公开(公告)号：CN1822208B

公开(公告)日：2010-05-05

申请号：CN200510129467.7

申请日：2005-12-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴基元 ,  黄泓善 ,  金成律

IPC: G11C7/00 ,  G11C29/00 ,  H01L27/105

CPC classification number: G11C7/18 ,  G11C29/12005 ,  G11C29/24 ,  G11C2029/1204

Abstract: 本发明提供了一种具有开放位线结构的全强度可测试存储器设备以及一种测试该存储器设备的方法。本发明的存储器设备包括虚位线以及连接到该虚位线的电压控制器。该电压控制器在测试模式期间交替地将第一可变控制电压和第二可变控制电压提供所述虚位线。根据测试该存储器设备的方法，在正常操作模式期间将固定电压提供到边缘子阵列的虚位线上。但是，在测试模式期间，利用电源电压和/或地电压来替换正施加到虚位线上的固定电压，从而可以平等地测试所有子阵列。

公开(公告)号：CN1822208A

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN200510129467.7

申请日：2005-12-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴基元 ,  黄泓善 ,  金成律

IPC: G11C7/00 ,  G11C29/00 ,  H01L27/105

CPC classification number: G11C7/18 ,  G11C29/12005 ,  G11C29/24 ,  G11C2029/1204

Abstract: 本发明提供了一种具有开放位线结构的全强度可测试存储器设备以及一种测试该存储器设备的方法。本发明的存储器设备包括虚位线以及连接到该虚位线的电压控制器。该电压控制器在测试模式期间交替地将第一可变控制电压和第二可变控制电压提供所述虚位线。根据测试该存储器设备的方法，在正常操作模式期间将固定电压提供到边缘子阵列的虚位线上。但是，在测试模式期间，利用电源电压和/或地电压来替换正施加到虚位线上的固定电压，从而可以平等地测试所有子阵列。