调试系统、调试方法、设备及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111813702B

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202010942457.X

    申请日:2020-09-09

    Abstract: 本发明公开了一种调试系统、调试方法、设备及计算机可读存储介质。本发明通过设置带有图形化界面的集控装置,选择集控装置中与真实电路板参数对应的第一构件构建模拟电路板,并选择集控装置中第二构件将预设指令集运行在模拟电路板上,获取运行结果;然后,选择集控装置中第二构件将预设指令集运行在真实电路板上,获取运行结果;再,根据真实电路板以及模拟电路板的运行结果确定对真实目标板真实电路板指令集的调试结果;解决了相关技术中嵌入式仿真构建以及调试的直观性低、复杂度高,从而造成软件工程师工作效率低,增加整个开发流程周期的问题。

    可编程器件实现与测试精简指令集方法、设备及介质

    公开(公告)号:CN112015490A

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN202011200273.2

    申请日:2020-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种采用可编程器件实现与测试精简指令集的方法、设备及介质,该方法包括:将所述精简指令集中的基础指令集配置于所述静态部分;将所述精简指令集中除基础指令集之外的可替换指令集保存于与所述可编程器件连接的存储单元中;根据所述可编程器件所要实现的处理器功能,在运行过程中:调用所述基础指令集;以及分时地将需要使用的可替换指令集配置于所述可动态配置部分以调用当前所需要的可替换指令集。在可编程器件面积不足以装下所有指令集的情况下,达到了不中断软件调试过程而完成整个指令集的测试的技术效果。

    一种时钟产生电路和随机数产生电路

    公开(公告)号:CN111969981A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202011128048.2

    申请日:2020-10-21

    Abstract: 一种时钟产生电路,包括第一反相器链、第二反相器链、第一随机信号产生电路以及第一控制模块。第一反相器链包括串联连接的多个第一反相器,其用于根据第一配置信号选择所述第一反相器的个数以输出第一时钟信号;第二反相器链包括串联连接的多个第二反相器,其用于根据第二配置信号选择第二反相器的个数以输出第二时钟信号;第一随机信号产生电路用于对第一时钟信号和第二时钟信号进行组合来产生第一随机信号;第一控制模块用于根据第一随机信号生成第一配置信号或者第二配置信号,以变更第一反相器链中的第一反相器的个数或者变更第二反相器链中的第二反相器的个数。本发明还提供了一种随机数产生电路。

    处理器核验证的指令耦合装置、方法、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN111930444A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202011107190.9

    申请日:2020-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种处理器核验证的指令耦合装置、方法、设备及存储介质,处理器核验证的指令耦合装置包括:配置信息解析器、约束求解器、指令生成器和指令发射器,配置信息解析器用于将处理器核中测试用例的配置信息解析为第一约束数据;约束求解器用于基于第一约束数据进行约束求解,确定求解约束的结果,基于第一约束数据生成第二约束数据;指令生成器用于基于第二约束数据生成耦合指令或非耦合指令;指令发射器用于将耦合指令或非耦合指令发送至驱动器,将生成的指令信息反馈至约束求解器。本发明将配置信息和指令发射器中的指令信息耦合,使得各个指令之间相互关联和依赖,提升了测试覆盖率收敛效率。

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