烧结薄膜框架和相关方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119585862A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202380050606.3

    申请日:2023-12-15

    Inventor: 李达泳 严浩 冯坤

    Abstract: 烧结薄膜框架(68)的具体实施可包括:框架,该框架包括外周边(78)和内周边(76),该内周边(76)限定穿过该框架的开口(74);位置检测开口(80),该位置检测开口穿过该框架;至少两个对准孔(82),该至少两个对准孔穿过该框架;和框架标识符(86),该框架标识符位于该框架的侧面上。

    用于对金属线供电的结构和方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119547207A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202480003408.6

    申请日:2024-05-08

    Inventor: 黑濑英司

    Abstract: 一种半导体器件部件包括:接触垫(12),该接触垫设置在半导体衬底(10)的表面上;种子金属层(14),该种子金属层设置在该接触垫上;和互连件,该互连件设置在该种子金属层上。该种子金属层具有比该互连件的宽度大的宽度,其中该种子金属层的脚部部分(14F)延伸到该互连件的该宽度之外。该半导体器件部件还包括抗蚀刻保护结构(18),该抗蚀刻保护结构设置在该互连件的表面以及该种子金属层的延伸到该互连件的该宽度之外的该脚部部分的表面上。

    电子器件及其形成方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111162119B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN201910990771.2

    申请日:2019-10-18

    Abstract: 本发明题为“电子器件及其形成方法”。本发明公开了一种电子器件,该电子器件可包括半导体层以及与该层形成欧姆接触的接触结构。在一个实施方案中,半导体层可包含III‑N材料,并且接触结构包括第一相和第二相,其中第一相包含Al,第二相包含金属,并且第一相接触半导体层。在另一个实施方案中,半导体层可为具有沿着晶面的表面的单晶层。接触结构可包含多晶材料,该多晶材料包含具有与单晶层的表面接触的表面的晶体,其中单晶层的表面与晶体的表面之间的晶格失配为至多20%。

    具有模制通孔和双侧压接插针的功率模块封装

    公开(公告)号:CN119422232A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202380048179.5

    申请日:2023-10-16

    Abstract: 一种模块,包括半导体器件管芯(110)、连接到该半导体器件管芯的引线框架(120,130)、以及连接到该引线框架的衬底(112)的组件。该衬底包括至少一个电镀通孔(PTH)(162)。模体(150)封装该组件。该模体包括与该衬底的包括该至少一个PTH的部分对准的模制过孔(TMV)(160)。该PTH在该TMV中暴露于该模体外部的环境中,并且通过该TMV从该模体外部能够进行物理接触。

    用于感应式位置传感器的转子
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119309481A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202410479722.3

    申请日:2024-04-22

    Inventor: J·J·伯廷

    Abstract: 本公开涉及用于感应式位置传感器的转子。实施例公开了一种感应式位置传感器子系统。感应式位置传感器包括:精密转子,该精密转子位于第一印刷电路板上;和金属粗略转子,该金属粗略转子包括金属支撑件,第一印刷电路板耦接到该金属支撑件。感应式位置传感器还包括精密传感器接收器和粗略传感器接收器,精密传感器接收器和粗略传感器接收器基于精密转子和金属粗略转子的旋转生成相应的多个传感器信号。精密传感器接收器和粗略传感器接收器位于与第一印刷电路板分离的第二印刷电路板上。

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