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公开(公告)号：CN101799279A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN201010151219.3
申请日：2010-04-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法，属于光学测量领域。首先，测量光纤的衍射波前透过分束棱镜，经显微物镜变换为能覆盖被测大相对孔径球面镜的测量波前，并在被测球面镜表面反射；携带被测球面镜面形信息的反射波前透过显微物镜，经分束棱镜反射后汇聚到参考光纤端面形成测量波前，并与参考光纤自身衍射的参考波前汇合而发生干涉；然后移走被测球面镜，其他光学元件保持不动，在显微物镜焦点处放置平面反射镜，用同样方法测量显微物镜、分束棱镜及参考光纤端面粗糙度所带入的像差。本发明分两步实现，且都利用了接近理想的点衍射球面波作为参考波前，能够实现大相对孔径球面面形的高精度测量。
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公开(公告)号：CN101354308B
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200810211257.6
申请日：2008-09-19
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种数字视差测量仪及测量方法。本发明包括光源、物镜、图像采集模块、计算机、机电平移台。光源通过目镜照明被测光学系统的分划板，光线透过望远物镜后进入物镜并在图像采集模块上成像，图像采集模块将所成图像传送给计算机，计算机控制机电平移台实现机电平移，机电平移台向计算机返回机电平移数据；物镜装卡于机电平移台上。本发明还可以包括分光系统，光线通过分光系统进入粗瞄摄像机，将采集到的视频信号传输给监视器，用于测量前的粗瞄对准。本发明用计算机来修正由环境变化引起的测量误差，具有精度高、速度快、客观性好的优点，可用于光学系统的检测与装配过程中的高精度视差测量。
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公开(公告)号：CN101762242A
公开(公告)日：2010-06-30
申请号：CN201010001177.5
申请日：2010-01-15
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种光学平面面形的绝对干涉测量方法，属于光学测量技术领域。该方法首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射，折向并透过平板分束镜，与参考光纤衍射并被平板分束镜反射的球面波前汇合而发生干涉；干涉图用标准方法分析和处理；该步测量得到被测平面镜和平板分束镜引入的像差。然后，移除被测平面镜，移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置，从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉；该步测量得到平板分束镜引入的像差；将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差，按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明实现了光学平面的全面形逐点、高精度干涉测量，是一种平面绝对干涉测量方法。
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公开(公告)号：CN101581556A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
IPC: F41G1/54
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN101315466A
公开(公告)日：2008-12-03
申请号：CN200810115600.7
申请日：2008-06-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明属于高分辨光学成像技术领域，涉及光瞳滤波合成孔径光学超分辨成像方法。该方法采用光瞳滤波技术和合成孔径光学成像技术，对被测物品进行成像检测，其通过合成孔径成像技术增大成像系统的视场、实现大口径或大工作距测量，通过超分辨光瞳滤波器提高子孔径成像系统的分辨率，最终实现大口径光学系统的超分辨成像检测。该方法可改善等效全口径成像系统的分辨力，减少光学系统子孔径的个数和子孔径间的间距，从而减小系统的体积、降低其复杂性。该方法可用于高分辨力、大视场角、大工作距和大口径光学成像场合，特别适用于空间遥感、对地观测、大工作距显微成像等技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101275870A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200810106360.4
申请日：2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法，属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb＝Lmax－bak/Ltar；相邻极值差对比度Cmax＝∑|Lmax－tar－Lmax－bak|/L组成特征向量输入BP神经网络，对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中，Ltar为四杆靶平均灰度值；Lmax－bak为靶间(背景)灰度极值；Lmax－tar为四杆靶灰度极值；L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器，或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像，处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态，输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别，减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差，具有客观判读和重复性好的特点。
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公开(公告)号：CN100389304C
公开(公告)日：2008-05-21
申请号：CN200610083776.X
申请日：2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪，包括一台通用机算机，一个电机控制箱，一个多光谱光源电控切换台，一个CCD摄像机，一个双频激光干涉仪；一台光电自准直仪；一个长基线分光镜组；一个长基线反射镜组；一个精密转台；一个平面反射镜组；一个数显读数表，一个三维调整台；本发明具有如下显著优点：双频激光干涉测角仪中，采用长基线镜组，使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高；采用测角和定位相分离的方法，容易实现光学角规的高精度测试标定；采用多谱线标定方法，可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值，扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号：CN100381806C
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200710063160.0
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统，包括：1)光源组件，包括光源和调制盘；2)发射单元，包括平行光管和可换光阑；3)接收单元，包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管；4)控制处理单元，包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏；其特征在于，将发射单元和接收单元做成分体结构，并且各个分体结构都可以独立升降或俯仰调整，满足折轴望远光学系统透过率的测试要求；为提高测量精度，系统采用了双光路方式，在一定程度上排除了光源、探测器、高压电源、放大器等部件的信号漂移，一次100%校准后可以在长时间内进行测量。
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公开(公告)号：CN101067547A
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″－10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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公开(公告)号：CN201177500Y
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200820079132.8
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本实用新型是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本实用新型由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本实用新型用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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