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公开(公告)号：CN115082613A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210829013.4
申请日：2022-07-15
Applicant: 北京环境特性研究所 , 中国人民解放军63921部队 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及计算机图形处理技术领域，特别涉及一种目标辐射亮度计算方法、装置及终端设备。本申请方法应用于终端设备，该终端设备包括中央处理器CPU和图形处理器GPU，且终端设备中配置有光线追踪应用程序Optix框架，该方法包括：CPU获取仿真模型，仿真模型包括目标模型、相机模型和光源模型；将仿真模型转移至GPU；GPU构建目标模型的加速结构；GPU基于Optix框架启动仿真模型的光线追踪，并利用加速结构对光线追踪进行加速，获取光线追踪结果；GPU根据光线追踪结果确定目标辐射亮度；GPU将目标辐射亮度发送给CPU。本申请提供的目标辐射亮度计算方法在保证计算精度的同时，计算效率高。
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公开(公告)号：CN108344698B
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN201810156948.4
申请日：2018-02-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法，属于光学常数测量技术领域。本发明是为了解决由于样品表面粗糙度的存在，使采用椭偏法测量的材料光学常数存在误差的问题。它包括：获取粗糙表面样品的椭偏参数、均方根粗糙度σ和自相关长度ζ；将椭偏参数作为粗糙表面样品光学常数的函数并用一阶泰勒级数展开；定义目标函数和迭代的终止条件，结合电磁第一性原理和迭代公式计算光学常数。本发明用于获得粗糙表面的光学常数。
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公开(公告)号：CN110079774A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910245668.5
申请日：2019-03-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种基于近场热辐射的热致相变热控皮肤及其在航天器中的应用。该热致相变热控皮肤，从下至上包括基底、内层膜系、外层膜系和保护层，并且内层膜系和外层膜系之间具有间隔物，所述间隔物使内层膜系和外层膜系之间形成有间距为微纳米量级的真空间隙；和所述内层膜系包含由热致相变材料组成的热致相变膜层；所述保护层具有高红外发射率或同时具有高红外发射率和低太阳光谱吸收率。这一热致相变热控皮肤一方面具有良好的空间环境适应性，解决了相变材料因直接暴露于太空环境而产生的性能退化问题，另一方面能提供窄温区内较大的发射率调节范围，可以应用在航天器中。
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公开(公告)号：CN108344698A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810156948.4
申请日：2018-02-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 基于电磁第一性原理反演粗糙表面光学常数的椭偏方法，属于光学常数测量技术领域。本发明是为了解决由于样品表面粗糙度的存在，使采用椭偏法测量的材料光学常数存在误差的问题。它包括：获取粗糙表面样品的椭偏参数、均方根粗糙度σ和自相关长度ζ；将椭偏参数作为粗糙表面样品光学常数的函数并用一阶泰勒级数展开；定义目标函数和迭代的终止条件，结合电磁第一性原理和迭代公式计算光学常数。本发明用于获得粗糙表面的光学常数。
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公开(公告)号：CN104502282B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201510030651.X
申请日：2015-01-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 考虑光子晶体表面氧化膜分布的偏振特性数值计算方法，本发明涉及偏振特性数值计算方法。本发明为了解决现有的技术未考虑不同位置处膜厚的不均匀性及工作量大、速度慢的问题。具体是按照以下步骤进行的：步骤一、在已知光子晶体结构参数的情况下，通过FDTD数值模拟方法，求得光子晶体上方的空间电磁场分布；步骤二、计算辐射偏振特性，用光学椭偏参数表示；步骤三、计算穆勒矩阵元素，建立数据库；步骤四、利用仪器对光子晶体表面的光学椭偏参数进行测量，并计算穆勒矩阵元素，然后与数据库对比，得到对应的光子晶体表面氧化膜厚度及氧化膜分布不同位置。本发明应用于测量光子晶体表面氧化膜领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104880161A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201510341853.6
申请日：2015-06-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 一种利用椭偏参数测量固体材料表面粗糙度的方法，本发明涉及测量固体材料表面粗糙度的方法。本发明的目的是为了解决现有技术测量方法原子力显微镜速度慢、扫描电子显微镜需要测量样品能够导电以及光切显微镜精度不高的问题。通过以下技术方案实现的：步骤一、对不同固体材料粗糙表面特征参数进行模拟计算，即通过三维时域有限差分法求得该固体材料粗糙表面近场的空间电磁场分布；步骤二、通过近远场变换求得远场的复电场，计算镜反射方向的辐射偏振特性，并建立数据库；步骤三、当固体材料生产完成后，对该固体材料表面的光学椭偏参数进行测量，并与数据库比对，得到均方根粗糙度和自相关长度。本发明应用于测量表面粗糙度领域。
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公开(公告)号：CN104634761A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510069532.5
申请日：2015-02-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/51
Abstract: 基于GPU并行加速的悬浮溶液辐射特性参数反演的方法，本发明涉及GPU并行加速的悬浮溶液辐射特性参数的方法。本发明为了解决现有技术中悬浮溶液辐射特性参数测量结果准确率低，以及耗费大量的计算机的问题。具体是按照以下步骤进行的：步骤一、准备待测悬浮溶液，将待测悬浮溶液装在石英玻璃做的样品容器中；步骤二、测量装有悬浮溶液的样品容器的BSDF，获得不同散射方向的一组BSDF实验测量数据BSDFexp；步骤三、基于GPU加速算法结合优化算法进行样品容器悬浮液的辐射特性参数的反演，悬浮溶液的辐射特性参数为消光系数β、散射系数σs和不对称因子g。本发明应用于悬浮溶液光学特性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN120018637A
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202510152930.7
申请日：2025-02-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明为了调节近场热光伏系统的辐射传输光谱分布，使其与半导体带隙间形成较好的匹配，同时减少热光伏电池表面声子极化激元的潜在影响，从而提出一种含非极性光子晶体薄膜的近场热光伏系统。涉及热光伏技术领域。本发明通过在热光伏电池表面覆盖非极性二维光子晶体的表面结构，选择纳米方格光栅作为硅中间层的图案。确定出影响纳米结构均匀特性的两个关键参数周期长度和填充率，通过调节参数实现热辐射传输光谱调节和辐射光谱与半导体电池带隙间的良好匹配。采用未掺杂的硅作为光子晶体介质材料，在极性介质与真空间隙间增加非极性的中间层，抑制表面模式的激发，减少附加辐射吸收损失。本发明适用于近场热光伏系统的输出功率与转换效率提升。
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公开(公告)号：CN116182130A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310443394.7
申请日：2023-04-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及电站锅炉技术领域，特别涉及一种零碳排放电站锅炉系统。技术问题为目前的锅炉系统碳排放较高。该电站锅炉系统包括热化学反应单元和发电单元；热化学反应单元包括反应物储料仓、物料输送装置、蒸汽发生装置和反应室，反应物储料仓储存有用于非燃烧水基热化学反应的固体颗粒，反应物储料仓中的固体颗粒通过物料输送装置至反应室，蒸汽发生装置用于产生水蒸气，蒸汽发生装置产生的水蒸气通过蒸汽泵传输至反应室；发电单元包括水冷壁、发电储水装置、汽轮机组和发电机，水冷壁套设在反应室外，发电储水装置与水冷壁的进口连接，汽轮机组与水冷壁的出口连接，汽轮机组与发电机连接。本发明实施例提供的电站锅炉系统能够实现零碳排放发电。
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公开(公告)号：CN115329625A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210859879.X
申请日：2022-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/25 , G06F111/06 , G06F113/26
Abstract: 光学薄膜材料光学常数反演优化方法及装置、半透明光学薄膜材料光学常数检测方法及装置，涉及光学性质领域。针对现有技术中存在的，致采用椭偏测量无法得到半透明光学薄膜的光学常数的问题，本发明提供的技术方案为：光学薄膜材料光学常数检测方法，包括：步骤1：采集伪光学常数；步骤2：采集搜索范围内参数的初值，作为迭代参数；步骤3：采集迭代参数对应的入射偏振光波长和角度；步骤4：根据迭代参数和的波长和角度获得椭偏参数；步骤5：根据椭偏参数计算当前迭代参数的适应度；步骤6：判断适应度是否满足预设条件，满足则输出当前迭代参数作为结果，不满足则返回并依次执行步骤2至步骤6。适合应用于探索半透明光学薄膜的光学常数。
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