一种基于含时调制的声二极管

    公开(公告)号:CN103592019A

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201310579254.9

    申请日:2013-11-18

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: G10K11/04

    Abstract: 本发明提供了一种基于含时调制的声二极管,由声波导管中的椭圆柱与位于声波导管末端的滤波器构成。其中,椭圆柱位于滤波器的前面,声波导管为刚性材料,椭圆柱由电机带动旋转,滤波器由位于声波导管上、下两侧的赫姆霍兹共振腔组成。本发明的结构在工作波段,正向入射的声波经过旋转速度为65.5r/s的椭圆柱后部分频率跃迁了131Hz,可通过滤波器,而反向入射的声波先经过滤波器,直接被过滤掉,不能通过二极管。本发明不仅利用含时调制实现了声整流,而且可以通过改变结构参数和滤波器中心频率改变单向传播的工作频率,通过改变旋转速度和滤波器带宽可改变二极管带宽,是一种对角度不敏感、适应性强、结构简单、易实现、低成本的声二极管。

    一种多组元的1-3型复合微结构薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN101274737B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200810023800.X

    申请日:2008-04-28

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种多组元的1-3型复合微结构薄膜及其制备方法,该微结构薄膜包括材料A、材料B和材料C,其中材料A、B构成1-3型微结构薄膜的基体,材料C附着在材料B表面;材料C为单层或多层薄膜。其制备方法包括以下步骤:(1)在衬底表面制备相互隔离的柱状或螺旋状的材料B的微结构;(2)在材料B表面制备材料C,形成由材料B和材料C组成的微结构单元;(3)在所述微结构单元中填充材料A,即形成多组元的1-3型复合微结构薄膜。本发明结构新颖,制备简单,可在催化、能源、机械电子等领域获得应用。

    一种基于含缺陷折射率层状周期结构的动态可调滤波器

    公开(公告)号:CN101477256A

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:CN200910025099.X

    申请日:2009-02-18

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于含缺陷折射率层状周期结构的动态可调滤波器,包括周期性折射率调制的层状周期结构和声源,声源位于带半波缺陷的周期性折射率调制层状周期结构的一端,并与之保持稳定的刚性的低声学阻抗的接触。其特点是在有缺陷的折射率周期性调制的层状周期结构中通过不同方式导入一定频率和强度的声波,通过声波强度的变化调制层状周期结构中传播的缺陷模式的波长,通过声波波长的变化达到单波长-多波长输出的效果。本发明设计新颖,制备可行,在光通信、传感领域可有广泛的应用前景。

    基于亥姆霍兹共鸣腔的吸声散射体

    公开(公告)号:CN119314451A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411419303.7

    申请日:2024-10-12

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于亥姆霍兹共鸣腔的吸声散射体,其包括背板和若干腔体,每个腔体由共鸣腔和内嵌管组成,所述内嵌管两端开口且其末端深入腔体内部,所有内嵌管的顶端均位于腔体上表面所在水平面,末端位于腔体内部的同一水平面,所述内嵌管包括大孔内嵌管和小孔内嵌管,所述大孔的半径大于等于4mm且小于7mm,所述小孔的半径大于等于0.55mm且小于4mm。本发明所述吸声散射体在1000‑2000Hz频段内实现50%以上吸声,并具备声散射效果,散射中心频率3430Hz。本发明可同时满足材料的吸声与散射性能需求,并可按需定制,节省空间,污染小,使用寿命长。

    一种基于超快光声原理的离子注入缺陷高精度无损检测方法及系统

    公开(公告)号:CN117890467A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410063073.9

    申请日:2024-01-16

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于超快光声原理的离子注入缺陷高精度无损检测方法及系统,该检测方法包括:(1)对包含离子注入的样品进行基于超快光声技术的泵浦光激励,产生高频相干声脉冲,接着用探测光接收超声脉冲,获得瞬态反射率随时间变化的信号;(2)对获得的瞬态反射率信号进行处理,利用时域布里渊振荡原理,以及离子注入区域对振荡振幅的调制,用模拟未注入信号与实际有注入信号作差,获得离子注入缺陷的深度分布结果。同时,本发明搭建了基于超快光声原理的检测系统。本发明提供了一种十纳米量级高精度离子注入缺陷的深度分布测量方法及系统,实现了无接触式的在线可集成无损检测,解决了现有检测手段有损测量问题。

    带隙可调的拉胀声子晶体、应用及减振装置

    公开(公告)号:CN112687251B

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202011435172.3

    申请日:2020-12-10

    Abstract: 本申请涉及一种带隙可调的拉胀声子晶体、应用及减振装置。该带隙可调的拉胀声子晶体包括多个周期排布的三维反手性结构单元,三维反手性结构单元包括多个立方体,每个立方体的各表面均连接有连杆;拉胀声子晶体中,相邻两个立方体的相对面上的连杆相互连接,且该两个立方体位于该相互连接的连杆的同侧;及,拉胀声子晶体沿频率增加方向依次包括第一带隙和第二带隙,第二带隙宽于第一带隙,并且,在外力作用下拉胀声子晶体发生应变,第二带隙的宽度改变。上述拉胀声子晶体具有中高频的宽带隙,带隙可调,并且重量轻、体积小、易制备。

    一种热电材料薄膜面外方向塞贝克系数的检测方法及系统

    公开(公告)号:CN117740872A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311729034.X

    申请日:2023-12-15

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种热电材料薄膜面外方向塞贝克系数的检测方法及系统,该检测方法包括:(1)进行激光调制,使待测样品内部产生热波,在热波传播的不同时间,测量反射光信号和电压信号;(2)对反射光信号和电压信号进行处理,利用多层膜结构传热计算模型计算出测量时刻待测样品中热电材料薄膜与两个电极界面处的温度差,并用电压值除以温度差得到热电材料薄膜的塞贝克系数。本发明解决了薄膜面外方向塞贝克系数无法测量的问题,并利用调制激光的方式提升了TDTR系统的测量能力。

    流体检测装置、传声器及电子设备

    公开(公告)号:CN116165396A

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202111405550.8

    申请日:2021-11-24

    Abstract: 本申请提供了一种流体检测装置、传声器及电子设备,流体检测装置包括基底、第一电极对、第二电极对、以及并列间隔设置的加热单元和敏感单元,加热单元电连接于第一电极对的正电极和负电极,敏感单元电连接于第二电极对的正电极和负电极,敏感单元用于感应其所处的环境温度;敏感单元包括多根敏感丝,多根敏感丝沿垂直于敏感丝的长度方向并列分布;多根敏感丝串联或并联连接于第二电极对的正电极和负电极,本申请能够在不改变敏感丝的尺寸(例如长度、宽度、厚度等)、也无需提高工作温度的前提下,提高流体检测装置的信噪比。

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