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公开(公告)号:CN101236931A
公开(公告)日:2008-08-06
申请号:CN200810008637.X
申请日:2008-02-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/8247 , H01L21/336 , H01L21/311
CPC classification number: H01L21/28282 , H01L29/4234 , H01L29/513 , H01L29/792
Abstract: 提出了非易失性存储装置的制造方法,包括在具有沟道区的衬底上顺序地形成隧道绝缘层、电荷俘获层、阻挡层和导电层。对导电层进行构图以形成字线结构,以及使用酸的水溶液作为刻蚀溶液对阻挡层和电荷俘获层进行刻蚀,以形成阻挡层图案和电荷俘获层图案。
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公开(公告)号:CN110828419B
公开(公告)日:2025-03-18
申请号:CN201910387172.1
申请日:2019-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/535 , H01L23/538 , H01L21/768
Abstract: 提供了集成电路(IC)器件。IC器件包括衬底,衬底包括有源区。IC器件包括衬底上的位线。IC器件包括连接在有源区与位线之间的直接接触部。IC器件包括衬底上的接触插塞。此外,IC器件包括在接触插塞和直接接触部之间的含硼绝缘图案。
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公开(公告)号:CN110828419A
公开(公告)日:2020-02-21
申请号:CN201910387172.1
申请日:2019-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/535 , H01L23/538 , H01L21/768
Abstract: 提供了集成电路(IC)器件。IC器件包括衬底,衬底包括有源区。IC器件包括衬底上的位线。IC器件包括连接在有源区与位线之间的直接接触部。IC器件包括衬底上的接触插塞。此外,IC器件包括在接触插塞和直接接触部之间的含硼绝缘图案。
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