一种基于自外差的宽带光电子集成芯片测试仪

    公开(公告)号:CN219392211U

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202320005437.9

    申请日:2023-01-03

    Inventor: 冀涵颖 邹新海

    Abstract: 本实用新型请求保护一种基于自外差的宽带光电子集成芯片测试仪,属于光电检测领域。其包括:双波长激光模块、电源模块、辅助电光调制器、辅助光电探测器、信号处理装置以及环形器,双波长激光模块经分束器后通过光路与辅助电光调制器相连,辅助电光调制器通过环形器与辅助光电探测器相连,辅助光电探测器的输出端通过电路与信号处理装置相连,所述电源模块分别与双波长激光模块、辅助电光调制器、辅助光电探测器及信号处理装置连接并供电。

    光电器件测试仪
    43.
    外观设计

    公开(公告)号:CN307985508S

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202330030003.X

    申请日:2023-01-18

    Designer: 冀涵颖 邹新海

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:光电器件测试仪。
    2.本外观设计产品的用途:光电器件测试。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于形状与图案的结合。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。

Patent Agency Ranking