-
公开(公告)号:CN101859017A
公开(公告)日:2010-10-13
申请号:CN201010157589.8
申请日:2010-04-01
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G02B3/04 , G11B7/1374 , G11B7/13922
摘要: 本发明提供一种用于光盘的物镜,该物镜可以包括非球面透镜表面,而用于形成该非球面透镜表面的非球面公式可以包括两个2次函数项。从而,提供了具有高数值孔径(NA)且也具有小的透镜表面弯曲或像差的透镜。
-
公开(公告)号:CN1815196A
公开(公告)日:2006-08-09
申请号:CN200610005877.5
申请日:2006-01-19
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0256 , G01J3/4406 , G01J2003/1213 , G01N21/05 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N2021/0346 , G01N2021/3174 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/0221 , G01N2201/0407 , G01N2201/0461 , G01N2201/0612 , G01N2201/0627 , G01N2201/0631 , G01N2201/0806 , G01N2201/0833
摘要: 提供一种多通道荧光测量光学系统及使用该光学系统的多通道荧光样本分析仪。将光照射在多个样本通道并就年样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统,包括:光源;用于使光源发出的光具有均匀强度分布的积分器;具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架,其中利用从积分器发出的光来激励所述样本;以及置于所述积分器和样本架之间用于以预定比例分开入射光的分束器。由于利用光纤束和光电二极管能够检测荧光的光强,故可以大幅度缩减制造成本并微型化光学系统。
-
公开(公告)号:CN117437965A
公开(公告)日:2024-01-23
申请号:CN202310301818.6
申请日:2023-03-24
申请人: 三星电子株式会社
摘要: 公开了一种操作与非易失性存储器设备通信的存储控制器的方法。该方法包括向非易失性存储器设备提供读取命令,从非易失性存储器设备接收与读取命令相对应的第一读取数据和第一分布信息,确定第一读取数据的错误是否可纠正,以及响应于确定第一读取数据的错误可纠正,基于第一分布信息更新存储控制器中的历史表的偏移信息。
-
公开(公告)号:CN1637407B
公开(公告)日:2010-05-12
申请号:CN200410078652.3
申请日:2004-09-14
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01N21/645 , G01N2021/6482
摘要: 本发明涉及一种超小型荧光检测仪,能够实时检测具有预定体积并位于一种微流体芯片上的微室中进行的反应。所述荧光检测仪用于实时检测微流体芯片中进行的PCR扩增,所述微流体芯片具有容积预定的微室;所述荧光检测仪包括产生激发光束的光源,能够将具有预定光点直径的激发光束照到所述微室的第一光学系统,第一检测仪,和第二光学系统,它将来自所述微室中具有预定光点直径的激发光束的荧光束反射到所述第一检测仪。相应地,所述荧光检测仪设计为使光源发射的光线聚焦在所述第一反光镜和物镜之间。因此,物镜传送的激发光束形成的光点直径较大,使得所述激发光束可照射在所述微流体芯片的整个微室上,由此在更大的面积内检测荧光束。
-
公开(公告)号:CN1637407A
公开(公告)日:2005-07-13
申请号:CN200410078652.3
申请日:2004-09-14
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01N21/645 , G01N2021/6482
摘要: 本发明涉及一种超小型荧光检测仪,能够实时检测具有预定体积并位于一种微流体芯片上的微室中进行的反应。所述荧光检测仪用于实时检测微流体芯片中进行的PCR扩增,所述微流体芯片具有容积预定的微室;所述荧光检测仪包括产生激发光束的光源,能够将具有预定光点直径的激发光束照到所述微室的第一光学系统,第一检测仪,和第二光学系统,它将来自所述微室中具有预定光点直径的激发光束的荧光束反射到所述第一检测仪。相应地,所述荧光检测仪设计为使光源发射的光线聚焦在所述第一反光镜和物镜之间。因此,物镜传送的激发光束形成的光点直径较大,使得所述激发光束可照射在所述微流体芯片的整个微室上,由此在更大的面积内检测荧光束。
-
公开(公告)号:CN1815196B
公开(公告)日:2011-10-12
申请号:CN200610005877.5
申请日:2006-01-19
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0256 , G01J3/4406 , G01J2003/1213 , G01N21/05 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N2021/0346 , G01N2021/3174 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/0221 , G01N2201/0407 , G01N2201/0461 , G01N2201/0612 , G01N2201/0627 , G01N2201/0631 , G01N2201/0806 , G01N2201/0833
摘要: 提供一种多通道荧光测量光学系统及使用该光学系统的多通道荧光样本分析仪。将光照射在多个样本通道并就年样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统,包括:光源;用于使光源发出的光具有均匀强度分布的积分器;具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架,其中利用从积分器发出的光来激励所述样本;以及置于所述积分器和样本架之间用于以预定比例分开入射光的分束器。由于利用光纤束和光电二极管能够检测荧光的光强,故可以大幅度缩减制造成本并微型化光学系统。
-
-
-
-
-