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公开(公告)号:CN109817702B
公开(公告)日:2024-08-13
申请号:CN201811214332.4
申请日:2018-10-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/10 , H01L29/08 , H01L29/423 , H01L29/78 , H01L27/088
Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括基底和从基底突出的多个半导体鳍。源区/漏区设置在半导体鳍中的相应的半导体鳍的顶部处,均具有比半导体鳍中的单独的半导体鳍的宽度大的宽度。栅电极设置在半导体鳍的侧表面上并且位于源区/漏区下。绝缘层接触半导体鳍的侧表面并且覆盖栅电极的上表面。
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公开(公告)号:CN109817702A
公开(公告)日:2019-05-28
申请号:CN201811214332.4
申请日:2018-10-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/10 , H01L29/08 , H01L29/423 , H01L29/78 , H01L27/088
Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括基底和从基底突出的多个半导体鳍。源区/漏区设置在半导体鳍中的相应的半导体鳍的顶部处,均具有比半导体鳍中的单独的半导体鳍的宽度大的宽度。栅电极设置在半导体鳍的侧表面上并且位于源区/漏区下。绝缘层接触半导体鳍的侧表面并且覆盖栅电极的上表面。
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公开(公告)号:CN109411536B
公开(公告)日:2023-11-07
申请号:CN201810891561.3
申请日:2018-08-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L29/10 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供一种半导体装置,包含从衬底突出的有源图案及围绕有源图案的下部部分的绝缘结构。绝缘结构包含与衬底的顶部表面及有源图案的侧壁共形的绝缘层以及在绝缘层上的掩埋绝缘图案。本发明的半导体装置具有增强的可靠性。
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公开(公告)号:CN109411536A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201810891561.3
申请日:2018-08-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/423 , H01L29/10 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供一种半导体装置,包含从衬底突出的有源图案及围绕有源图案的下部部分的绝缘结构。绝缘结构包含与衬底的顶部表面及有源图案的侧壁共形的绝缘层以及在绝缘层上的掩埋绝缘图案。本发明的半导体装置具有增强的可靠性。
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