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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100557475C
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200610087116.9
申请日：2006-06-09
Applicant: 三星电机株式会社
Abstract: 一种用于测量衍射光调制器的镜的位置并执行位置补偿的设备，以及一种控制该设备的方法。位置测量单元测量所述衍射光调制器的镜的位置。控制单元通过估算由所述位置测量单元计算的位置值从参考位置计算位移值，计算补偿值并输出补偿控制信号。补偿和激励单元响应于所述补偿控制信号执行对驱动电压的补偿，并使用所补偿的驱动电压激励所述衍射光调制器的镜。
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公开(公告)号：CN1877389A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200610087116.9
申请日：2006-06-09
Applicant: 三星电机株式会社
Abstract: 一种用于测量衍射光调制器的镜的位置并执行位置补偿的设备，以及一种控制该设备的方法。位置测量单元测量所述衍射光调制器的镜的位置。控制单元通过估算由所述位置测量单元计算的位置值从参考位置计算位移值，计算补偿值并输出补偿控制信号。补偿和激励单元响应于所述补偿控制信号执行对驱动电压的补偿，并使用所补偿的驱动电压激励所述衍射光调制器的镜。
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公开(公告)号：CN1447093A
公开(公告)日：2003-10-08
申请号：CN03101007.5
申请日：2003-01-06
Applicant: 三星电机株式会社
CPC classification number: B81C1/00301 , B81B2201/025 , B81B2207/095 , B81C2201/019 , B81C2203/0118 , B81C2203/038 , G01C19/5783 , G01P1/023 , G01P15/0802 , G01P15/125 , G01P2015/0814 , G01P2015/0828 , Y10T428/24322
Abstract: 本发明将提供以如下内容为特征的微惯性传感器，它包括：下玻璃基片；包括上述下玻璃基片上用来检测第一边缘和第一固定点以及侧面运动检测结构物在内的下硅层；包括分别对应于上述下硅层的第一边缘部、第一固定点及侧面运动检测结构物的第二边缘部、经内设金属线的通孔接合的第二固定点以及上述侧面运动检测结构物之间用来检测垂直方向电容量的第二检测用电极在内的上硅层；在上述上硅层和下硅层之间共熔的接合层；位于上述上硅层上部，并具有设置金属配线的通孔的上玻璃基片。此外，在本发明中提供了微惯性传感器制造方法，本发明的目的在于实现产品的小型化和工艺的简化上。
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公开(公告)号：CN102141856A
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN201010608311.8
申请日：2010-12-21
Applicant: 三星电机株式会社
IPC: G06F3/041
CPC classification number: G06F3/041
Abstract: 此处公开了一种触摸屏装置(100a)，包括：触摸屏(110)，在包含上下方向的二维上或者在三维上驱动触摸屏(110)的致动器(120a，120b，120c)。触摸屏装置(110a)可在垂直于触摸屏的上下方向上被驱动，从而能够向用户传送诸如点击感测、拨号感测和表面纹理感测的实际触摸感测。
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公开(公告)号：CN101216602A
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN200710195463.8
申请日：2006-06-09
Applicant: 三星电机株式会社
IPC: G02B26/08
Abstract: 一种用于测量衍射光调制器的镜的位置并执行补偿或校准的设备，包括：光源，用于产生光并发射光；衍射光调制器，用于当驱动信号输入时通过调制从光源入射的光来产生衍射光；驱动装置，用于将驱动信号输出到衍射光调制器；光量检测装置，用于测量由衍射光调制器发射的衍射光的量；以及校正数据计算装置，用于当测试者基于从光量检测装置输出的衍射光的量来设定参考电压范围时，使用由光量检测装置获得的衍射光的量来计算基于像素的校正数据。
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