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公开(公告)号：CN110749814A
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201810822071.8
申请日：2018-07-24
Applicant: 上海富瀚微电子股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种芯片IC样本自动化测试系统及方法，所述系统包括：控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息，本发明通过打通IP测试各环节硬件设备及仪表间的交互和通信，在环境准备到位后，仅需要通过简单操作，即可得到最终的测试结果，免去了中间环节的繁琐操作。
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