一种利用PEALD在硅衬底上生长石墨烯的方法

    公开(公告)号:CN110323127A

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201910482155.6

    申请日:2019-06-04

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种利用PEALD在硅衬底上生长石墨烯的方法,将干净硅衬底置于反应室中进行PEALD循环,每个循环包括步骤:(1)进行碳源或辅助源吸附;所述碳源选自苯系物、甲烷中的至少一种;所述辅助源为含氧有机物;(2)清洗吸附后的硅衬底,进行等离子体脉冲;(3)清洗等离子体脉冲后的硅衬底。本发明可在硅衬底上大面积生长石墨烯,与目前硅基半导体技术良好的相容性。本发明通过使用含氧小分子促进生长,一方面作为小分子碳弥补了空位型缺陷,减小了反应后的缺陷峰D峰,另一方面氧元素的参与促进了生长过程中苯的脱氢过程,减少了成膜后的皱褶大小,提高硅衬底上原子层沉积生长大面积生长石墨烯的质量。

    一种氧化硅-硅界面态密度和俘获界面的测试方法

    公开(公告)号:CN109116209A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810857480.1

    申请日:2018-07-31

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种氧化硅-硅界面态密度和俘获界面的测试方法,包括以下步骤:(1)在硅片表面单面生长氧化硅薄膜,然后在氧化硅薄膜表面生长金属薄膜,最后在硅片另一表面刮擦InGa溶液,进而制得适用于电学测试的MIS结构器件;(2)在不同测试温度T下进行电容瞬态测试,获得电容在载流子发射过程中的变化,经过转化变为电荷密度为Nit的瞬态电容。对Nit关于时间t进行求导,求得在不同测试温度下电荷的发射速率ep;(3)在不同测试温度T获得的电荷密度下,作ln(ep/T2)关于1/T的函数,由斜率和截距分别求得界面态密度和俘获截面随能级的分布。利用本发明,可以获取俘获截面与界面态密度随能级位置的分布,应用广泛。

    一种双晶向多晶硅铸锭及其制备方法

    公开(公告)号:CN109097827A

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201810769506.7

    申请日:2018-07-13

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种双晶向多晶硅铸锭及其制备方法。包括如下步骤:分别将 晶向单晶棒的标准{100}晶面顺时针及逆时针旋转相同的角度,沿着旋转后的晶面切割,得到对称晶向的单晶籽晶,将对称晶向的单晶籽晶相邻间隔排列形成籽晶层,铺设在坩埚底部;再将硅料置于籽晶层上,加热控制坩埚温度,使得硅料完全融化而籽晶层部分融化,诱导部分熔化的籽晶层生长,通过定向凝固得到了 和 双晶向的多晶硅铸锭。该方法避免了由于籽晶摆放形成的晶向差而导致的位错,规则的双晶向多晶硅铸锭上部的位错密度低于5×104/cm2,有效的提高了多晶硅铸锭的质量。

    一种半导体间界面态密度和俘获截面的测试方法

    公开(公告)号:CN109061430A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201810857911.4

    申请日:2018-07-31

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01R31/2601

    Abstract: 本发明公开了一种半导体间界面态密度和俘获截面的测试方法,包括以下步骤:(1)在半导体薄片表面生长同质或异质的半导体薄膜,进而形成同质结或异质结;(2)对上述同质结或异质结上生长金属薄膜后,在不同测试温度T下进行电容瞬态测试,获得电容在载流子发射过程中的变化,经过转化变为电荷Nit的瞬态电容;(3)对上述电荷Nit关于时间t求导,求得在不同测试温度下电荷的发射速率ep;(4)在不同的电荷密度下,作ln(ep/T2)关于1/T的函数,由斜率和截距分别求得界面态密度和俘获截面随能级的分布。利用本发明,可以获取俘获截面与界面态密度随能级位置的分布,应用广泛。

    一种基于金刚线切割的单晶硅片的湿法制绒方法

    公开(公告)号:CN102560685B

    公开(公告)日:2014-11-05

    申请号:CN201210031456.5

    申请日:2012-02-13

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于金刚线切割的单晶硅片的湿法制绒方法,包括:(1)将所述的单晶硅片经清洗、晾干,于60-80℃条件下在由重量比为10-20∶0.8-12∶100-200的NaOH、异丙醇和去离子水组成的混合溶液中浸泡腐蚀20-400s,得预处理后的单晶硅片;(2)将预处理后的单晶硅片清洗后,用常规单晶硅制绒工艺进行制绒。本发明的方法成功的将金刚线切割的单晶硅片应用于现有的制绒工艺中进行制绒,绒面大小合适、分布更均匀,且不增加制绒时间和成本。

    一种用于生长铸造单晶硅的坩埚及衬底片

    公开(公告)号:CN101935869B

    公开(公告)日:2013-11-20

    申请号:CN201010284947.1

    申请日:2010-09-17

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于生长铸造单晶硅的坩埚及衬底片,能够有效减少铸造单晶硅时籽晶的用量,结构简单,成本低廉。所述坩埚的底部设有若干个连续的斗冠形结构、若干个连续的胞形结构或若干个连续的半球形结构。所述衬底片的外壁为方形结构,内壁为若干个连续的斗冠形结构、若干个连续的胞形结构或若干个连续的半球形结构。

    一种硅太阳电池表面等离子体增益的方法

    公开(公告)号:CN102142483B

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN201110004974.3

    申请日:2011-01-11

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种硅太阳电池表面等离子体增益的方法,采用将金属纳米颗粒分散在醇溶剂中形成金属纳米颗粒胶体溶液,在硅太阳电池片迎光面上,丝网印刷或喷淋或旋涂金属纳米颗粒胶体溶液,烘烤使醇溶剂从电池片表面挥发完全,在保护气体氛围下进行快速热处理退火温度,再进行二次常规热处理退火,实现硅太阳电池表面等离子体增益。本发明方法具有成本低、易操作、效率提升效果好的特点,具有较大的应用前景。

    一种掺杂电阻率均匀的N型铸造硅多晶及其制备方法

    公开(公告)号:CN102560641A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201210073813.4

    申请日:2012-03-20

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种掺杂电阻率均匀的N型铸造硅多晶及其制备方法,其中方法包括如下步骤:将多晶硅料、磷掺杂剂和镓混合后熔融,再利用铸造法生长硅多晶体。本发明可以将90%左右高度的N型磷掺杂多晶硅铸锭的电阻率控制在1.0-2.0Ω.cm范围内,有利于增加N型多晶硅材料在制备高效太阳能电池过程中的利用率,从而使得高效太阳能电池的制造成本大幅度降低,而且操作简单,易于在光伏产业大规模应用。

    一种掺杂电阻率均匀的N型直拉硅单晶及其制备方法

    公开(公告)号:CN102560627A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201210073865.1

    申请日:2012-03-20

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种掺杂电阻率均匀的N型直拉硅单晶及其制备方法,其中方法包括如下步骤:将多晶硅料、磷掺杂剂和镓混合后熔融,再利用直拉法生长硅单晶体。利用本发明方法制备得到的掺杂电阻率均匀的N型直拉硅单晶可以将N型直拉硅单晶的整根晶体的电阻率控制在1.0~2.0Ω.cm范围内,有效提高N型硅晶体在制备太阳能电池过程中的利用率,从而显著降低太阳能电池的制造成本,操作简单,易于在光伏产业推广应用。

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