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公开(公告)号:CN103364711B
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201310329417.8
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN103364711A
公开(公告)日:2013-10-23
申请号:CN201310329417.8
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN103389456B
公开(公告)日:2015-06-17
申请号:CN201310329419.7
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN103390205A
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201310329418.2
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06Q10/04
Abstract: 功耗约束下基于软核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN103390205B
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201310329418.2
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F11/22 , G01R31/3185 , G01R31/28
Abstract: 功耗约束下基于软核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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公开(公告)号:CN103389456A
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201310329419.7
申请日:2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j
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