一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN117433421A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311759855.8

    申请日:2023-12-20

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于深孔检测领域,具体涉及一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪及其测量方法,包括支撑底座和测量仪本体,所述支撑底座用于设置待测工件,其一端向上延伸,且其延伸段上设置有推杆,所述推杆用于推动所述测量仪本体进入待测工件的深孔中;所述测量仪本体包括自定心机构和检测机构;自定心机构包括内衬、顶杆、压缩弹簧、支撑条,所述检测机构包括角度传感器、电动机、显微镜管座、显微镜,本发明通过自定心机构对检测机构定位,可以实现深孔的多几何量测量,提高了测量精度和效率。

    孔类零件检测仪与孔检测方法

    公开(公告)号:CN112648921B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN201910991809.8

    申请日:2019-10-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械制造领域,具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动;探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜,可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴,探测杆、探测头上可设置孔,探测头与被测工件的孔壁形成环形楔形空间。孔检测方法包括孔检测仪器,步骤如下:第一步,放置带孔工件,并发出光线;第二步,使带孔工件或探测部分沿基准部分移动;第三步,根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸误差或粗糙度。

    孔检测与矫正装备及检测和矫正方法

    公开(公告)号:CN112845666A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201911153505.0

    申请日:2019-11-12

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械加工领域,具体涉及孔检测与矫正装备及检测和矫正方法。包括检测设备、矫直设备、检测方法、校直方法。当设备相对于基准部分运动时,探测部分绕支点运动,由光斑及其变化信息获得孔的直线度。专用加力器力的大小与孔轴线的误差有关。采用最小包容区域法或最小二乘法或两端点连线法或转动惯量法求孔直线度。转动惯量法的步骤包括:建立坐标系OXYZ;将测点赋予质量和刚化;求刚体转动惯量、惯性积、惯性矩阵及其对角阵、主惯性坐标系O′X′Y′Z′;投影求直线度。矫直方法的步骤包括:求孔的直线度;加力矫直;重复检测与加力。本发明采用了光学放大原理,降低了探测部分绕自身轴线旋转带来的误差,摩擦小,可用于大、小直径孔。

    孔类零件检测仪与孔检测方法

    公开(公告)号:CN112648921A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201910991809.8

    申请日:2019-10-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械制造领域,具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动;探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜,可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴,探测杆、探测头上可设置孔,探测头与被测工件的孔壁形成环形楔形空间。孔检测方法包括孔检测仪器,步骤如下:第一步,放置带孔工件,并发出光线;第二步,使带孔工件或探测部分沿基准部分移动;第三步,根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸误差或粗糙度。

    一种深孔测量装置与测量方法

    公开(公告)号:CN117781909B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410215935.5

    申请日:2024-02-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械制造深孔检测领域,具体涉及一种深孔测量装置与测量方法。测量装置包括:测量本体和计算单元,测量本体包括定心器,成像装置、屏幕、通光板、挡光板和光源通过连接机构依次固定设置在定心器上,挡光板和通光板为与定心器同轴设置的不透光圆形板,通光板上设置有与定心器轴线同心的圆环形的通光缝隙,光源用于发出光照亮待测工件内壁,被照亮的区域散射的光经挡光板挡光后,再通过通光板上的通光缝隙后成像在屏幕上,计算单元用于根据屏幕上圆环光斑宽度计算待测工件的孔径大小。本发明通过小孔成像,不仅可以放大待测工件孔内形貌,还可以实现孔径、圆度、圆柱度等多种参数的精确测量。

    一种深孔测量与三维重建系统及其使用方法

    公开(公告)号:CN116908217B

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202311161715.0

    申请日:2023-09-11

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及深孔类零件检测领域,公开了一种深孔测量与三维重建系统及其使用方法,一种深孔测量与三维重建系统,包括驱动模块;测量仪器;支撑模块;仪器参数模块以及信息处理模块。所述驱动模块用于驱动测量仪器轴向移动,所述仪器参数模块用于获取测量仪器的空间坐标以及姿态角信息,所述支撑模块用于支撑测量仪器,所述轮廓参数模块用于获取被测深孔的内轮廓参数,所述信息处理模块用于数据存储、数据分析、三维重建与显示。本发明可以实现超长深孔类零件内壁的测量与三维重建。

    一种深孔测量与三维重建系统及其使用方法

    公开(公告)号:CN116908217A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202311161715.0

    申请日:2023-09-11

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及深孔类零件检测领域,公开了一种深孔测量与三维重建系统及其使用方法,一种深孔测量与三维重建系统,包括驱动模块;测量仪器;支撑模块;仪器参数模块以及信息处理模块。所述驱动模块用于驱动测量仪器轴向移动,所述仪器参数模块用于获取测量仪器的空间坐标以及姿态角信息,所述支撑模块用于支撑测量仪器,所述轮廓参数模块用于获取被测深孔的内轮廓参数,所述信息处理模块用于数据存储、数据分析、三维重建与显示。本发明可以实现超长深孔类零件内壁的测量与三维重建。

    孔矫正装备与矫正方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112642881A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201910986587.0

    申请日:2019-10-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械加工领域,具体涉及孔矫正装备与矫正方法。矫正装备包括检测设备、矫直设备。检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准部分移动,通过探测部分绕支点的运动、由光斑及其变化信息获得孔的直线度。在矫直设备上分布有多个专用加力器,力的大小与各部位的误差有关。矫直方法的步骤为:第一,带孔工件运动,探测部分绕支点转动;显示光斑位置与孔的直线度;第二,加力器加力矫直,力的大小与误差有关。第三,多次检测与加力。所采用的方式有冷矫直或热矫直。本发明采用了光学放大原理,降低了探测部分绕自身轴线旋转带来的误差,检测与矫直精度高,摩擦小,可用于大、小直径孔。

    一种深孔测量装置与测量方法

    公开(公告)号:CN117781909A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202410215935.5

    申请日:2024-02-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于机械制造深孔检测领域,具体涉及一种深孔测量装置与测量方法。测量装置包括:测量本体和计算单元,测量本体包括定心器,成像装置、屏幕、通光板、挡光板和光源通过连接机构依次固定设置在定心器上,挡光板和通光板为与定心器同轴设置的不透光圆形板,通光板上设置有与定心器轴线同心的圆环形的通光缝隙,光源用于发出光照亮待测工件内壁,被照亮的区域散射的光经挡光板挡光后,再通过通光板上的通光缝隙后成像在屏幕上,计算单元用于根据屏幕上圆环光斑宽度计算待测工件的孔径大小。本发明通过小孔成像,不仅可以放大待测工件孔内形貌,还可以实现孔径、圆度、圆柱度等多种参数的精确测量。

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