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公开(公告)号:CN104616325B
公开(公告)日:2018-02-16
申请号:CN201510034164.0
申请日:2015-01-21
Applicant: 大连理工大学
IPC: G06T7/66
Abstract: 本发明一种快速高精度的大型复合材料构件表面直线结构光提取方法属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种图像质量评价方法及直线结构光光条中心提取方法。该方法针对大型复合材料构件表面直线结构光,基于高斯相似度图像质量评价建立光条评价标准,提出中心提取判定准则;采用激光结构光在复合材料表面形成的光照模型和空间信息变换关系,获得结构光光源的入射角度及摄像机的观察角度;通过所获得的结构光光源的入射角度及摄像机的观察角度对图像中结构光几何中心进行提取修正,从而得到实际光条中心。本发明采用基于高斯相似度图像质量评价方法对光条图像进行评价,精度较高,运算速度快,可满足大型零构件表面结构光条中心的快速高精度提取。
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公开(公告)号:CN107369140A
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201710504498.9
申请日:2017-06-29
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明非结构化环境下的高精密靶球中心提取方法属于双目视觉技术领域,涉及了一种在非结构化环境下的高精密靶球中心提取方法。该方法基于中值滤波与删除小面积的噪点对拍摄所得的图像进行去噪,并二值化处理等预处理,从而获取高精密靶球在图像中的轮廓点集。采用快速排序算法,对该轮廓点集进行针对y坐标的排序,获取表面灰度不均匀的高精密靶球轮廓上的用于椭圆拟合的有效拟合点集。采用椭圆拟合算法,算得图像中表面灰度不均匀的高精密靶球的轮廓中心所在的坐标值。该方法提取精度高,对后续摄像机标定、图像处理等操作具有一定意义;尤其提高了利用高精密靶球的标定方法的精度,对视觉测量精度有所提升。
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公开(公告)号:CN104897060B
公开(公告)日:2017-08-01
申请号:CN201510338809.X
申请日:2015-06-17
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明采用坐标跟踪控制板的大视场全局测量方法属于视觉测量领域,涉及一种采用坐标跟踪控制板的大视场全局测量方法。该测量方法采用了安装在转接支架上的坐标跟踪控制板,实现视觉测量设备与激光跟踪仪在具有非共同视场情况下的有效结合,将左右相机内外参数分离标定,建立测量现场的全局坐标系,从而完成基于大视场的全局测量。该方法可以实现对大视场范围内复杂工况下大型零部件快速高精度测量,是一种结合多种光学元器件的测量方式。测量方法视场范围大、效率高、方便测量被测零件遮挡部位,快速完成工业现场大视场的全局测量工作。
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公开(公告)号:CN106841206A
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201611179458.3
申请日:2016-12-19
Applicant: 大连理工大学
CPC classification number: G01N21/8851 , G01B11/24 , G01N2021/8887 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明大型零件化学铣削切割非接触在线检测方法属于激光测量技术领域,涉及一种测量大型零件化铣切割质量的非接触性在线检测方法。检测方法将双目视觉系统集成在机床的横梁上,通过调节双目视觉系统的位姿测得大型零件边界的局部数据;分别对双目摄像机内外参数、T‑Mac位姿进行标定,采集测量数据,对数据进行零件边界结构特征点提取,得到零件边界的局部三维信息。将局部测量数据统一到全局坐标系下,实现整体三维信息的测量与重建。该检测方法测量效率高,位姿调节方便,安装时不破坏机床原有结构,与零件无接触,精度高。具有能实时测量的优点,满足大型零件化铣切割质量检测的要求。
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公开(公告)号:CN106600645A
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201611050442.2
申请日:2016-11-24
Applicant: 大连理工大学
IPC: G06T7/80
CPC classification number: G06T2207/10012
Abstract: 本发明一种摄像机空间立体标定快速提取方法属于视觉测量领域,涉及一种基于直接线性变换法的摄像机空间立体标定快速提取方法。该方法在标定之前,先安装空间立体标定靶,再采用三坐标测量机进行测量,确定大、小陶瓷球靶标中心的精确三维位置信息。通过双目视觉系统中左、右摄像机对大、小陶瓷球靶标进行拍摄,提取图片中大、小陶瓷球靶标中心的特征信息,求得陶瓷球靶标中心的二位像素坐标;最后,在直接线性变换法基础上,求得左、右摄像机的内外参数,实现摄像机在三维空间的立体标定。本发明在直接线性变换法的基础上,应用双目视觉测量系统改进了现有三维立体标定方法在进行摄像机标定过程中的局限性,实现了摄像机的高精度标定。
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公开(公告)号:CN105698699A
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201610056600.9
申请日:2016-01-26
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2433
Abstract: 本发明属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种基于时间转轴约束的双目视觉测量方法。该方法结合电控转台的激光扫描速度和测量时间的计算,建立时间转轴约束,确定特征激光平面的空间精确位置,将图像误差转换为运动与时间的控制误差,实现激光特征信息的高精度重建。测量方法将基于图像的双目测量误差转换为基于时间转轴的控制误差,可使空间测量误差降低一个数量级,提高双目视觉的三维测量精度,并融合序列图像中激光光条重建信息完成被测物表面几何量的测量,实现被测物表面激光光条的高精度重建。
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公开(公告)号:CN105335988A
公开(公告)日:2016-02-17
申请号:CN201510618494.4
申请日:2015-09-25
Applicant: 大连理工大学
IPC: G06T7/60
Abstract: 本发明一种基于分层处理的亚像素中心提取方法属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种基于分层处理的亚像素中心提取方法。该方法采用分层处理,通过在不同分辨率图像中提取光条的特征信息,实现特征光条的高精度的亚像素中心提取。该方法首先通过对原图像的压缩,将高分辨率图像压缩为低分辨率图像,针对低分辨率图像提取光条的法向量;然后在高分辨率图像中,采用差分的方式计算高分辨率图像中光条的法向量。最后在光条法向量上采用灰度重心法计算光条中心,实现光条的亚像素中心的提取,并通过标准光条的重建验证了该提取方法的有效性。该方法测量精度高,运算速度快,计算时间短,实现了光条的亚像素提取,可满足光条中心的高精度快速提取。
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公开(公告)号:CN103616016B
公开(公告)日:2015-12-30
申请号:CN201310637704.5
申请日:2013-11-29
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明基于点线组合特征的位姿视觉测量方法属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种适用于高速运动分体式类圆柱体位姿测量方法。采用双目视觉系统采集高速运动类圆柱体表面点线组合特征,经过高速摄像机的标定、点线特征图像分割、特征标记的提取、特征标记匹配以及位姿求取五步得到目标轴线及其局部坐标系解算出目标位姿信息;点线组合特征是由加工于目标物前、后段的两个轴线与目标轴线重合的圆环反光标记和均匀分布于目标物中段圆周,且与前端圆环有不同距离约束的四点反光标记组成。本发明利用直线特征抗噪能力强,信息量大。配合点特征解决了类圆柱体轴线不易求取、求取精度低以及分体式目标重复装配所引起的表面标记不能精确定位问题。
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公开(公告)号:CN103727927B
公开(公告)日:2015-10-14
申请号:CN201310712376.0
申请日:2013-12-19
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明基于结构光的高速运动物体位姿测量方法属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种大视场小目标高速运动空间位姿测量方法。该测量方法是采用竖直激光条纹和辅助交叉激光,使用左、右高速摄像机拍摄辅助交叉激光,识别交叉点以及记录辅助交叉激光分别在左、右高速摄像机的成像位置;用左、右两台高速摄像机采集被测圆柱体以及竖直激光条纹的图像,将采集图像传递给图形工作站,利用由于被测圆柱体而产生的激光条纹变形部分到轴线的距离约束优化出目标轴线,最终求出目标物的位置、姿态信息。本发明利用激光条纹实现了不对高速运动目标物做任何处理就可高精度的求取其位姿信息,提高了图像采集质量,有效避免了噪点的影响。
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公开(公告)号:CN104930985A
公开(公告)日:2015-09-23
申请号:CN201510330853.6
申请日:2015-06-16
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明基于时空约束的双目视觉三维形貌测量方法属于计算机视觉测量技术领域,涉及一种基于时空约束的双目视觉三维形貌测量方法。该方法针对大型复合材料构件表面形貌,采用激光扫描双目视觉测量系统进行图像采集和图像处理;提取边缘信息,建立约束条件。结合时间维度信息预测光条位置,建立适度的感兴趣提取区域,快速高精度的提取对应左、右光条图像的激光光条中心;对在边界约束内的光条中心信息进行保留,对在约束外的光条中心信息予以剔除。将保留的光条中心信息和边界信息进行匹配和重建,最终还原完整的三维形貌信息。本发明提高了测量效率,测量精度高,检测信息完整,运算速度快,可满足大型零部件表面的三维形貌测量。
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