公开(公告)号：CN110176270B

公开(公告)日：2023-11-03

申请号：CN201910035368.4

申请日：2019-01-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 边喜冲 ,  李妍和 ,  李承勋

IPC: G11C29/00 ,  G11C29/42

Abstract: 一种存储器装置包括：多个存储器芯片，其响应于控制命令和地址命令存储和输出数据；至少一个错误检查和校正(ECC)存储器芯片，其对所述多个存储器芯片存储和输出的数据提供ECC功能；以及控制器，其将所述多个存储器芯片中的其中检测到有缺陷的存储器单元的存储器芯片标记为有缺陷的存储器芯片，被构造为将有缺陷的存储器芯片的数据存储在ECC存储器芯片中，并且被构造为控制有缺陷的存储器芯片执行后封装修复(PPR)。

公开(公告)号：CN110389721B

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN201910166951.9

申请日：2019-03-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金珉修 ,  姜志锡 ,  金敏秀 ,  金昞直 ,  申院济 ,  李东勋 ,  李妍和 ,  李浩荣 ,  张有镇 ,  崔仁寿

IPC: G06F3/06

Abstract: 公开了半导体存储器模块和包括其的存储器系统。所述半导体存储器模块可包括随机存取存储器、非易失性存储器、缓冲存储器以及控制器，其中，控制器被配置为：响应于控制信号的激活，对缓冲存储器执行读取操作。控制器还可被配置为：根据读取操作的结果，执行将存储在随机存取存储器中的第一数据存储在非易失性存储器中的刷入操作。

公开(公告)号：CN119068932A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202410658913.6

申请日：2024-05-27

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴基硕 ,  金度翰 ,  裵敏秀 ,  裵昶贤 ,  孙永训 ,  柳慧承 ,  李妍和 ,  林大铉 ,  崔仁寿 ,  韩基德

IPC: G11C7/22 ,  G11C11/407 ,  G06F13/16

Abstract: 提供了一种训练存储器设备的方法。在第一至第三DCA训练步骤中，基于数据信号的眼窗口大小来计算第一至第三DCA码组合中的每一个的得分，并且响应于得分之间发生的平局，基于数据信号的偶数眼窗口最小值和奇数眼窗口最小值之和来选择DCA码组合。

公开(公告)号：CN110389721A

公开(公告)日：2019-10-29

申请号：CN201910166951.9

申请日：2019-03-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金珉修 ,  姜志锡 ,  金敏秀 ,  金昞直 ,  申院济 ,  李东勋 ,  李妍和 ,  李浩荣 ,  张有镇 ,  崔仁寿

IPC: G06F3/06

Abstract: 公开了半导体存储器模块和包括其的存储器系统。所述半导体存储器模块可包括随机存取存储器、非易失性存储器、缓冲存储器以及控制器，其中，控制器被配置为：响应于控制信号的激活，对缓冲存储器执行读取操作。控制器还可被配置为：根据读取操作的结果，执行将存储在随机存取存储器中的第一数据存储在非易失性存储器中的刷入操作。

公开(公告)号：CN110176270A

公开(公告)日：2019-08-27

申请号：CN201910035368.4

申请日：2019-01-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 边喜冲 ,  李妍和 ,  李承勋

IPC: G11C29/00 ,  G11C29/42

Abstract: 一种存储器装置包括：多个存储器芯片，其响应于控制命令和地址命令存储和输出数据；至少一个错误检查和校正(ECC)存储器芯片，其对所述多个存储器芯片存储和输出的数据提供ECC功能；以及控制器，其将所述多个存储器芯片中的其中检测到有缺陷的存储器单元的存储器芯片标记为有缺陷的存储器芯片，被构造为将有缺陷的存储器芯片的数据存储在ECC存储器芯片中，并且被构造为控制有缺陷的存储器芯片执行后封装修复(PPR)。