一种锁定检测电路、锁相环和射频收发电路

    公开(公告)号:CN120049881A

    公开(公告)日:2025-05-27

    申请号:CN202510104455.6

    申请日:2025-01-22

    Abstract: 本公开实施例提供了一种锁定检测电路、锁相环和射频收发电路,该锁定检测电路包括:信号生成电路,用于接收第一信号和第二信号,对第一信号和第二信号进行第一逻辑处理得到第三信号,并对第三信号进行延迟处理,得到触发信号;以及对第一信号和第二信号进行第二逻辑处理,得到采样时钟信号;信号采样电路,用于接收触发信号和采样时钟信号,根据采样时钟信号对触发信号进行采样处理,得到复位信号;计数电路,用于接收复位信号和参考时钟信号,在复位信号处于非使能状态的情况下,对参考时钟信号进行计数处理且当计数值等于预设值时,得到处于使能状态的检测信号。本公开能够提高锁定检测电路的判别准确性。

    一种多路数据合成装置、方法及芯片

    公开(公告)号:CN119363119A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411357825.9

    申请日:2024-09-26

    Inventor: 黄浩键 付玉信

    Abstract: 本申请公开了一种多路数据合成装置、方法及芯片,包括依次连接的合成电路,每层合成电路包括两路选择器及第一采样电路;两路选择器用于接收两路由对应的输入电路输入的输入信号,其中,第一层合成电路中的两路选择器对应的输入电路为数字模块,其他为上一层合成电路的第一采样电路;按照2n的采样频率轮流从两路输入信号中进行采样,得到采样信号,n为输入信号的信号频率;将采样信号发送至所连接的第一采样电路;第一采样电路用于对采样信号进行数据对齐,得到输出信号;将输出信号发送至对应的输出电路,其中,最后一层合成电路中的第一采样电路对应的输出电路为数模转换器,其他为下一层合成电路的任一两路选择器,以实现高速的数模转换。

    循环冗余校验计算方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN114448565B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202111656676.2

    申请日:2021-12-30

    Inventor: 戴延中

    Abstract: 本申请实施例提供了一种循环冗余校验CRC计算方法、装置、电子设备及存储介质,涉及数据传输技术领域。该方法包括:获取至少两个数据包;确定所述至少两个数据包中的静态数据和动态数据;根据第一CRC值对各数据包中的动态数据进行CRC计算,获得第二CRC值,并将所述第二CRC值作为所述各数据包的目标CRC计算结果;其中,所述第一CRC值是预先根据预设的初始值对所述静态数据进行CRC计算得到的。本申请实施例节省了每个数据包的CRC计算时间,提高了CRC计算的效率。

    一种发光二极管驱动电路和显示装置

    公开(公告)号:CN115831067B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202211642695.4

    申请日:2022-12-20

    Inventor: 邢向明 张学海

    Abstract: 本公开提供一种发光二极管驱动电路和显示装置,属于显示驱动技术领域,其中,发光二极管驱动电路具有两种工作模式,分别为电流调节模式和电阻调节模式;其中,所述发光二极管驱动电路包括:基准电流模块、电阻调节子电路、第一运算放大器、第一镜像子电路、第一反馈控制环路和第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块;其中,所述第一运算放大器的同相输入端被配置接收参考电源电压,反相输入端电连接所述电阻调节子电路。

    数据传输方法、数据传输装置以及电子装置

    公开(公告)号:CN113840272B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202111186911.4

    申请日:2021-10-12

    Inventor: 陶冬

    Abstract: 本公开提供一种数据传输方法、数据传输装置以及电子装置。在该数据传输方法中,从数据发送设备接收的数据先缓存在第一存储器中,之后被存储到第二存储器。该数据传输方法包括:获取第二存储器的空闲容量状态;响应于第二存储器的空闲容量状态小于第一阈值,发送第一通知到数据发送设备,通知数据发送设备以第二传输速率进行数据传输,其中,第二传输速率低于当前使用的第一传输速率。该数据传输方法根据通信设备的运行情况调整数据传输速率,提高无线网络数据传输的稳定性。

    插值滤波电路、插值滤波器、控制方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN113346872B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202110673912.5

    申请日:2021-06-17

    Abstract: 本申请实施例提供了一种插值滤波电路、插值滤波器、控制方法、装置及存储介质。该插值滤波电路,包括:数据预处理单元,用于根据指定的通信协议对应的插值处理模式,对原始数据进行插值处理,得到预处理数据;数据滤波单元,与数据预处理单元电连接,用于根据与插值处理模式相对应的滤波阶数,对预处理数据进行滤波,得到与通信协议对应的第一待发射信号。本申请实施例能够根据不同的通信协议进行插值处理和滤波处理,从而达到不同的滤波效果,实现了多种协议模式下对于带外的最优抑制,同时优化了资源消耗和功耗,降低了设备成本。

    一种压控振荡器及温漂补偿方法

    公开(公告)号:CN111181489B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202010068751.2

    申请日:2020-01-21

    Inventor: 张任伟 荣苏江

    Abstract: 本发明实施例公开了一种压控振荡器和温漂补偿方法,压控振荡器包括:温漂偏压产生电路、电感线圈、电容阵列和负阻管;电容阵列包括:并联的开关电容阵列和可变电容阵列;电感线圈连接负阻管和电容阵列;温漂偏压产生电路与电感线圈、开关电容阵列和可变电容阵列中的至少两个连接;温漂偏压产生电路用于为负阻管、开关电容阵列和可变电容阵列中的至少两个的偏压节点提供偏置电压,通过偏置电压调节电容值,调节输出频率,补偿温度对输出频率的影响;电感线圈的偏压节点在电感线圈之间的公共端;开关电容阵列的偏压节点在开关电容阵列的每级开关电容单元的晶体管的栅极的公共端,可变电容阵列的偏压节点在可变电容阵列的隔离电阻的公共端。

    音量控制电路、音量控制方法、相关装置和介质

    公开(公告)号:CN117202018A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311170987.7

    申请日:2023-09-12

    Inventor: 朱可 陈阳 和王峰

    Abstract: 本公开提供了一种音量控制电路、音量控制方法、相关装置和介质,该音量控制电路包括:数字增益控制模块,用于基于更新的增益调整值对音频信号的PCM信号的幅值的增益进行更新,利用更新的增益对音频信号的PCM信号的幅值进行增益补偿以实现对音频信号的音量进行控制,输出增益补偿后的音频信号的PCM信号,其中增益调整值用于对音频信号的PCM信号的幅值的增益进行调整;增益调整值控制模块,用于将增益补偿后的音频信号的PCM信号的平均功率值和峰值与多个预设阈值进行比较,根据比较结果,对增益调整值进行更新。本公开增加了音频信号的声音稳定性,降低了音频信号的失真度,提高了音频信号的播放质量。

    一种PWM实现方法、电路和芯片
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117200768A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311177798.2

    申请日:2023-09-12

    Abstract: 本申请实施例提供了一种PWM实现方法、电路和芯片,该方法包括:接收时钟信号;确认选择的对齐模式;根据时钟信号产生计数值;计数值在预设的变化范围内变化;根据预设的脉冲宽度调制PWM参数配置值生成比较参数;比较参数在预设的累计范围内根据预设的累计方向进行变化;累计方向用于指示比较参数进行累计增加或累计减少;基于所选择的对齐模式对计数值和比较参数进行对齐,将对齐后的计数值和比较参数相比较,根据计数值和比较参数的比较结果输出第一电压或第二电压,由输出的第一电压和第二电压形成PWM波形。根据本申请的实施例能够获得具有多种占空比变化的PWM波形,为负载的多功能控制和参数化控制提供了技术基础。

    芯片测试分析电路及芯片
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116609639A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310613715.3

    申请日:2023-05-26

    Inventor: 张学海

    Abstract: 本公开提供一种芯片测试分析电路,包括:地址译码电路,用于产生第一测试选择信号,以及用于产生第二测试选择信号;输出测试电路,用于根据第一测试选择信号,从多个待输出测试信号中选择对应的待输出测试信号,将选择的待输出测试信号输出至测试节点进行输出信号测试分析;输入测试电路,用于根据第二测试选择信号,从多个输入测试通道中选择与第二测试选择信号对应的输入测试通道,以通过选择的输入测试通道将待输入测试信号输入至待测试芯片内部相应的电路进行内部电路测试分析;测试方向选择电路,用于产生测试方式选择信号,测试方式选择信号用于控制输出测试电路与测试节点之间连通或断开,以及控制输入测试电路与测试节点之间断开或连通。

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