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公开(公告)号：CN105718664A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610041630.2
申请日：2016-01-21
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5036
Abstract: 本发明公开了一种基于傅立叶级数与分形函数的大型天线轨道不平度建模方法，包括：轨道表面不平度进行测量，设定模型中傅立叶级数展开阶次初始值以及分形函数拟合长度初始值；采用傅立叶级数拟合大尺度轮廓，采用最小二乘法求解；检验傅立叶级数的准确性，确定傅立叶展开阶次；将傅立叶级数拟合残差作为分形函数拟合的对象，建立基于分形函数的优化模型，确定设计变量的上下限，采用遗传优化算法计算优化模型；检验分形函数拟合的准确性，确定分形函数拟合长度；检验不平度数学模型的准确性。本发明能描述轨道不平度的宏观轮廓和轨道的微观形貌，更加真实的反映了实际轨道粗糙面；为天线指向模型中轨道误差源提供了支持，具有较高的实际应用价值。
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公开(公告)号：CN105701297A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610024228.3
申请日：2016-01-14
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5036
Abstract: 本发明属于天线技术领域，具体公开了一种基于多点自适应代理模型的反射面天线机电耦合设计方法，其主要内容包括：在优化过程中，每次迭代时利用建立的全局和局部取样模型选取两个更新点，以同时提高代理模型的全局和局部预测能力；然后将该方法应用于天线的机电耦合优化中，从而达到提高设计质量和优化效率的目的。本发明的多点自适应代理模型方法在每次迭代时能够同时提高代理模型的全局和局部预测精度，可以很好的对复杂函数进行近似；对于反射面天线的机电耦合优化，能够在保证计算精度的情况下，大大降低天线在优化设计过程中的计算量，从而提高计算效率和设计质量，具有较高的实际应用价值。
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公开(公告)号：CN105161860A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510549051.4
申请日：2015-08-31
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于机电耦合与傅里叶变换的变形面阵天线电性能补偿方法，包括：1)确定面阵天线即M个线阵天线的参数；2)有限元分析得到振动环境下面阵天线的结构变形量；3)采用线阵天线机电耦合模型计算第i个线阵天线变形后的电性能；4)将该电性能分解为理想线阵电性能和线阵电性能变化项；5)分别对4)进行快速傅里叶变换得到补偿天线空间相位误差的激励电流幅度和相位的调整量；6)判断是否已计算了所有激励电流幅度和相位的调整量；7)将激励电流幅度和相位的调整量入机电耦合模型，计算变形面阵天线电性能；8)判断补偿后的变形面阵天线电性能是否满足指标要求。本发明可对服役的面阵天线保证具有良好电性能。
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公开(公告)号：CN105160310A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510527937.9
申请日：2015-08-25
Applicant: 西安电子科技大学
CPC classification number: G06K9/00335 , G06K9/6269
Abstract: 本发明公开了一种基于3D卷积神经网络的人体行为识别方法，主要用于解决计算机视觉和模式识别领域具体的人体行为的识别问题。其实现步骤为：(1)视频输入；(2)预处理，得到训练样本集和测试样本集；(3)构造3D卷积神经网络；(4)提取特征向量；(5)进行分类训练；(6)输出测试结果。本发明利用光流法实现对人体检测和运动估计，能够在不知道场景的任何信息的情况下，检测出运动对象。本发明在网络的输入为多维图像时表现的更为明显，使图像可以直接作为网络的输入，避免了传统识别算法中复杂的特征提取和数据重建过程，使得对人体行为的识别更加准确。
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公开(公告)号：CN103490172B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310436340.4
申请日：2013-09-23
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种确定变形反射面天线相位中心修正量的方法，主要解决现有技术对结构变形仿真不准，馈源调整依靠经验等不足。其技术方案是：（1）用最佳吻合参数表示变形反射面口径面的相位差；（2）将相位差带入远场计算公式中，基于一阶泰勒级数展开，推导天线远场场强对最佳吻合参数的敏度；（3）根据敏度信息，将远场场强与最佳吻合参数组成一个线性方程组；（4）根据测得的远场场强，基于MATLAB左除运算，求解上述线性方程组，得到最佳吻合参数的最小二乘解；（5）根据最小二乘解计算相位中心修正量，指导馈源调整。本发明能有效计算变形反射面天线的相位中心调整量，可用于对变形反射面天线馈源的调整。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104615836A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510077010.X
申请日：2015-02-12
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种星载微带阵列天线热变形对电性能影响的快速预测方法，包括：1)确定天线的几何模型参数、材料属性和电磁工作参数；2)建立天线结构有限元模型，确定约束条件，计算天线的阵面热变形；3)计算在热载荷环境下阵列天线中天线单元的结构变形量、中心节点偏移量和指向偏转量；4)计算微带天线单元的辐射方向图函数；5)计算相邻两天线单元在辐射场的空间相位差、口面相位误差；6)建立星载微带阵列天线机电耦合模型，绘制天线辐射场方向图；7)分析在热载荷环境下天线结构热变形对天线辐射性能的影响。本发明可用于快速评价天线结构热变形对天线辐射性能的影响，从而指导天线的热设计和结构设计，减少研制成本、缩短研制周期。
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公开(公告)号：CN104462651A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410625303.2
申请日：2014-11-07
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于稀疏排列的微波器件螺栓安装位置的快速确定方法，包括：1)确定微波器件的结构参数、材料属性和电磁工作参数；2)确定螺栓在介质基板上的安装区域；3)确定螺栓的布局参数；4)确定螺栓排布的初始方案，得到初始螺栓排布稀疏矩阵；5)建立微波器件的结构有限元模型，得到介质基板表面采样节点设计坐标；6)计算介质基板表面采样节点变形后的新坐标；7)得到变形介质基板表面空间曲面方程；(8)建立微波器件的电磁分析模型；(9)计算微波器件的传输性能参数；(10)判断当前螺栓稀疏排布形式下的微波器件传输性能是否满足要求。该方法通过改变螺栓的排布形式，使传输性能达到工程设计要求，指导微波器件结构设计。
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公开(公告)号：CN104360333A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410654337.4
申请日：2014-11-17
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/411
Abstract: 本发明属于雷达微弱信号检测技术领域，特别涉及一种同时校正一阶和二阶距离徙动的相参积累检测方法。其具体步骤为：在快时间域对回波信号进行傅里叶变换，得到只考虑一阶距离走动和二阶距离弯曲时快时间频域回波信号表达式；通过二阶keystone变换，对只考虑一阶距离走动和二阶距离弯曲时快时间频域回波信号表达式进行二阶距离弯曲校正，得到二阶距离弯曲校正后的二维时间域的回波信号；通过Hough变换，对二阶距离弯曲校正后的二维时间域的回波信号进行一阶距离走动校正，得出两次距离校正后的时间域的回波信号；对两次距离校正后的时间域的回波信号进行脉冲压缩、相参积累检测。
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公开(公告)号：CN104184555A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410445738.9
申请日：2014-09-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种适用于3D MIMO系统的基于双码本的预编码方法，其特征在于，在充分考虑实际信道空间特性的前提下，分别在垂直方向和水平方向上进行了两次预编码设计，由于垂直方向上信道相关性较大，因此垂直方向上采用了DFT码本，由于水平方向上格拉斯曼码本性能更好，因此水平方向上采用了格拉斯曼预编码方案，即DFT码本和格拉斯曼码本联合形成了本发明的预编码方法。本发明的有益之处在于：本发明的DFT码本和格拉斯曼码本联合所形成的双码本预编码方法与传统的预编码方案相比，极大地提高了用户的信号性能，有效降低了系统的误比特率。
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公开(公告)号：CN104063426A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410250446.X
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/30
CPC classification number: G01S7/4004
Abstract: 本发明公开了一种面向辐射和散射的有源相控阵天线结构公差的快速确定方法，包括：1)确定天线结构参数和电磁工作参数，给出初始结构公差；2)计算天线辐射因子和散射因子；3)将结构公差分配为天线单元在阵面内的安装位置误差和安装高度误差；4)计算阵面内相邻两天线单元在观察点处的辐射场空间相位差和散射场空间相位差，得到辐射场和散射场口面相位误差；5)计算远区辐射场和散射场方向图函数绘制辐射场和散射场方向图；6)计算相对于指标辐射场性能和散射场性能的变化量；7)判断是否满足设计要求。本发明能够快速给出合理的结构公差精度，降低加工和安装难度，减少研制成本，缩短研制周期。
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