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公开(公告)号:CN104035852B
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201410244705.8
申请日:2014-06-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F11/267
Abstract: 基于自动帧重复的1553B总线硬件定时通信测试装置及方法,涉及通信及测试测量领域。是为了解决在多种命令数据下插入新命令数据时,现有的基于硬件定时的1553B通讯容易出现数据响应延时、数据中断及数据不完整的问题。本发明通过采用仲裁模块和不同优先级的缓存模块,并利用自动帧重复模块实现了1553B通信测试中消息间隔可变的硬件定时功能,实现了以可变间隔的1553B帧形式通信方法,并保证每一个帧内消息之间间隔可调。在没有数据更新的情况下,该方法可以在接收或发送状态下自动重复上一帧的数据内容,并实时检测是否有插入数据,若有插入数据,则优先发送插入数据,然后再发送常规数据,保证通信的实时性和可靠性。本发明适用于通信测试场合。
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公开(公告)号:CN103390205A
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201310329418.2
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06Q10/04
Abstract: 功耗约束下基于软核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN101976216B
公开(公告)日:2012-09-05
申请号:CN201010519749.9
申请日:2010-10-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F11/22
Abstract: 基于IEEE 1500标准的IP核测试结构及测试方法,涉及IP核测试结构和方法,解决了现有的IP核测试技术耗时长、测试效率低的问题,过程如下:一、开启配置信号生成模块,生成测试所需的配置信号;二、开启命令总线分配模块,在配置信号的作用下将命令总线与被测IP核的命令信号线相连。三、开启测试指令生成模块,在上层控制指令的作用下,给被测IP核提供控制信号和编码后的测试指令。四、开启数据总线分配模块,配置测试数据传输的通路。五、开启相应的测试数据生成模块,给被测IP核提供测试激励。六、使被测IP核正常工作,捕获IP核的测试响应。本发明通过在FPGA内增加测试结构实现了IP核的测试,设计简单而灵活。
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公开(公告)号:CN102262198A
公开(公告)日:2011-11-30
申请号:CN201110099271.3
申请日:2011-04-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于回声状态网络同步优化的模拟电路故障诊断方法,涉及一种模拟电路故障诊断方法。它解决了采用传统神经网络进行模拟电路故障诊断的诊断精度较低的问题。其方法:采用单位脉冲信号激励模拟电路工作,获得电路待诊断响应信号,采集模拟电路的单位脉冲响应输出信号;采用小波变换法对模拟电路的单位脉冲响应输出信号进行处理,获得故障特征并作为数据样本输入至回声状态网络中,采用微分进化算法进行参数与特征的同步优化选择,建立模拟电路故障诊断模型;采用小波变换法对电路待诊断响应信号进行处理,获得故障数据,将所述故障数据输入至模拟电路故障诊断模型中,获得并输出故障诊断结果。本发明适用于模拟电路故障诊断。
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公开(公告)号:CN102156258A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201110057651.0
申请日:2011-03-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法,涉及系统芯片测试技术领域。本发明解决了现有基于BFD算法实现测试封装扫描链平衡方法以及基于平均值近似的SoC扫描链平衡方法中存在的不足。本发明的测试封装扫描链平衡方法的过程为:首先,计算Wrapper扫描链长度平均值;然后,根据获得的长度平均值确定误差限,所述误差限为所述长度平均值的1%至3%;最后,根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间,把该取值区间作为全局优化的指导原则,实现测试封装扫描链平衡。本发明采用Wrapper扫描链平衡算法的原理实现缩短单个IP核测试时间这一目标,进而缩短SoC测试时间。
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公开(公告)号:CN102043122A
公开(公告)日:2011-05-04
申请号:CN201010572388.4
申请日:2011-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法,属于片上系统测试领域,本发明为解决现有基于扫描链的非并发方式的在线测试方法存在对时序的要求比较严格、控制难度大、且无法一次移入多组测试向量的问题。本发明所述改进扫描链单元用于代替片上系统中的D触发器,该单元中有两个触发器和两个选择器,第一触发器是构成原电路扫描链的基本单元,实现与原D触发器相同功能,第二触发器是为进行测试时保存数据而引入的。两个数据选择器通过使能端来控制数据的流向,第一选择器控制第二触发器中的数据是否可以送到第一触发器,第二选择器控制第一触发器的工作状态或扫描状态。此单元可输入多组测试向量连续测试。测试前后不改变电路的运行状态。
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公开(公告)号:CN101789891A
公开(公告)日:2010-07-28
申请号:CN200910217444.X
申请日:2009-12-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种LXI设备的网络配置复位方法,属于自动测试领域,本发明是为了解决LAN复位机制只选择恢复到出厂设置状态工作效率低的问题。本发明在不违反LXI规范的基础上,对LXI设备的LAN复位机制进行扩充设计。本发明通过判断手动按下LAN复位机构的持续时间不同,采用不同的网络参数对LXI设备进行LAN配置和重新启动LCI程序,并利用LXI设备的LAN指示器表示LAN复位机构按下时的状态。本发明提高了LXI设备实际应用中使用的灵活性,为用户提供更多便利,可用于各种LXI仪器设计中,具有很好的兼容性。
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公开(公告)号:CN114595767B
公开(公告)日:2025-01-10
申请号:CN202210223287.9
申请日:2022-03-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F18/22 , G06N3/0442 , G06N3/0455 , G06N3/048 , G06F17/18
Abstract: 一种具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法,属于工业设备故障检测领域。本发明针对现有工业系统的故障检测依赖故障数据建立检测模型,故障数据获取难度大造成方法难以适用的问题。包括:采集时间序列状态数据作为训练数据;计算训练数据m维特征变量的均值和标准差,并对训练数据进行标准化;对标准化后时间序列数据采用滑动窗口进行分割得到序列数据P,对LSTM自编码网络进行训练;再基于训练后LSTM自编码网络获得训练数据的误差序列;基于极值理论的方法对误差序列进行分析,得到故障阈值;再基于待检测设备序列数据对故障阈值进行调整,得到调整后阈值,进而实现工业设备的故障检测。本发明用于变量具有时序特征的工业设备的故障检测。
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公开(公告)号:CN118739824A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202410884224.7
申请日:2024-07-03
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 一种交错并联Boost变换器的容错控制方法及其系统,涉及信息处理技术领域。解决现有交错并联Boost变换器的容错控制方法存在硬件复杂度高、成本增加等问题。容错控制方法为:S1、获取交错并联Boost变换器的PWM控制信号;S2、调整所述PWM控制信号的相移和频率,使剩余相导通对称;S3、采用常导通时间控制恢复输出电压至参考值。本发明适用于考虑设备健康状态影响的寿命预测方法。
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公开(公告)号:CN118607701A
公开(公告)日:2024-09-06
申请号:CN202410653044.8
申请日:2024-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/20 , G06N3/0442 , G06N3/0455 , G06N3/08 , G06F17/16
Abstract: 本发明是一种识别状态影响的设备寿命预测系统及方法。本发明涉及设备寿命信息处理技术技术领域,本发明获取设备的多维监测数据;设备的监测数据对监测的特征进行初步筛选,保留包含设备退化信息的监测特征数据,构建设备的健康状态记忆矩阵;进行设备退化状态的识别;搭建LSTM‑Transformer网络,进行预测模型的网络参数的调优,选定对应的寿命预测模型,用于寿命预测。本发明构建了LSTM‑Transformer的结合网络,充分利用多头注意力机制,并将重构向量与特征向量的残差向量作为网络的输入,放大性能退化,提高预测效果。
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