半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110416210A

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201910206680.5

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底;栅极结构,位于基底上;第一蚀刻停止层、第二蚀刻停止层和层间绝缘层,堆叠在栅极结构上;以及接触插塞,穿透层间绝缘层、第二蚀刻停止层和第一蚀刻停止层并且接触栅极结构的侧壁。接触插塞包括具有第一宽度的下部和具有第二宽度的上部。接触插塞的下表面具有台阶形状。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110416210B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN201910206680.5

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底;栅极结构,位于基底上;第一蚀刻停止层、第二蚀刻停止层和层间绝缘层,堆叠在栅极结构上;以及接触插塞,穿透层间绝缘层、第二蚀刻停止层和第一蚀刻停止层并且接触栅极结构的侧壁。接触插塞包括具有第一宽度的下部和具有第二宽度的上部。接触插塞的下表面具有台阶形状。

    集成电路器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110880503A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201910634952.1

    申请日:2019-07-15

    Abstract: 提供了一种集成电路器件,所述集成电路器件包括:在衬底上沿第一方向延伸的鳍型有源区;与鳍型有源区交叉并且在衬底上沿垂直于第一方向的第二方向延伸的栅极结构;以及设置在栅极结构上的第一接触结构,第一接触结构的顶表面的宽度大于第一接触结构的底表面的宽度。

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