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公开(公告)号:CN102354519B
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201110219876.1
申请日:2011-05-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C5/00 , H01L23/495
CPC classification number: H01L23/481 , G11C5/06 , G11C8/18 , H01L22/32 , H01L24/05 , H01L24/16 , H01L24/17 , H01L24/73 , H01L24/94 , H01L25/0657 , H01L25/50 , H01L2224/0401 , H01L2224/05009 , H01L2224/0557 , H01L2224/05572 , H01L2224/16145 , H01L2224/16146 , H01L2224/17051 , H01L2224/17515 , H01L2224/73204 , H01L2224/94 , H01L2225/06513 , H01L2225/06544 , H01L2225/06596 , H01L2924/00014 , H01L2924/0002 , H01L2924/01006 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01055 , H01L2924/014 , H01L2924/10329 , H01L2924/12042 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2224/05552 , H01L2924/00
Abstract: 一种三维(3D)半导体器件包括芯片的层叠,该芯片包括一个主芯片与一个或多个从芯片。从芯片的I/O连接部不需连接到母板上的通路,仅主芯片的电极焊盘可连接到所述通路。仅该主芯片可提供负载到所述通路。硅贯通孔(TSV)界面可配置在半导体器件的数据输入路径、数据输出路径、地址/命令路径、以及时钟路径上,其中在该半导体器件中相同类型的半导体芯片相层叠。
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公开(公告)号:CN102354519A
公开(公告)日:2012-02-15
申请号:CN201110219876.1
申请日:2011-05-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C5/00 , H01L23/495
CPC classification number: H01L23/481 , G11C5/06 , G11C8/18 , H01L22/32 , H01L24/05 , H01L24/16 , H01L24/17 , H01L24/73 , H01L24/94 , H01L25/0657 , H01L25/50 , H01L2224/0401 , H01L2224/05009 , H01L2224/0557 , H01L2224/05572 , H01L2224/16145 , H01L2224/16146 , H01L2224/17051 , H01L2224/17515 , H01L2224/73204 , H01L2224/94 , H01L2225/06513 , H01L2225/06544 , H01L2225/06596 , H01L2924/00014 , H01L2924/0002 , H01L2924/01006 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01055 , H01L2924/014 , H01L2924/10329 , H01L2924/12042 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2224/05552 , H01L2924/00
Abstract: 一种三维(3D)半导体器件包括芯片的层叠,该芯片包括一个主芯片与一个或多个从芯片。从芯片的I/O连接部不需连接到母板上的通路,仅主芯片的电极焊盘可连接到所述通路。仅该主芯片可提供负载到所述通路。硅贯通孔(TSV)界面可配置在半导体器件的数据输入路径、数据输出路径、地址/命令路径、以及时钟路径上,其中在该半导体器件中相同类型的半导体芯片相层叠。
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