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公开(公告)号：CN105953749A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610451777.9
申请日：2016-06-21
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
CPC classification number: G01B11/254
Abstract: 一种光学三维形貌测量方法，先按照实际测量要求，布置好由投影系统、相机组成的测量系统；然后根据测量需要设计条纹图并由投影系统投影到被测物体表面，被物体反射的条纹图由相机采样；再从采样条纹图解调出包裹相位，解包裹后得到条纹图的真实相位值；然后由远心镜头的放大率、相机像元大小及采样条纹图的图像坐标求解得到被测物体X、Y轴坐标；最后标定得到投影系统的相关参数，结合条纹相位，根据三角关系求得被测物体Z轴的坐标；本发明标定过程简单，既提高了三维坐标的求解速度又能达到更高的测量精度；一次标定即可保证之后所有测量的使用，效率很高。
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公开(公告)号：CN117492031A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311527763.7
申请日：2023-11-15
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01S17/931 , G01S17/08 , G01S17/86 , G01S7/48 , G01S7/495
Abstract: 本发明公开了一种车载测距传感器位姿偏移在线检测方法及系统，该方法适用于车位测距传感器相对位姿偏移的在线检测。所提方法的工作要点在于：通过标定激光器投射激光到路面，各车载测距传感器测量标定激光点处三维坐标，将各测距传感器所测得的标定激光点三维坐标统一到一个坐标系下，根据不同车载测距传感器间标定激光点所构成统一几何特征的差值量化车载测距传感器的位姿偏移大小，从而实现对车载测距传感器位姿偏移是否过大的判定。本发明所公开方法无需昂贵的标准件，也不需要任何环境特征，实施简单，抗干扰能力强。
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公开(公告)号：CN114659466B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202210325015.X
申请日：2022-03-30
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/245
Abstract: 本发明公开了一种基于事件相机的边移结构光三维测量方法，该方法使用结构光投影设备投影边移结构光图案序列至被测物体表面，由事件相机采集事件流，使用事件流数据计算被测物表面三维点云。本方法使用的边移结构光图案序列能够提高全场扫描的效率，便捷地实现动态三维测量。本方法将事件流数据转化为相位数据，借助成熟的相位解包裹算法，解决匹配歧义的问题。本方法操作方式简单、系统稳定性强、适应能力强。
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公开(公告)号：CN112945109B
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202110106587.4
申请日：2021-01-26
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了基于水平位移台的激光位移计阵列系统参数标定方法，该方法可将激光位移计阵列的系统参数以平行度参数、共面度参数、相对位置参数的方式标定出来。所述方法为：将带有标记点的平板固定在水平位移台上，将激光位移计阵列固定在夹持装置上；调整测量设备的相对位置关系；水平位移台每移动一段距离，便记录相应读数和带有标记点的平板图像；通过读数与实际距离求出平行度参数和共面度参数；通过图像处理求出相对位置参数。本方法得到的参数可用来调整阵列布置，同时可以求出激光光点的三维坐标，使后续测量更加精确。
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公开(公告)号：CN112945109A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110106587.4
申请日：2021-01-26
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了基于水平位移台的激光位移计阵列系统参数标定方法，该方法可将激光位移计阵列的系统参数以平行度参数、共面度参数、相对位置参数的方式标定出来。所述方法为：将带有标记点的平板固定在水平位移台上，将激光位移计阵列固定在夹持装置上；调整测量设备的相对位置关系；水平位移台每移动一段距离，便记录相应读数和带有标记点的平板图像；通过读数与实际距离求出平行度参数和共面度参数；通过图像处理求出相对位置参数。本方法得到的参数可用来调整阵列布置，同时可以求出激光光点的三维坐标，使后续测量更加精确。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110530287B
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：CN201910791454.8
申请日：2019-08-26
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于条纹级数不准度的解包裹相位误差检测与校正方法，该方法定义了一种新参量——条纹级数不准度，用于实现对相位图快速、准确的边缘检测，进而进行解包裹相位误差校正。所提方法的主要步骤包括：综合多频相位解包裹中的不同频率相位，计算得到条纹级数不准度，作为相位图边缘检测的媒介；基于条纹级数不准度的空间分布特征，制定相位图边缘判定准则，据此建立相位图边缘逐点检测方案，实现对解包裹相位图的边缘检测；对检测得到的相位图边缘及边缘所包围区域进行解包裹相位误差校正，得到正确的相位分布。本发明所公开方法将解包裹相位误差的检测与校正两个过程相分离，在保证解包裹相位误差校正鲁棒性的前提下，显著提高了对不连续表面相位进行误差校正的效率。
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公开(公告)号：CN110793463B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201910912992.8
申请日：2019-09-25
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于相位分布的解包裹相位误差检测与校正方法，该方法适用于采用信息辅助法进行相位解包裹时所得相位。所提方法的主要步骤包括：基于解包裹相位的梯度分布，设定阈值，求得相位图边缘；由检测得到的相位图边缘及闭合边缘所包围区域确定所有可能存在解包裹相位误差的点；最后对这些点进行误差校正，得到正确的相位分布。本发明所公开方法由于将相位误差检测与校正两个过程相分离，相位误差检测中也实现了对相位不连续区域的有效标记，因而在相位校正时无需借助质量图引导去避开不连续区域即可实现对各类区域解包裹相位误差的准确校正，兼具鲁棒性与效率。
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公开(公告)号：CN111397537A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010259048.X
申请日：2020-04-03
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种投影系统主点像素坐标求解方法，该方法利用计算机编码生成一定数量适当间距的横竖线段，使用投影系统将其投影到置于位移平台上的二维坐标尺上。利用投影系统的成像原理，结合投影线段与二维坐标尺上坐标线的位置关系，调整投影系统位姿，使主光轴与二维坐标尺所在平面垂直。随后利用位移平台使二维坐标尺沿投影系统主光轴方向移动，记录坐标变化，重复移动、记录多次之后，即可逐渐缩小主点所在区域的范围，并最终求得主点像素坐标。本发明对于修正圆结构光投影三维轮廓测量术的物理模型、减小系统误差、为结构光投影三维测量提供必需参量具有重要作用，且有助于提高基于结构光投影系统进行三维测量的相关技术的测量精度。
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公开(公告)号：CN110793463A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201910912992.8
申请日：2019-09-25
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于相位分布的解包裹相位误差检测与校正方法，该方法适用于采用信息辅助法进行相位解包裹时所得相位。所提方法的主要步骤包括：基于解包裹相位的梯度分布，设定阈值，求得相位图边缘；由检测得到的相位图边缘及闭合边缘所包围区域确定所有可能存在解包裹相位误差的点；最后对这些点进行误差校正，得到正确的相位分布。本发明所公开方法由于将相位误差检测与校正两个过程相分离，相位误差检测中也实现了对相位不连续区域的有效标记，因而在相位校正时无需借助质量图引导去避开不连续区域即可实现对各类区域解包裹相位误差的准确校正，兼具鲁棒性与效率。
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公开(公告)号：CN109489586A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811575115.8
申请日：2018-12-21
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，先搭建离轴圆条纹投影测量系统，设计一种二维刻度尺；再生成一幅十字线图像，借助测量系统的投影单元对十字线图像投影，投影到二维刻度尺上，记录十字线图像中心在二维刻度尺上的十字线中心物理坐标和十字线中心像素坐标；然后借助测量系统的成像单元对二维刻度尺成像，选定成像点，记录成像点像素坐标及在二维刻度尺上的成像点物理坐标；最后由十字线中心物理坐标、成像点像素坐标、成像点物理坐标以及离轴圆条纹投影测量系统参数，建立方程，求解得到离轴圆条纹投影测量系统测量时采样圆条纹图的零相位点像素坐标；本发明有助于提高圆条纹投影轮廓术的三维测量性能。
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