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公开(公告)号：CN107064783A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201611124333.0
申请日：2016-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法，所述FPGA芯片包括N个可配置逻辑块，每个所述可配置逻辑块包含两个切片，两个切片中均具有M个查找表，其中一个切片为被测电路，另一个切片为检测电路，所述检测电路包括：控制信号电路，发送控制信号；多个选择器，接收所述控制信号，连接被测电路中平级的查找表，或者连接SR_IN端口或上一级的触发器；时钟信号电路，发送时钟信号；以及多个所述触发器，接收所述时钟信号，所述触发器与检测电路中平级的选择器连接，且最下级的触发器与SR_OUT端口连接。本发明具有运行速度快、时序收敛、测试结果稳定可靠等优点。
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公开(公告)号：CN104465904B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201410794915.4
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种Piil式封装光电器件老炼转换器，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)。本发明将整个转换器设计为压紧板、限位板、中间板和电气连接板四层，在每层板上进行相应的改进，通过对被测器件的限位、压紧等，将原仅适用于带引脚光电器件的老炼板整体转换为适用于pill封装的光电器件老炼板，解决了pill封装光电器件的老炼问题。同时，本发明将封装转换夹具设计与老炼电路板设计合二为一，同时实现了封装转换与老炼功能，每次更换器件只需对整板进行操作，极大提高了效率。
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公开(公告)号：CN101694506A
公开(公告)日：2010-04-14
申请号：CN200910093793.5
申请日：2009-10-19
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种可移动式的单粒子试验器件加热温度控制装置及方法，该装置包括温度控制器、温度监视器、加热器、传感器、散热器、夹具、加热指示灯、停止加热指示灯和远程控制终端，其中加热器、传感器与散热器均为独立设计的器件，通过与特殊设计的凹字形夹具连接与配合，可以方便的实现对单粒子试验器件的加热温度控制，该结构设计为移动式温控装置，不依赖于单粒子试验源的种类，适用于各种单粒子试验器件的加热温度控制，并且加热器、传感器与散热器通过夹具与单粒子试验器件紧密接触，使得整个被测器件体积小巧，占用较小空间，方便安装于电路板上，适用于现有电装工艺。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119788579A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411753401.4
申请日：2024-12-02
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种1553B总线安全性测试装置，包括一个BC节点、两个RT节点、一个MT节点以及一个伪装节点。伪装节点接入总线，同时伪装节点能够动态切换BC模式和RT模式，在BC模式时，伪装节点发出与正常BC节点不同的数据，发起总线控制行为；在RT模式时，伪装节点地址将会被配置为总线中已存在的RT节点地址，模拟RT节点功能访问总线。采用本发明的装置可用于1553B总线协议架构安全性评测，检测1553B总线中是否存在安全性漏洞，验证总线中是否可嵌入恶意攻击节点，以及总线中的关键节点是否会被攻击者恶意利用，导致关键信息泄露或系统异常等后果。
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公开(公告)号：CN119719003A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411812265.1
申请日：2024-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F15/16 , G06F15/163 , G06F13/42 , G06F11/07
Abstract: 本发明一种星上高可靠人工智能微系统电子装置，包括：处理系统、存储系统、信号接口和高可靠加固系统；处理系统，通过信号接口接收外部数据，计算和处理星上对地观测数据信息，并将计算和处理结果存入存储系统中；存储系统，用于存储处理系统的数据；信号接口，用于接收外部数据，并将数据传输给处理系统；高可靠加固系统，用于对处理系统、存储系统、信号接口进行容错与故障防护。
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公开(公告)号：CN111124769B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201911055491.9
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种嵌入式TDP RAM模块测试电路，包括N个结构相同的测试单元、时钟信号、地址信号、第一数据输入信号、第二数据输入信号、数据输出信号、写使能信号、第一使能信号、第二使能信号、选择器控制信号与寄存器控制信号；每个测试单元包括被测存储器、3选1选择器模块和寄存器模块；每个被测存储器包括2组完全独立的数据读写总线端口：总线端口A与总线端口B。本发明提供的是一种通用的模块化测试电路设计，当需要进行大量TDP RAM测试时，只需将测试单元进行逻辑复制后再顺序级联即可。
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公开(公告)号：CN112528230B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202011455202.7
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置，所述方法包括：抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据；计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度；对处于预设范围内的精密度对应的参数进行批次修正。本发明适用范围更广，可以有效识别各种分布类型的元器件参数离群值，控制限与参数本征分布边缘更加贴近，最大程度避免由于非正态分布造成的误检和漏检。
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公开(公告)号：CN117538737A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311395955.7
申请日：2023-10-25
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3185 , G01R31/319
Abstract: 本发明涉及一种FPGA多工位动态老炼的配置电路与方法，包括：存储器、继电器、驱动器、时钟、主FPGA和N个从FPGA。本发明的与现有大多数技术方案相比，不需要专用的外部配置处理器/计算机/编程器，因此没有额外的开发成本，并且由被测FPGA作为主器件，上电即行，试验操作简便。本发明采用串行配置接口，使用的DUT配置端口数量较少，因此产生接触性问题的风险更低，可靠性更高。本发明考虑到了老炼板上不同从FPGA到主FPGA距离的不同，设计了配置时钟频率自适应的配置接口，可对距离较远的从FPGA自动降低配置频率，配置成功率更高。
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