半导体装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111725296B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202010186755.0

    申请日:2020-03-17

    Abstract: 目的是提供能够增大有效面积相对于芯片面积的比例,并且抑制层间绝缘膜的劣化的半导体装置。具有:层间绝缘膜,其设置于衬底之上;栅极焊盘,其设置于该层间绝缘膜之上;源极电极,其在俯视观察时与栅极焊盘的一部分相对;线状的源极配线,其在俯视观察时与该栅极焊盘的一部分相对而不与该源极电极相对,源极配线与该源极电极连接;以及栅极配线,其设置于该层间绝缘膜之上,与该栅极焊盘电连接,该衬底具有:第1导电型的漂移层;以及高杂质浓度区域,其设置于该栅极配线和该栅极焊盘的正下方,该高杂质浓度区域的第1导电型杂质的浓度比该漂移层的第1导电型杂质的浓度大,在俯视观察时,该源极配线和该栅极配线提供将该源极电极包围的1个框。

    半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111725296A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN202010186755.0

    申请日:2020-03-17

    Abstract: 目的是提供能够增大有效面积相对于芯片面积的比例,并且抑制层间绝缘膜的劣化的半导体装置。具有:层间绝缘膜,其设置于衬底之上;栅极焊盘,其设置于该层间绝缘膜之上;源极电极,其在俯视观察时与栅极焊盘的一部分相对;线状的源极配线,其在俯视观察时与该栅极焊盘的一部分相对而不与该源极电极相对,源极配线与该源极电极连接;以及栅极配线,其设置于该层间绝缘膜之上,与该栅极焊盘电连接,该衬底具有:第1导电型的漂移层;以及高杂质浓度区域,其设置于该栅极配线和该栅极焊盘的正下方,该高杂质浓度区域的第1导电型杂质的浓度比该漂移层的第1导电型杂质的浓度大,在俯视观察时,该源极配线和该栅极配线提供将该源极电极包围的1个框。

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