AlGaAs/GaAs高电子迁移率晶体管及制备方法

    公开(公告)号:CN111430459B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202010350285.7

    申请日:2020-04-28

    Abstract: 本发明公开了AlGaAs/GaAs高电子迁移率晶体管,自下而上依次包括GaAs或锗衬底、若干层AlGaAs/GaAs异质结、GaAs帽层、SiN钝化层、源电极、漏电极和栅电极,其中,栅鳍采用上下不同鳍宽的叠层结构,上层鳍宽较下层鳍宽窄;栅电极与若干层AlGaAs/GaAs异质结的侧墙之间包括绝缘介质层,本发明提供的高电子迁移率晶体管采用三维叠层鳍式结构,使得不同鳍宽的栅极区域对器件沟道进行复合控制,相当于不同阈值器件的并联,施加栅极电压,器件跨导特性展宽,改善线性工作特性;在栅鳍的侧墙引入绝缘介质层,有效降低由于鳍式结构侧栅刻蚀表面引入的泄漏电流,降低器件的静态功耗,使器件的击穿电压得到提高。

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