公开(公告)号：CN112945109B

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202110106587.4

申请日：2021-01-26

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 赵宏 ,  高旭 ,  张春伟 ,  张振洋 ,  赵金磊 ,  鲍勍慷 ,  刘发恒 ,  燕家兴

IPC: G01B11/02 ,  G01B11/00

Abstract: 本发明公开了基于水平位移台的激光位移计阵列系统参数标定方法，该方法可将激光位移计阵列的系统参数以平行度参数、共面度参数、相对位置参数的方式标定出来。所述方法为：将带有标记点的平板固定在水平位移台上，将激光位移计阵列固定在夹持装置上；调整测量设备的相对位置关系；水平位移台每移动一段距离，便记录相应读数和带有标记点的平板图像；通过读数与实际距离求出平行度参数和共面度参数；通过图像处理求出相对位置参数。本方法得到的参数可用来调整阵列布置，同时可以求出激光光点的三维坐标，使后续测量更加精确。

公开(公告)号：CN112945109A

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN202110106587.4

申请日：2021-01-26

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 赵宏 ,  高旭 ,  张春伟 ,  张振洋 ,  赵金磊 ,  鲍勍慷 ,  刘发恒 ,  燕家兴

IPC: G01B11/02 ,  G01B11/00

Abstract: 本发明公开了基于水平位移台的激光位移计阵列系统参数标定方法，该方法可将激光位移计阵列的系统参数以平行度参数、共面度参数、相对位置参数的方式标定出来。所述方法为：将带有标记点的平板固定在水平位移台上，将激光位移计阵列固定在夹持装置上；调整测量设备的相对位置关系；水平位移台每移动一段距离，便记录相应读数和带有标记点的平板图像；通过读数与实际距离求出平行度参数和共面度参数；通过图像处理求出相对位置参数。本方法得到的参数可用来调整阵列布置，同时可以求出激光光点的三维坐标，使后续测量更加精确。