公开(公告)号：CN1217545A

公开(公告)日：1999-05-26

申请号：CN98115697.5

申请日：1998-07-10

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 樱井干夫 ,  谷田进 ,  中野全也 ,  月川靖彦 ,  吹上贵彦

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G01R31/31701

Abstract: 本发明的同步型半导体存储装置的复位信号发生电路,响应接通电源后立即产生的电源接通复位信号ZPOR及接通电源后为进行初始化而执行的初始化命令(例如,预充电命令),输出复位信号ZPOR1。方式置位设定电路内包含的测试方式寄存器,接受该复位信号ZPOR1作为复位信号。因此,使所输出的测试方式信号变为NOP状态、或使测试方式信号的输出停止。

公开(公告)号：CN1107958C

公开(公告)日：2003-05-07

申请号：CN98115697.5

申请日：1998-07-10

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 樱井干夫 ,  谷田进 ,  中野全也 ,  月川靖彦 ,  吹上贵彦

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G01R31/31701

Abstract: 本发明的同步型半导体存储装置的复位信号发生电路，响应接通电源后立即产生的电源接通复位信号ZPOR及接通电源后为进行初始化而执行的初始化命令(例如，预充电命令)，输出复位信号ZPOR1。方式置位设定电路内包含的测试方式寄存器，接受该复位信号ZPOR1作为复位信号。因此，使所输出的测试方式信号变为NOP状态、或使测试方式信号的输出停止。