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公开(公告)号：CN114663520B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202210181441.0
申请日：2022-02-25
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种超大范围视觉测量的双相机联合标定方法及系统，属于视觉测量技术领域，标定方法包括：初始化第一相机和第二相机的内参数；通过无人机携带长度尺在测量空间中以各个姿态飞行；通过第一相机及第二相机采集每个姿态下长度尺两端的回光反射球的图像，得到图像集；确定图像集中各图像中各回光反射球的像面二维坐标；根据各图像中各回光反射球的像面二维坐标，确定本质矩阵；根据本质矩阵，确定第二相机相对于第一相机的旋转矩阵及平移矩阵；采用光束平差法，对两个相机的内参数初值及外方位参数初值进行优化，得到第一相机的最优内参数、所述第二相机的最优内参数及最优外参数。无需建立标定墙，降低了标定成本并提高了标定精度。
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公开(公告)号：CN108801218B
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN201810319004.4
申请日：2016-05-06
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种大尺寸动态摄影测量系统的高精度定向及定向精度评价方法，包括步骤：a)选定基准尺，在所述基准尺两端布置编码点对其进行长度测量；b)在测量空间,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态，以第二方式对其拍摄图片；c)对所述测量系统进行初步相对定位定向；d)使用多长度约束限制自标定光束平差，平差参数包括主点、主距、径向畸变、偏心畸变、面内畸变、外方位参数及空间点坐标；e)对所述测量系统的定向精度进行可溯源评价。
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公开(公告)号：CN105976374B
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201610297127.3
申请日：2016-05-06
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明提供了一种在离焦状态下，摄影测量相机的场相关畸变标定方法，包括步骤：a)建立用于场相关畸变标定的回光反射共面直线阵列场；b)根据测量环境景深和距离要求调整待标定相机对焦状态，并固定相机的成像系统，使之无法调焦；c)建立任意对焦状态下，场相关的径向畸变模型；d)在两个不同距离上标定所述场相关畸变标定参数，即径向畸变参数，并推导得到任意其他距离上空间点在相机像面上的畸变参数；e)利用步骤d中获取的径向畸变参数计算不同成像半径上的径向畸变量。
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公开(公告)号：CN106023146B
公开(公告)日：2018-10-30
申请号：CN201610298071.3
申请日：2016-05-06
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种用于摄影测量中的场相关单边自标定光束平差方法，包括步骤：a)建立线性的针孔成像模型，并附加场相关的非线性畸变模型；b)确定场相关的单边自标定光束平差理论模型；c)建立场相关单边自标定成像模型的误差方程；d)求取误差方程中场相关成像模型对于外方位参数的偏导数；e)求取误差方程中场相关模型对于空间坐标的偏导数；f)求取误差方程中场相关模型对于单边内参数的偏导数；g)对误差方程雅可比矩阵中的各项进行自适应的比例调整；h)通过分块方式快速计算法方程中的各项；i)求解单边自标定中的各项参数；j)参数比例逆调整，消除比例变化；k)计算中误差，并进行单边自标定各项参数的不确定度估计。
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公开(公告)号：CN105783733B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201610297146.6
申请日：2016-05-06
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种摄影测量中长度测量相对误差的绝对评价方法，包括步骤：a)建立测量场，所述测量场包括反光点和背景；b)标定基准尺；c)将所述基准尺设置在所述测量场内，并以同一姿态保持稳定；d)在测量场内,以第一方式移动所述基准尺并调整所述基准尺姿态，以第二方式对其拍摄图片；e)获取所述基准尺不同位置、不同姿态的全局平差测量网络图片；f)通过所述全局平差测量网络图片获取空间点的三维坐标；g)识别不同位置的基准尺，并计算各位置基准尺长度；h)求解所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si)；i)通过所述基准尺的平均长度和不确定度u(Si)计算长度测量相对误差的品质参数B；j)获得检验测量仪器是否合格结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106981065A
公开(公告)日：2017-07-25
申请号：CN201710192708.5
申请日：2017-03-28
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G06T7/00
Abstract: 一种基于曝光补偿的图像绝对中心矩改进算法，包括步骤：a)获取不同曝光时间的图像；b)获取对应数目的采样曲线；c)获取灰度值：d)判断上述灰度值是否大于255；e)将不同曝光时间的图像相互转换，获取图像复原图像；f)通过对比灰度直方图判断上述两幅图像是否存在局部细节方面损失；g)获取图像绝对中心矩算法；h)获取ACM评价函数；i)灰度iB对应的分布概率为；j)获取与曝光值C无关的图像绝对中心矩改进算法ECACM：l)由步骤k获取ECACM的评价指数。
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公开(公告)号：CN103673884B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201310731031.X
申请日：2013-12-26
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明与其他的双三角测头中的光学系统相比，对于成像系统，所得到的是放大的实像，实现了理论上的高灵敏度，并且由于成放大的实像使得整个系统的后截距较长，设计在光路中添加了两片全反射镜来改变成像光束的方向，减小测头外形尺寸。
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公开(公告)号：CN105913401A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201610297901.0
申请日：2016-05-06
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G06T5/002 , G06T5/50 , H04N5/2355
Abstract: 本发明提供了一种工业相机摄影测量图像亮度补偿方法，包括如下步骤：a)对白色硫酸钡墙面进行照明；b)对所述余弦辐射体拍照，并采集图像；c)对图像进行预处理；d)对去噪后图像的灰度值进行离轴照度衰减补偿；e)将图像分为左右两部分；f)描述像素位置?灰度值之间的函数关系；g)求解所述未知参数的估计值；h)构建灰度衰减模型的误差方程和法方程；i)求解未知参数的最小二乘解；j)求解衰减系数；k)重复步骤f)?j)，求解另一半图像上各个像素位置的衰减系数；l)得到黑盒模型的补偿模板；m)将所述黑盒模型的补偿模板与离轴照度衰减补偿模板组合，形成全局整体补偿系数矩阵，对所述工业相机拍摄的其他图像进行补偿。
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公开(公告)号：CN103439305B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310381350.2
申请日：2013-08-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的全内反射荧光显微成像方法及装置。所述装置包括激光器，发出激光束；针孔滤波器，对激光器发出的激光束进行空间滤波；准直透镜，将经过空间滤波的激光束准直为平行光束；偏振转换系统，对所述平行光束进行偏振态转换，获得高级次轴对称偏振光束；光瞳滤波器和环形光阑，对获得的高级次轴对称偏振光束进行振幅及相位调制；反射和聚焦系统，被调制的轴对称偏振光束被反射和聚焦系统聚焦到玻璃与样品之间的界面上，以在玻璃-样品界面上因为全反射而产生倏逝场；反射和过滤系统，由倏逝场激发的荧光信号经过反射和过滤系统后被聚焦到针孔阵列板上，光电探测器用于探测信号，以及信号分析处理系统。
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公开(公告)号：CN103697824B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310733992.4
申请日：2013-12-26
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供一种基于标准球的坐标测量机的光学测头的系统标定方法，步骤如下：a).将已知半径R的标准球放在坐标测量机的工作平台上；b).将测头安装在坐标测量机的移动末端，接着控制坐标测量机以合适的运动轨迹移动测头，在其测量范围之内，完成对工作平台上的标准球的点扫描，所述点扫描大致均匀覆盖整个标准球面，得到N组数据，N大于等于200，每一组数据包括测头的测点数值、坐标测量机的三坐标位置读数以及回转体的旋转角度；c).在上一步操作的基础上，选取N组数据中的一部分数据，经过坐标转换后带入球面约束方程，利用改进的非线性最小二乘法求解该超定非线性方程组即可求得待标定参数，完成系统标定。
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