半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110752212B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN201910374990.8

    申请日:2019-05-07

    Abstract: 半导体器件包括:栅极,在衬底上沿第一方向延伸,所述栅极中的每个栅极包括栅极绝缘层、栅电极和第一间隔物;第一接触插塞,在所述栅极中的相邻栅极之间与衬底接触,第一接触插塞与所述栅极中的相应栅极的侧壁间隔开;第二接触插塞,与相应栅电极的上表面相接触,第二接触插塞在所述第一接触插塞之间;以及绝缘间隔物,在第二接触插塞和相邻的第一接触插塞之间的间隙中,绝缘间隔物接触第二接触插塞和相邻的第一接触插塞的侧壁,并且第二接触插塞和相邻的第一接触插塞的上表面基本上彼此共面。

    半导体器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110752212A

    公开(公告)日:2020-02-04

    申请号:CN201910374990.8

    申请日:2019-05-07

    Abstract: 半导体器件包括:栅极,在衬底上沿第一方向延伸,所述栅极中的每个栅极包括栅极绝缘层、栅电极和第一间隔物;第一接触插塞,在所述栅极中的相邻栅极之间与衬底接触,第一接触插塞与所述栅极中的相应栅极的侧壁间隔开;第二接触插塞,与相应栅电极的上表面相接触,第二接触插塞在所述第一接触插塞之间;以及绝缘间隔物,在第二接触插塞和相邻的第一接触插塞之间的间隙中,绝缘间隔物接触第二接触插塞和相邻的第一接触插塞的侧壁,并且第二接触插塞和相邻的第一接触插塞的上表面基本上彼此共面。

    半导体器件
    5.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN110085586A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910067000.6

    申请日:2019-01-24

    Abstract: 一种半导体器件包括:在半导体基板上的金属图案;覆盖金属图案的蚀刻停止层,该蚀刻停止层包括顺序堆叠的第一绝缘层、第二绝缘层和第三绝缘层;在蚀刻停止层上的层间电介质层;和穿透层间电介质层和蚀刻停止层的接触插塞,该接触插塞连接到金属图案,其中第一绝缘层包括包含金属性元素和氮的第一绝缘材料,其中第二绝缘层包括含碳的第二绝缘材料,以及其中第三绝缘层包括不含金属性元素和碳的第三绝缘材料。

Patent Agency Ranking