一种X射线曝光装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112859539B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202110084626.5

    申请日:2021-01-21

    Abstract: 本发明涉及一种X射线曝光装置,包括套筒(1)和与套筒(1)连接的移动工作台(2),所述的套筒(1)内设置有掩模版(3)和光刻胶基板(4),套筒(1)上设有入光口(11),X射线通过入光口(11)进入套筒(1)内。与现有技术相比,本发明不仅可以有效保护了光刻掩模版,而且此装置可以有效提高光刻的效率以及达到高精度的光刻效果,做到批量生产。

    一种X射线曝光装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112859539A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110084626.5

    申请日:2021-01-21

    Abstract: 本发明涉及一种X射线曝光装置,包括套筒(1)和与套筒(1)连接的移动工作台(2),所述的套筒(1)内设置有掩模版(3)和光刻胶基板(4),套筒(1)上设有入光口(11),X射线通过入光口(11)进入套筒(1)内。与现有技术相比,本发明不仅可以有效保护了光刻掩模版,而且此装置可以有效提高光刻的效率以及达到高精度的光刻效果,做到批量生产。

    一种碳化硅晶须增强铜基复合材料的制备方法

    公开(公告)号:CN116926639A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310922721.7

    申请日:2023-08-22

    Abstract: 本发明公开了一种碳化硅晶须增强铜基复合材料的制备方法,包括如下步骤:将SiCw粉体加入电镀液中,搅拌,制备得到含SiCw的电镀液;将阴极极板、阳极极板插入含SiCw的电镀液中,搅拌下进行电沉积,在阴极极板上沉积得到碳化硅晶须增强铜基复合材料,其中阳极极板为电解铜阳极板。本发明制备过程大多在水溶液中进行,无需高温,避免了传统高温工艺中的剧烈界面反应,且电沉积过程中的液相体系持续搅拌使SiCw均匀分散,可有效地避免SiCw的二次团聚,保持SiCw在Cu基体中分布均匀,解决了复合材料孔隙率高的问题。本发明的碳化硅晶须增强铜基复合材料,SiCw在Cu基体中分布均匀、界面致密无孔,具有较好的力学性能。

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