基板处理装置用部件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101244945A

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200710165026.1

    申请日:2005-11-10

    Abstract: 本发明提供一种可抑制微粒的产生、同时可以防止基板处理装置的运转率下降、并且可以容易制造的基板处理装置用部件的制造方法。该基板处理装置用部件的制造方法包括缺陷存在比降低步骤,使基板处理装置用部件的表面附近存在的空孔状缺陷的存在比降低,缺陷存在比降低步骤对基板处理装置用部件进行热处理,热熔融的构成基板处理装置用部件的分子等流动,从而使基板处理装置用部件的表面附近的空孔状缺陷填满、消失。

    基板处理装置用部件及其制造方法

    公开(公告)号:CN100388418C

    公开(公告)日:2008-05-14

    申请号:CN200510117786.6

    申请日:2005-11-10

    Abstract: 本发明提供一种可抑制微粒的产生、同时可以防止基板处理装置的运转率下降、并且可以容易制造的基板处理装置用部件的制造方法。通过对由烧结法或CVD法形成的碳化硅进行切削加工以成形为聚焦环(步骤S31),将该成形的聚焦环暴露在作为不纯物质的由四氟化碳气体和氧气中的至少一种气体生成的等离子体中,将不纯物质导入聚焦环的表面附近存在的空孔状缺陷中(步骤S32),将正电子射入导入了该不纯物质的聚焦环的表面附近,利用正电子湮没法检查聚焦环的表面附近的缺陷存在比(步骤S33)。

    基板处理装置用部件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101244945B

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN200710165026.1

    申请日:2005-11-10

    Abstract: 本发明提供一种可抑制微粒的产生、同时可以防止基板处理装置的运转率下降、并且可以容易制造的基板处理装置用部件的制造方法。该基板处理装置用部件的制造方法包括缺陷存在比降低步骤,使基板处理装置用部件的表面附近存在的空孔状缺陷的存在比降低,缺陷存在比降低步骤对基板处理装置用部件进行热处理,热熔融的构成基板处理装置用部件的分子等流动,从而使基板处理装置用部件的表面附近的空孔状缺陷填满、消失。

    清洗等离子加工装置的方法

    公开(公告)号:CN100533673C

    公开(公告)日:2009-08-26

    申请号:CN03119377.3

    申请日:2003-03-14

    CPC classification number: B08B7/04 B24C1/003 Y10S134/902

    Abstract: 本发明提供一种彻底清洗等离子加工装置中待清洗元件表面上的沉积物的方法,不会有任何已经在待清洗元件表面上形成的阳极涂层或喷雾涂层的损伤。这种清洗方法包括浸入有机溶剂(例如丙酮)的化学清洗步骤(a);接着吹入压缩空气,以便去除已经由化学处理过的缓冲板(14)脱落的沉积物的步骤(b);接着,通过采用CO2鼓风装置(103)鼓风物理清除残留在缓冲板(14)边缘的沉积物,和缓冲板(14)浸入纯水(104),并给予超声振动清除保留在缓冲板(14)上的沉积物的f步骤。

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