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公开(公告)号：CN103424859A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310328858.6
申请日：2013-07-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G02B21/06
Abstract: 本发明提供了一种基于柱矢量光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法，包括如下步骤：对发出激发光束的第一激光器发出的激光束进行准直，获得第一平行光束；将第一平行光束转换为径向偏振光；通过透镜将调制后的第一径向偏振光聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦实心光斑；对发出抑制光束的第二激光器发出的激光束进行准直，获得第二平行光束；将第二平行光束转换为切向偏振光；通过透镜将调制后的切向偏振光束聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦中空光斑，该聚焦中空光斑与上述聚焦实心光斑中心重叠，使得只有中间位置处、尺寸小于衍射极限的中间点发出荧光；通过探测器探测上述中间点所发出的荧光。
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公开(公告)号：CN103411941A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310367190.6
申请日：2013-08-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。
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公开(公告)号：CN103439305B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310381350.2
申请日：2013-08-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的全内反射荧光显微成像方法及装置。所述装置包括激光器，发出激光束；针孔滤波器，对激光器发出的激光束进行空间滤波；准直透镜，将经过空间滤波的激光束准直为平行光束；偏振转换系统，对所述平行光束进行偏振态转换，获得高级次轴对称偏振光束；光瞳滤波器和环形光阑，对获得的高级次轴对称偏振光束进行振幅及相位调制；反射和聚焦系统，被调制的轴对称偏振光束被反射和聚焦系统聚焦到玻璃与样品之间的界面上，以在玻璃-样品界面上因为全反射而产生倏逝场；反射和过滤系统，由倏逝场激发的荧光信号经过反射和过滤系统后被聚焦到针孔阵列板上，光电探测器用于探测信号，以及信号分析处理系统。
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公开(公告)号：CN103439305A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310381350.2
申请日：2013-08-28
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的全内反射荧光显微成像方法及装置。所述装置包括激光器，发出激光束；针孔滤波器，对激光器发出的激光束进行空间滤波；准直透镜，将经过空间滤波的激光束准直为平行光束；偏振转换系统，对所述平行光束进行偏振态转换，获得高级次轴对称偏振光束；光瞳滤波器和环形光阑，对获得的高级次轴对称偏振光束进行振幅及相位调制；反射和聚焦系统，被调制的轴对称偏振光束被反射和聚焦系统聚焦到玻璃与样品之间的界面上，以在玻璃-样品界面上因为全反射而产生倏逝场；反射和过滤系统，由倏逝场激发的荧光信号经过反射和过滤系统后被聚焦到针孔阵列板上，光电探测器用于探测信号，以及信号分析处理系统。
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公开(公告)号：CN103337782A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310305941.1
申请日：2013-07-19
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: H01S3/0941 , H01S3/098 , H01S3/067 , H01S3/081 , G01B11/16
Abstract: 本发明提供了一种利用短腔光纤激光器的输出纵模测量应变的方法，所述方法包括如下步骤：a）搭建所述短腔光纤激光器，所述短腔光纤激光器包括依次连接的激光二极管泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、有源光纤和环形镜；b）将所述短腔光纤激光器固定于待测量应变的材料上，使所述短腔光纤激光器的光纤拉伸方向与待测材料产生应变的应变方向相一致；c）测量所述短腔光纤激光器的输出纵模漂移量；d）计算得到待测材料的应变。根据本发明利用短腔式光纤激光器的特性可以精确测量物体的应变，所搭建的光纤激光器结构小巧简单，测量精度高，便携性好，易于在多种场合应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103411941B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201310367190.6
申请日：2013-08-21
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。
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公开(公告)号：CN103424861B
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201310360812.2
申请日：2013-08-19
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提出了一种基于柱偏振涡旋光束的超分辨共焦显微成像装置，包括针孔滤波器，使从激光器发出的光束经过后获得高斯基模光束；准直透镜，将所述高斯基模光束准直为平行光束；偏振及相位转换系统，使平行光束经过得到具有预定偏振及相位分布的柱偏振涡旋光束；光瞳滤波器，使柱偏振涡旋光束经过，经过分束镜反射并被聚光镜聚焦到待测样品上；滤光片，从样品反射的光信号经过聚光镜和分束镜后入射到一滤光片上，该滤光片只允许光信号中的荧光信号透射；探测器，所述荧光信号被聚光镜聚焦到探测针孔上，并被探测器探测转换为电信号输出；三维平移台，其上放置样品，通过移动三维平移台可实现样品不同位置的探测，从而实现样品的三维扫描成像。
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公开(公告)号：CN103296568B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310231352.3
申请日：2013-06-09
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种脉冲光纤激光器声光调制器驱动电源，其特征在于所述驱动电源包括高频振荡器、2ASK键控调制电路、前置放大器、功率放大电路、控制器电路、脉冲陡化电路和输出匹配网络，高频振荡器用于产生高频载波信号，脉冲陡化电路接收来自外部的调制脉冲输入信号对其进行陡化处理，经陡化处理后的信号输入到所述控制器电路调节；2ASK键控调制电路通过输入的经所述控制器电路调节的脉冲信号对所述高频振荡器产生的高频载波信号进行幅度调制；前置放大器用于将经2ASK键控调制电路调制后的调制信号进行幅值放大，然后通过功率放大电路进行功率放大，然后通过输出匹配网络进行滤波和阻抗匹配后输出，驱动声光调制器的工作。
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公开(公告)号：CN103424859B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310328858.6
申请日：2013-07-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G02B21/06
Abstract: 本发明提供了一种基于柱矢量光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法，包括如下步骤：对发出激发光束的第一激光器发出的激光束进行准直，获得第一平行光束；将第一平行光束转换为径向偏振光；通过透镜将调制后的第一径向偏振光聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦实心光斑；对发出抑制光束的第二激光器发出的激光束进行准直，获得第二平行光束；将第二平行光束转换为切向偏振光；通过透镜将调制后的切向偏振光束聚焦在焦平面的样品上，得到聚焦中空光斑，该聚焦中空光斑与上述聚焦实心光斑中心重叠，使得只有中间位置处、尺寸小于衍射极限的中间点发出荧光；通过探测器探测上述中间点所发出的荧光。
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公开(公告)号：CN103337783B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201310306008.6
申请日：2013-07-19
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: H01S3/0941 , H01S3/067 , H01S3/081 , H01S3/098 , G01K11/00
CPC classification number: G01K11/32 , G01K11/3206 , G01K15/005
Abstract: 本发明提供了一种利用短腔光纤激光器的输出纵模测量温度的方法，所述方法包括如下步骤：a）搭建所述短腔光纤激光器，所述短腔光纤激光器包括依次连接的激光二极管泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、有源光纤和环形镜；b）将所述短腔光纤激光器与要测量温度的待测物体相接触；c）测量所述短腔光纤激光器的输出纵模漂移量；d）计算得到待测物体的温度。根据本发明利用短腔式光纤激光器的特性可以精确测量温度，所搭建的光纤激光器结构小巧简单，测量精度高，便携性好，易于在多种场合应用。
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