公开(公告)号：CN102798816A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201110138342.6

申请日：2011-05-26

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 董艺 ,  周军 ,  刘剑海

IPC: G01R31/3183

Abstract: 一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，先清空阵列，然后初始化X方向地址，在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址，并计算出所要写入的数据，最后在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入得到的数据，遍历X方向地址并重复以上操作。本发明用于检测存储器内的译码电路是否正常，具有普遍性，不同的存储器都可以用该方法来生成用于检测译码电路的测试图形，还可使译码电路测试图形和其他的测试图形相互兼容，省去写入2种测试图形之间的阵列清空操作，节省测试成本。

公开(公告)号：CN102798816B

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201110138342.6

申请日：2011-05-26

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 董艺 ,  周军 ,  刘剑海

IPC: G11C29/00

Abstract: 一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，先清空阵列，然后初始化X方向地址，在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址，并计算出所要写入的数据，最后在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入得到的数据，遍历X方向地址并重复以上操作。本发明用于检测存储器内的译码电路是否正常，具有普遍性，不同的存储器都可以用该方法来生成用于检测译码电路的测试图形，还可使译码电路测试图形和其他的测试图形相互兼容，省去写入2种测试图形之间的阵列清空操作，节省测试成本。

公开(公告)号：CN220671579U

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202322147122.0

申请日：2023-08-09

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 薛英贤 ,  刘剑海 ,  黄潢

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种引流装置及测试装置，所述引流装置包括：主体部，开设有第一进气孔；输气管，连通所述第一进气孔，所述输气管具有至少一个第一出气孔，所述至少一个第一出气孔均匀地围绕至少一个目标区域设置。本公开方案通过设计引流装置实现气流的均匀分流并降低气体传输过程中的损耗，使得加装引流装置的测试装置内的气流能够更有针对性地、几乎无损耗地吹向承载于各目标区域的待测芯片，以提高芯片测试效率和测试效果。