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公开(公告)号：CN114705120A
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202210266325.9
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于掩膜信息的尺寸测量方法及评分系统，其中系统包括操作模块和检测模块，所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块；系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能；进入系统设置模块需要输入密码；尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能；尺寸测量评分系统还包括退出系统模块；本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能，实现模板的制作以及待检测零件的精确测量；并通过模板信息提取制作试题的模板源图，用于和待检测零件进行比较，进而实现打分。
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公开(公告)号：CN112180160B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942378.9
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试方法。
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公开(公告)号：CN112162148B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942414.1
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线单频率跟踪测频方法，单频率跟踪的扫频范围应覆盖将当前频率视为高频频率对应的低频频率扫频范围，以及将当前频率视为低频频率对应的高频谐振频率扫频范围；当前频率作为单频率跟踪的依据和SC晶片双谐振频率中另一个频率的判断依据；在单次扫频测频过程中，必须先保证测到当前频率，若当前频率未测到，则不作另外两个扫频范围的频率判断，若测到当前频率再进行前向频率波形和后向频率波形的判断；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线单频率跟踪测频方法。
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公开(公告)号：CN112162147B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942412.2
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法，具体过程如下：1.1)参数设置步骤、1.2)扫频准备步骤、1.3)波形匹配步骤、1.4)数据处理步骤；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法。
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公开(公告)号：CN113645398A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110356809.8
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开一种基于自动对焦功能的尺寸测量仪系统，1.1)初始化步骤、1.2)对焦判断步骤、1.3)对焦界面信息处理步骤；本发明提供了容易操作、提示简洁、高效反应的一种基于自动对焦功能的尺寸测量仪系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113267135A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110421963.9
申请日：2021-04-20
Applicant: 浙江大学台州研究院 , 中国铁建电气化局集团有限公司 , 中铁建电气化局集团第三工程有限公司
Abstract: 本发明为提供一种轨旁设备限界快速自动测量的装置及方法，其装置包括测量车、激光扫描仪、相机、镜头、编码器以及运算装置；其中激光扫描仪、相机均以及编码器设置于测量车上，镜头设置于相机；激光扫描仪、相机以及编码器分别与运算装置通信连接；通过设置相机获取图像，并且通过预先训练的模型，识别框选图像中的目标设备区域，根据框选区域在图像中的位置判断是否为最佳图像，对于最佳图像，记录相应的里程数据作为对应的目标设备的实际里程，完成全部的轨旁设备的里程计算后，计算相邻的轨旁设备的限界距离，以判断是否满足工程要求。
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公开(公告)号：CN112304217A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202011104917.8
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分装置及评分方法，其中装置包括操作台、检测台、光源以及相机；所述检测台的中间部位设置有通孔，在通空处设置有透明板；光源设置于检测台下方，与透明板对应设置；相机设置于透明板的正上方，相机固定设置；操作台与光源以及相机电性连接，操作台能够控制光源以及相机的动作；相机和检测台之间设置有激光测距装置；操作台包括显示模块；本发明通过在系统中设置学生、教师、游客权限的管理，并且在教师权限下设置试题制作的功能，实现对于考试题目的编辑和确定。
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公开(公告)号：CN112180160A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010942378.9
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统。
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公开(公告)号：CN112162148A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942414.1
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线单频率跟踪测频方法，单频率跟踪的扫频范围应覆盖将当前频率视为高频频率对应的低频频率扫频范围，以及将当前频率视为低频频率对应的高频谐振频率扫频范围；当前频率作为单频率跟踪的依据和SC晶片双谐振频率中另一个频率的判断依据；在单次扫频测频过程中，必须先保证测到当前频率，若当前频率未测到，则不作另外两个扫频范围的频率判断，若测到当前频率再进行前向频率波形和后向频率波形的判断；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线单频率跟踪测频方法。
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公开(公告)号：CN112162147A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942412.2
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法，具体过程如下：1.1)参数设置步骤、1.2)扫频准备步骤、1.3)波形匹配步骤、1.4)数据处理步骤；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法。
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