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公开(公告)号：CN107727011B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201710826545.1
申请日：2017-09-14
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了选择性激光熔化制造过程中平面度和轮廓度在线测量方法，属于增材制造领域，其包括：S1成形坐标系的配准；S2将粉末运送至成形基板，利用面结构光三维测量方法对粉末层的进行平面度分析。若粉末层均匀，进入S3，否则返回S2；S3将粉末熔化成形，利用面结构光三维测量方法对成形层进行三维测量与平面度分析，若成形层的平面度满足要求，进入S4，否则进入S6；S4利用双目立体视觉原理对成形层的图像进行轮廓提取与三维重建，若成形层的轮廓度满足要求，进入S5，否则进入S6；S5检测零件是否加工完成。若加工完成，则进入S6；否则返回S2；S6结束加工。本发明方法能初步评估选择性激光熔化设备加工的零件的质量。
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公开(公告)号：CN109163674B
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201810994182.7
申请日：2018-08-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明属于三维测量的技术领域，并公开了一种面结构光自动化三维测量中传感器测量视点规划方法。该方法包括下列步骤：(a)采用多个立方体体积块包裹待测量对象的三维结构模型；(b)在每个体积块中构建六个半球面和候选测量视点；(c)将单个体积块与三维结构模型求交获得多个样条曲面，求解每个样条曲面的中心点、平均法矢和面积；(d)计算单个体积块中每个样条曲面的平均法矢在三维坐标系中的天顶角和方位角，确定每个样条曲面所属的区域；(e)计算候选测量视点的测量质量参数；(f)将每个候选测量视点对应的质量参数与预设阈值进行比较获得所需的测量视点。通过本发明，计算过程简单，自动化程度高，适用于复杂零件测量视点的规划。
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公开(公告)号：CN109163674A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201810994182.7
申请日：2018-08-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24
Abstract: 本发明属于三维测量的技术领域，并公开了一种面结构光自动化三维测量中传感器测量视点规划方法。该方法包括下列步骤：(a)采用多个立方体体积块包裹待测量对象的三维结构模型；(b)在每个体积块中构建六个半球面和候选测量视点；(c)将单个体积块与三维结构模型求交获得多个样条曲面，求解每个样条曲面的中心点、平均法矢和面积；(d)计算单个体积块中每个样条曲面的平均法矢在三维坐标系中的天顶角和方位角，确定每个样条曲面所属的区域；(e)计算候选测量视点的测量质量参数；(f)将每个候选测量视点对应的质量参数与预设阈值进行比较获得所需的测量视点。通过本发明，计算过程简单，自动化程度高，适用于复杂零件测量视点的规划。
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公开(公告)号：CN107727011A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710826545.1
申请日：2017-09-14
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了选择性激光熔化制造过程中平面度和轮廓度在线测量方法，属于增材制造领域，其包括：S1成形坐标系的配准；S2将粉末运送至成形基板，利用面结构光三维测量方法对粉末层的进行平面度分析。若粉末层均匀，进入S3，否则返回S2；S3将粉末熔化成形，利用面结构光三维测量方法对成形层进行三维测量与平面度分析，若成形层的平面度满足要求，进入S4，否则进入S6；S4利用双目立体视觉原理对成形层的图像进行轮廓提取与三维重建，若成形层的轮廓度满足要求，进入S5，否则进入S6；S5检测零件是否加工完成。若加工完成，则进入S6；否则返回S2；S6结束加工。本发明方法能初步评估选择性激光熔化设备加工的零件的质量。
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公开(公告)号：CN104864819B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201510025233.1
申请日：2015-01-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于数字散斑的高速三维应变测量方法。采用高速图像采集系统进行高速形变物体的采集，利用图像的散斑颗粒均值或者灰度梯度评价散斑图像质量，确保测量过程中，图像具有高相关性，高质量，有效提高测量的准确性；在此基础上，根据快速获取的变形物体图像序列对变形过程中的被测物体进行实时连续的三维重建和应变测量，从而最终实现对高速形变物体的三维应变测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104050661B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201410233862.9
申请日：2014-05-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种面扫描三维测量系统精度的实时调整方法。首先通过判断相机内外部参数是否符合当前工作状态要求来确定面扫描三维测量系统的精度是否符合要求，如果相机内外部参数符合当前工作状态要求则继续测量，否则利用Levenberg?Marquardt算法对相机内外部参数进行优化，使目标函数的平均值最小，此时认为相机内外部参数是最优的；接着判断目标函数的平均值是否小于误差阈值，是则用优化后的相机内外部参数继续测量，否则提示用户重新进行标定。本方法能实时、在线地进行精度自检测和相机参数自动优化，在不重复标定的情况下，能够使得相机的重投影误差平均值保持在0.0028像素左右达20天以上。
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公开(公告)号：CN103292734B
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201310200515.1
申请日：2013-05-27
Applicant: 华中科技大学
Inventor： 李中伟
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明属于精密三维测量领域，具体是一种相位测量系统伽玛值标定方法。本发明在理想的伽玛畸变模型的基础上，建立了考虑投影仪离焦现象的伽玛非线性响应模型，并在此基础上提出了一种新的易于实施的伽玛标定方法，步骤为①分别将相移数为L、γ′分别取1和大于1的正整数的两组光栅图像投射到被测目标上，并分别用工业相机拍摄得到两组光栅图像；②对于每一组光栅图像，计算k次谐波的幅值再分别计算得到和③分别计算相机图像中每个像素的γ和σ；④对相机图像中每个像素的γ取平均值，作为相位测量系统标定出的γ值。本发明能够有效消除系统伽玛非线性引起的相位误差。
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公开(公告)号：CN102155909B
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201010595952.4
申请日：2010-12-17
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01B7/28
Abstract: 本发明公开了一种基于扫描电镜的纳米尺度三维形貌测量方法。该方法将目前使用广泛的扫描电镜与宏观测量中的数字摄影测量有机结合起来。充分利用扫描电镜操作简单、可以拍摄出高放大倍数、大景深二维图像的特点，又有效地发挥了数字摄影测量方法可以从多角度拍摄的照片中自动、高精度地重建出被测物体表面完整三维数据的优势。通过使用扫描电镜在同样的放大倍数下从多个角度拍摄样件的照片，得到一组样件图片；对图片的畸变进行图像矫正；对矫正得到的图像通过数字图像相关算法进行重构，从矫正的图像和预先标定好的系统参数中重建出样件表面完整的三维点云数据，实现在纳米级精确测量样件局部范围内三维形貌的密集点云数据；从而实现对纳米级微型器件形貌的三维测量。
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公开(公告)号：CN101825445B
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN201010166876.5
申请日：2010-05-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种动态物体的三维测量系统，包括时钟同步控制器，DLP投影仪，二个CCD相机，图像采集卡和计算机；其中，DLP投影仪去掉了用于生产彩色图像的色轮，CCD相机的光心轴与DLP投影仪的光心轴夹角均在20至60度之间，并且测量时保持DLP投影仪与CCD相机的相对位置不变；计算机为带有基于计算统一设备构架的图形显卡；时钟同步控制器分别与DLP投影仪和CCD相机相连，DLP投影仪与计算机相连，CCD相机均通过图像采集卡与计算机相连。该系统的最显著地特征是测量速度快，能实时的计算并显示动态物体的三维信息。
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公开(公告)号：CN101082756A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710052547.6
申请日：2007-06-25
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种面结构光扫描装置，包括左CCD摄像头、右CCD摄像头和投影仪。投影仪位于框架内；安装架两端开有对称的左、右通槽，中部设有通孔，上述左、右通槽底部均开有两个阶梯孔，左CCD摄像头与左固定块固定连接，并通过第一、第二螺钉安装在安装架的左通槽的两个阶梯孔内；右CCD摄像头和右固定块固定相联，并通过第三、第四螺钉安装在安装架的右通槽的两个阶梯孔内；所述阶梯孔分别与螺钉相配合。本发明利用模块化的安装架，结构稳定紧凑，方便安装和卸载，并可以调整其测量范围；测量速度快，采集数据多；测量面积大，测量精度高，能够满足逆向工程及精度检测的需要。便携性好，可方便携带到测量现场，随时随地完成测量。
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