公开(公告)号：CN110749814A

公开(公告)日：2020-02-04

申请号：CN201810822071.8

申请日：2018-07-24

Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司

Inventor： 赵世欣 ,  邱大伟 ,  陈斌 ,  王永卿 ,  刘磊

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种芯片IC样本自动化测试系统及方法，所述系统包括：控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息，本发明通过打通IP测试各环节硬件设备及仪表间的交互和通信，在环境准备到位后，仅需要通过简单操作，即可得到最终的测试结果，免去了中间环节的繁琐操作。

公开(公告)号：CN108055540A

公开(公告)日：2018-05-18

申请号：CN201711392099.4

申请日：2017-12-21

Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司

Inventor： 章旭东 ,  吴光华 ,  刘磊 ,  李源 ,  蒋尔松 ,  吴子辉

IPC: H04N19/176 ,  H04N19/172 ,  H04N19/13 ,  H04N19/124 ,  H04N19/61 ,  H04N19/625 ,  H04N19/147 ,  H04N19/186 ,  H04N19/70 ,  H04N19/91

Abstract: 本发明涉及一种近似熵率的低码率HEVC编码算法，包括如下步骤：获取待编码的当前图像形成当前编码帧；根据设定的块的大小对所述当前编码帧进行块划分形成多个编码块；提供参考帧，根据所述块的大小对所述参考帧进行逐块搜索，以获得与每一编码块相匹配的匹配块；利用所述编码块和与其相匹配的匹配块计算残差系数均值分量；以及采用零编码系数的方法，根据所述残差系数均值分量计算得到像素差分值。本发明采用零编码系数的方法，将残差系数均值分量量化后均视为零，无需进行繁复的系数码率估计，对于像素差分值(也即失真度)计算直接从时域进行准确估计，避免了频域计算在低码率调节下会暴露更多的图像主管质量上的缺陷。

公开(公告)号：CN108055540B

公开(公告)日：2019-12-13

申请号：CN201711392099.4

申请日：2017-12-21

Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司

Inventor： 章旭东 ,  吴光华 ,  刘磊 ,  李源 ,  蒋尔松 ,  吴子辉

IPC: H04N19/176 ,  H04N19/172 ,  H04N19/13 ,  H04N19/124 ,  H04N19/61 ,  H04N19/625 ,  H04N19/147 ,  H04N19/186 ,  H04N19/70 ,  H04N19/91

Abstract: 本发明涉及一种近似熵率的低码率HEVC编码算法，包括如下步骤：获取待编码的当前图像形成当前编码帧；根据设定的块的大小对所述当前编码帧进行块划分形成多个编码块；提供参考帧，根据所述块的大小对所述参考帧进行逐块搜索，以获得与每一编码块相匹配的匹配块；利用所述编码块和与其相匹配的匹配块计算残差系数均值分量；以及采用零编码系数的方法，根据所述残差系数均值分量计算得到像素差分值。本发明采用零编码系数的方法，将残差系数均值分量量化后均视为零，无需进行繁复的系数码率估计，对于像素差分值(也即失真度)计算直接从时域进行准确估计，避免了频域计算在低码率调节下会暴露更多的图像主管质量上的缺陷。