一种发光二极管芯片制造方法

    公开(公告)号:CN101345281A

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200810042186.1

    申请日:2008-08-28

    Abstract: 一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GAN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GAN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。

    延伸结构的氧化锌透明电极大功率发光二极管芯片及其制作工艺

    公开(公告)号:CN101276867A

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200810037353.3

    申请日:2008-05-13

    Abstract: 本发明涉及一种延伸结构的氧化锌透明电极大功率发光二极管芯片及其制作工艺,包括:n型金pad、氧化锌透明电极、填充体、基板、粘结层、p型电流扩展层、p型电极接触、发光层、n型电极接触、辅助电流扩展电极结构,其中p型电流扩展层、p型电极接触、发光层、n型电极接触是在MOCVD中依次生长完毕,总称发光有源层;其中发光有源层通过粘结层粘结在基板上,填充体填充在发光有源层被刻蚀掉的一对对角线位置的孔里,氧化锌透明电极通过薄膜生长工艺生长在n型电极接触的表面,n型金pad以及辅助电流扩展电极通过蒸镀工艺制作在氧化锌透明电极上表面。氧化锌透明电极提高了透明度、延伸电极减少了对光的遮挡,从而提高了出光效率。

    一种LED灯具
    54.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102818161B

    公开(公告)日:2015-12-02

    申请号:CN201210324521.3

    申请日:2012-09-04

    Abstract: 本发明提供了一种LED灯具,包括:壳体,位于壳体内的LED灯泡,罩设在LED灯泡外围并与壳体相连的反光杯;沿反光杯的周向与其相连的菲涅尔透镜,其位于LED灯泡的顶端,且菲涅尔透镜向远离LED灯泡的方向凸出。上述LED灯具,通过在LED灯泡的顶端增设菲涅尔透镜,且菲涅尔透镜向远离LED灯泡的方向凸出,由菲涅尔透镜的光学特性可知LED灯泡发出的光到达菲涅尔透镜后发生折射,大部分光线平行于反光杯的中心线照射出去,即大部分光线以准直光线射出,减少了汇集在焦点的光线,从而减少了发散光线,进一步减小了LED灯泡发出的光的出射角,即进一步减小了LED灯具的出射角,从而进一步增大了LED灯具的照射距离。

    一种大数量LED灯具长时同时在线光电检测方法及其装置

    公开(公告)号:CN101625400A

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200910056425.3

    申请日:2009-08-14

    Abstract: 一种大数量LED灯具长时同时在线光电检测方法及其装置,属测试领域。其在各光电探测器信号输出端,设置前置放大器、A/D变换模块和无线发射模块,在终端微机系统信号输入端,设置一个受单片机控制的无线数据接收模块;无线数据接收模块和多个无线发射模块构成多对一的、星型网络拓扑结构的无线信号传输单元;将各光电探测器的输出信号进行数字化并按时序地且附有地址编码地进行无线发射,无线数据接收模块在单片机的控制下,对所有无线发射模块所发出的无线传输信号按地址编码进行自动巡检/接收并送入终端微机系统;终端微机系统进行实时自动巡检并采集各组LED灯具的光强变化数据,对每一被测灯具,实施测试管理和集中数据处理。

    一种发光二极管芯片制造方法

    公开(公告)号:CN100541850C

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200810042186.1

    申请日:2008-08-28

    Abstract: 一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。

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