矢量三维灰度激光直写光刻方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN116661253A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310467568.3

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本申请涉及一种矢量三维灰度激光直写光刻方法、装置及系统。方法包括:基于待刻写结构的二维灰度图生成若干组三维灰度刻写数据;每一组三维灰度刻写数据表示一个拼接单元;将每组三维灰度刻写数据转化为矢量刻写数据和扫描位置数据;将矢量刻写数据输出至高速光调制器件控制刻写激光的强度,将扫描位置数据输出至扫描器件控制刻写激光的扫描位置,直到完成对所有拼接单元的刻写。采用本方法能够实现矢量刻写控制,回避非必要区域刻写,有效提高刻写效率,并将传统的层切数据替换为灰度层切数据,解决了逐层刻写过程中层与层之间的台阶问题。

    基于干涉散射和暗场照明的双模态显微成像装置和方法

    公开(公告)号:CN116661119A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310633568.6

    申请日:2023-05-31

    Abstract: 一种基于干涉散射和暗场照明的双模态显微成像装置和方法,包括显微物镜,镜筒透镜,第一凸透镜,第一滤光片转盘,第二凸透镜,相机,扫描振镜,二分之一波片,第二滤光片转盘,激光器,偏振分光棱镜,照明调整镜,所述的第一滤光片转盘切换基础或放大的干涉散射显微成像、以及暗场照明显微成像这两种不同的模态;所述的第二滤光片转盘切换宽场照明和细光速照明两种不同的照明方式。本发明将干涉散射和暗场照明显微成像装置集于一体,系统利用率高;且不同模态下,可以保证观测到相同的样品区域,同时满足不同的观测需求,干涉散射显微成像装置具有高灵敏度适用于对纳米单分子材料的观测,暗场显微成像适用于对块状材料结构的实时观测。

    电路板和转接器
    66.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115996515B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310277812.X

    申请日:2023-03-21

    Abstract: 本申请涉及一种电路板和转接器。电路板包括基板、接口组和连接器。基板包括堆叠设置的布线层、第一接地层和第二接地层;所述布线层包括上布线层和下布线层;所述第一接地层和所述第二接地层设置于所述上布线层和所述下布线层之间;所述第一接地层靠近所述上布线层设置;所述第二接地层靠近所述下布线层设置;所述第一接地层与所述第二接地层共用接地端;接口组设置于所述上布线层,用于与输入设备和输出设备连接;所述接口组包括多个与所述布线层电连接的信号接口;连接器设置于所述下布线层,用于与处理器连接;所述连接器与所述布线层电连接;所述信号接口通过所述布线层与所述连接器电连接。

    一种基于柱状矢量偏振光的超分辨激光打印装置

    公开(公告)号:CN112286014B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202011378485.X

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本发明公开了一种基于柱状矢量偏振光的超分辨激光打印装置,属于超分辨激光微纳加工领域。直写激光器输出的光束经过声光调制器强度调制后被准直器准直为平行光束,再经过起偏器、1/2波片和涡旋半波片被转化为切向偏振光;抑制激光器输出的光束经过声光调制器强度调制后被准直器准直为平行光束,再经过起偏器、1/2波片和涡旋半波片被转化为径向向偏振光;两个柱状矢量偏振光分别依次经过两个圆锥透镜整形为环形平行光束;之后两束光进行合束变为一路光被高数值孔径物镜聚焦;环形径向偏振光聚焦成为实心光斑,环形切向偏振光聚焦成为空心暗斑;两种光斑的半高全宽都小于同等聚焦条件下的圆偏光形成的光斑,因此可以获得更高的打印分辨率。

    一种光诱导抗氧阻聚飞秒激光光刻胶及制备方法

    公开(公告)号:CN111983892B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202010909777.5

    申请日:2020-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种光诱导抗氧阻聚飞秒激光光刻胶及制备方法,该光刻胶包括改性富勒烯C60、活性单体、飞秒激光引发剂及溶剂。本发明在飞秒激光光刻胶体系中引入表面具有巯基的改性富勒烯C60,改性富勒烯C60可以在飞秒激光的诱导下,将飞秒激光曝光区光刻胶内的三线态氧分子转化为单线态氧分子,从而抑制三线态氧分子对活性自由基的淬灭作用,达到抗氧阻聚的作用。本发明解决飞秒激光光刻胶中三线态氧气分子对活性自由基的阻聚问题,降低飞秒激光光刻胶的聚合阈值,提高飞秒激光光刻胶的灵敏度和分辨率。

    激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN116382043A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310399542.X

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本申请涉及一种激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备。所述激光直写系统包括图像传感模块、振镜、位移台,所述方法包括:确定所述位移台移动的第一距离与所述图像传感模块像素点对应移动的第二距离之间的第一关系;基于所述第一关系和预设系数确定振镜电压与刻写长度的第二关系;基于所述第二关系对待刻写文件进行刻写。本申请通过确定振镜电压与刻写长度的第二关系,可以在刻写前直接确定当前刻写环境中的最佳系统参数,根据需要刻写的长度精确控制振镜电压,有效提高实际刻写长度的精确度,解决了多视场刻写可能存在的拼接错位问题,无论是在单视场范围内刻写还是大面积刻写的应用场景都能够有效提高刻写准确率,进而提高刻写成功率。

    一种基于深度学习的低对比度条纹SIM重建方法和系统

    公开(公告)号:CN116309073A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310320880.X

    申请日:2023-03-24

    Abstract: 一种基于深度学习的低对比度条纹SIM重建方法,包括:首先制作低对比度条纹SIM图像训练数据集;然后构建并训练低对比度SIM超分辨神经网络;最后实现低对比度条纹SIM实验数据的超分辨重建。本发明还包括一种基于深度学习的低对比度条纹SIM重建系统。本发明可以在低对比度照明条纹的情况下,实现高质量和高分辨SIM图像重建。克服了传统SIM技术对照明条纹对比度的依赖,大大扩展其应用范围;本发明所需的低对比度条纹SIM图像训练集可以通过仿真得到,无需实验获取,大大降低了训练集的制作难度;本发明不增加任何系统复杂度,可基于任何已有SIM系统实现,具有广泛的应用范围。

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