外端的输出端口(4),输出端口(4)通过导线依次连接前置放大器(9)、主放大器(10)和多道分析器(11),所述外套筒(2)的前端设有带内螺纹可旋拧的保护盖(1),所述保护盖(1)和外套筒(2)由铝制材料制成,通过旋转该保护盖(1)以调节旋进度,所述端窗式光电倍增管(7)的外表面包有磁屏蔽材料(8)。本发明所述的便携式中子探测装置可有效地屏蔽外侧光信号,对中子探测效率高;此外,该装置结构简单,便于携带。

    用于多通道扩展的单通道前置放大器组合

    公开(公告)号:CN102830416A

    公开(公告)日:2012-12-19

    申请号:CN201210317837.X

    申请日:2012-08-31

    Abstract: 本发明属于核辐射测量技术领域,具体涉及一种用于多通道扩展的单通道前置放大器组合。其结构包括由高压线和低压线贯穿的若干台单通道前置放大器,每一台单通道前置放大器包括两个高压插座、两个低压插座、一个探测器信号输入插座和一个信号输出插座;所述的两个高压插座用导线连接在一起,高压插座与探测器信号输入插座之间通过高压电阻连接,探测器信号输入插座通过耐高压电容接入前置放大器电路板;两个低压插座分别通过低压电源线与前置放大器电路板连接;相邻的两台单通道前置放大器之间通过电源转接线将高压插座和低压插座分别连接。本发明解决了多个分开排列的核辐射探测器高质量信号获取的问题。

    中子束过滤器过滤性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105388169A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510760920.8

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中,所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,中子束过滤器。另一种方案中,进一步包括偏转单色器,旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析,通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度,非常快速和直观,并极大地减小了测量误差,尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。

    一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105445780B

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201510760939.2

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,偏转单色器,旋转台;通过使用偏转单色器,测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比,基于偏转单色器并辅以适当的数据处理,在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值,克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。

    一种用于中子Soller准直器发散角测试方法

    公开(公告)号:CN104216000B

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201410443111.X

    申请日:2014-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法,包括如下步骤:选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数,将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式;然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据;随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差;计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围,测试过程中参考准直器发散角可以任选,相对于6个待定参数的5次多项式,并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。

    一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105445780A

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201510760939.2

    申请日:2015-11-10

    CPC classification number: G01T3/06

    Abstract: 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆,中子传输孔道,中子单色器,飞行时间装置,偏转单色器,旋转台;通过使用偏转单色器,测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比,基于偏转单色器并辅以适当的数据处理,在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值,克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。

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