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    解析装置、解析方法程序以及非易失性存储介质
    72.
    发明公开
    解析装置、解析方法程序以及非易失性存储介质 无效

    公开(公告)号：CN111295711A

    公开(公告)日：2020-06-16

    申请号：CN201880071246.4

    申请日：2018-11-05

    Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

    Inventor： 堀本胜久 ,  福井一彦 ,  键和田晴美

    IPC: G16B5/20 ,  G01N33/48 ,  G01N33/50

    Abstract: 一种解析方法为谋求已知通路和反应量数据的一致性的步骤，其具备：步骤(S12)，将已知通路分解为由彼此连接的2个节点构成的多个子图；步骤(S13)，结合基于各节点间的偏相关系数而求出的独立性检验的概率值，求出表示已知通路的独立性的联合概率值；步骤(S14)，生成具有与已知通路相同数目的节点的多个图表；步骤(S15)，通过与步骤(S12、S13)相同的方法，求出多个图表的联合概率值，生成该多个图表的联合概率值的概率分布；以及步骤(S16)，在由步骤(S15)所获得的概率分布中，求得由步骤(S13)所求得的联合概率值在上侧的概率密度作为图表一致性概率。

    湿胶及其制造方法
    73.
    发明授权
    湿胶及其制造方法 有权

    公开(公告)号：CN106574119B

    公开(公告)日：2020-06-12

    申请号：CN201580033541.7

    申请日：2015-06-19

    Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

    Inventor： 浦田千寻 ,  穗积笃

    IPC: C08L83/07 ,  C08K3/013 ,  C08L83/05

    Abstract: 本发明的一个方式为湿胶，其包括:硅树脂组成物硬化了的交联硅树脂；可使该硅树脂组成物溶解的第一液体；及可溶解于该第一液体的固体或浸渍所述交联硅树脂时的膨润度小于使所述交联硅树脂浸渍于正十二烷时的膨润度的第二液体。所述第二液体可与所述第一液体混和。

    设备固有信息的错误率控制方法
    74.
    发明授权
    设备固有信息的错误率控制方法 有权

    公开(公告)号：CN106576040B

    公开(公告)日：2020-05-12

    申请号：CN201580045333.9

    申请日：2015-08-20

    Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

    Inventor： 堀洋平 ,  古原和邦 ,  片下敏宏 ,  松井俊浩

    IPC: H04L9/10 ,  G09C1/00 ,  H04L9/32

    Abstract: 提供能控制设备固有信息的错误率的方法和程序。提供的设备固有信息的错误率控制方法具有：步骤S1，将i个(i为任意的自然数)口令向PUF搭载芯片分别输入j次(j为任意的自然数)，将j个响应直接(j’＝j)或者加工为j’个(0＜j’＜j)而与各个输入数据建立对应地预先登录到数据库；步骤S2，向数据库输入i个口令；步骤S3，从数据库读出各自对应的j’个响应，每一输入数据连结j’个响应，将连结后的数据进一步反复连结k’个(0＜k’≤k且k为任意的自然数，在上述i和上述j均为1时，k是2以上的自然数)而每一输入数据得到连结的(j’×k’)个响应，进而关于不同的输入数据也将它们连结而得到(i×j’×k’)个连结的响应，由此生成基准数据；步骤S4，将i个口令每一口令向PUF搭载芯片输入k次，将以得到的k个响应为k’＝k直接或者加工为k’个(0＜k’＜k)而得到的k’个响应按照每一响应反复连结j’次，针对所有的k’将其进一步连结而得到(j’×k’)个连结响应，再针对不同的输入数据将所得到的连结响应连结而得到(i×j’×k’)个连结响应，由此生成合成输出数据；以及步骤S5，判断合成输出数据与基准数据是否一致(具体地，两者的汉明距离是否是阈值以下)，基于步骤S5的判断结果判断合成输出数据的错误率是否是预设的范围内，在判断为错误率不在预设的范围内的情况下，变更i、j、j’、k、k’中的至少之一后重复步骤S1到步骤S5的步骤，直至错误率进入预设的范围内。

    离子液体及柔粘性结晶
    75.
    发明授权
    离子液体及柔粘性结晶 有权

    公开(公告)号：CN106715389B

    公开(公告)日：2020-04-28

    申请号：CN201580044525.8

    申请日：2015-08-28

    Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

    Inventor： 松本一 ,  水门润治 ,  王鹏程

    IPC: C07C309/80 ,  C07C217/08 ,  C07D207/04 ,  C07D233/58 ,  C07D295/02 ,  H01M10/052 ,  H01M10/0568

    Abstract: 本发明提供一种离子液体或柔粘性结晶，其为由阴离子和阳离子构成的离子液体或柔粘性结晶，其中，阴离子含有[C(SO2F)3]‑，阳离子含有选自由1‑乙基‑3‑甲基咪唑鎓([EMI]+)、N,N‑二乙基‑N‑甲基‑(2‑甲氧基乙基)铵([DEME]+)、N‑甲基‑N‑丙基吡咯烷鎓([Py13]+)、N‑甲基‑N‑丙基哌啶鎓([PP13]+)、四甲基铵([N1111]+)、四乙基铵([N2222]+)、三甲基己基铵([N6111]+)、三乙基己基铵([N6222]+)、N‑甲基‑N‑乙基吡咯烷鎓([Py12]+)、1‑丁基‑3‑甲基咪唑鎓([C4mim]+)及1‑己基‑3‑甲基咪唑鎓([C6mim]+)构成的组中的至少1种。

    双折射测定装置及方法、膜检查装置及方法
    77.
    发明授权
    双折射测定装置及方法、膜检查装置及方法 有权

    公开(公告)号：CN107076663B

    公开(公告)日：2020-04-14

    申请号：CN201580045497.1

    申请日：2015-08-11

    Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

    Inventor： 江本显雄 ,  大谷直毅 ,  福田隆史

    IPC: G01N21/23

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够以无旋转机构的简单的结构实时且精细地对测定对象物的双折射的二维分布进行测定的双折射测定装置。本发明涉及的双折射测定装置(1A)的特征在于，具备：光束生成单元(2)，生成光束(L1)；光束照射单元(3、4、5)，使光束(L1)成为预先决定的偏振状态并对测定对象物(20)进行照射；成像光学系统(10)，使透射过测定对象物(20)的光束(L4)成像；偏振光衍射光栅(8)，配置在成像光学系统(10)的中途；摄像单元(12)，生成与由成像光学系统(10)成像的像的明暗相关的明暗信号；以及输出单元，输出与基于明暗信号所求出的、由于透射过测定对象物(20)而产生的光束(L4)中的相位差相关的信息，摄像单元(12)生成由偏振光衍射光栅(8)产生的多个衍射光中的至少一个衍射光(L7)的像的明暗信号。

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