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公开(公告)号：CN111398777A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010163778.X
申请日：2020-03-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28 , G01R31/316
Abstract: 基于合成偏差的模拟电路测试激励优化方法，涉及模拟电路故障检测领域。本发明是为了解决脉冲激励对于特征微弱的潜在故障不能有效激励的问题。本发明采集被测电路中所有元件的敏感频率，并将所有元件的敏感频率构成被测电路的敏感频率集，采用贪婪算法对敏感频率集进行去冗余处理，获得优化后的测试激励。能够更好激发元器件特征微弱的潜在故障特征，在减少测试激励集规模的同时提高了模拟电路潜在故障的检测率。
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公开(公告)号：CN108468862B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201810516698.0
申请日：2018-05-25
Abstract: 本发明提供的是一种用于海底管道磁记忆检测的水下机器人，主要为了解决常规ROV对海底管道尤其卧在海床上的管道底部检测不到的难题。其特征在于：本装置包括ROV本体、喷枪除沙机构、附管爬行夹持机构、可变径传感器检测机构以及泥沙抚平机构；其中，ROV本体作为载体为其它装置提供支撑和动力，喷枪除沙机构用于对管道上和底部泥沙的清理，附管爬行夹持机构用于夹持不同直径的管道并实现二次清扫，以确保卡爪上的万向滚轮紧贴于管道爬行不打滑；可变径传感器检测机构用于实现传感器对不同直径管道的锁紧抱合检测。本发明可实现在较深水域、泥沙覆盖等复杂情况下海底管道的整周全方位无死角检测。
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公开(公告)号：CN110135088A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910420731.4
申请日：2019-05-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50 , G01R31/316
Abstract: 基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法，属于电子系统可靠性领域。电路早期故障状态和正常工作状态有较大混叠难以区分，导致检测结果不理想。基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法，确定电路的输出信号及分析电路中可能存在的退化源作为电路的关键元器件；建立关键元器件的退化模型，通过仿真实验获取退化数据；对电路的输出信号进行特征提取，提取出能够反映输出信号退化的特征参数；建立基于退化的特征参数的正常包络模型并进行检测，完成电路的早期故障检测。
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公开(公告)号：CN110058113A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910368166.1
申请日：2019-05-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/02
Abstract: 一种针对硅通孔漏电故障的绑定后硅通孔测试结构及方法，涉及集成电路测试领域。本发明是为了解决传统的硅通孔测试结构测量精度低、有误故障时测量误差小、且无法确定故障点的问题。本发明所述的一种针对硅通孔漏电故障的绑定后硅通孔测试结构，包括传统的基于环形振荡器的硅通孔测试电路和用于降低环形振荡器的频率的RC电路。本发明针对硅通孔的绑定后测试，所检测的故障为硅通孔的漏电故障。当硅通孔接入时，使测试结构输出信号的周期对硅通孔的漏电故障更加敏感，使测试成本降低，使诊断结果受测量误差影响更小，适用于检测微小的漏电面积。
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公开(公告)号：CN107085179B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710335823.3
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法，本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括：步骤一：获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下，在全频带范围工作的特征信息；步骤二：根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数；步骤三：得到紧密度函数曲线；步骤四：选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108829978A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810638144.8
申请日：2018-06-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于统计特征评估与高斯过程回归的直流电源在线异常检测方法，本发明涉及直流电源在线异常检测方法。本发明为了解决现有方法对于电路结构未知的直流电源不能有效进行在线异常检测以及计算量大的问题。本发明首先，获得直流电源的正常输出作为高斯回归过程的训练集，利用高斯回归过程预测正常输出区间；其次，获得预测的正常区间的上下限输出，并计算对应的七个统计特征值，得到每个统计特征值对应的上下限值，作为在线输出的每个统计特征特征值的界限；最后，将在线输出的七个统计特征值与其对应的上下限值进行比较，若输出的七个特征值至少有一个超过了其对应的上下限值，则说明此时输出中存在异常状态。本发明用于直流电源在线异常检测领域。
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公开(公告)号：CN104849651B
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201510271269.8
申请日：2015-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 一种硬件电路的在线检测逻辑单元，涉及逻辑单元在线检测领域。本发明是为了解决现有的查找表加上触发器的基本逻辑单元的结构缺少判断基本逻辑单元故障和对故障的应对机制，一旦发生故障，导致整个电路包括其他正常工作的基本逻辑单元都将被放弃使用，从而造成资源浪费，硬件使用率低的问题。本发明2选1的多路选择器用于根据输入的配置位，确定逻辑单元的输出，检验位生成电路将4路信息位变换为3路伯格码校验位，结合比较器判断组合逻辑功能是否有故障，异或门用于判断时序逻辑功能是否发生故障，或门用于接收时序逻辑功能故障检验结果和组合逻辑功能故障检验结果，并对其进行或逻辑，判断逻辑单元是否发生故障。它用于在线检测逻辑单元。
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公开(公告)号：CN103530479B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201310528762.4
申请日：2013-10-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 基于Perl的EDIF网表级电路的部分可测性设计系统及部分可测性设计方法，涉及数字逻辑电路可测性技术领域。为了提升电路可测性，降低可测性成本，减少由于电路可测性设计新增电路部分带来的硅片面积的消耗。系统包括预处理部分、可测性设计部分和验证部分，预处理部分用于完成对EDIF电路的转换，对具有层次设计的电路进行展开，获得便于后期处理的电路；可测性设计部分用于完成对电路的部分可测性设计过程；方法步骤：对电路进行分析和展开；对电路中使用的触发器进行分析；对电路中使用的被设计人员所选择的那部分触发器进行可测性的改造；对电路中进行可测性改造的那部分触发器进行扫描链的设计；验证修改结果。本发明方便电路的可测性设计和测试。
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公开(公告)号：CN103364711B
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201310329417.8
申请日：2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j
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公开(公告)号：CN104849651A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510271269.8
申请日：2015-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 一种硬件电路的在线检测逻辑单元，涉及逻辑单元在线检测领域。本发明是为了解决现有的查找表加上触发器的基本逻辑单元的结构缺少判断基本逻辑单元故障和对故障的应对机制，一旦发生故障，导致整个电路包括其他正常工作的基本逻辑单元都将被放弃使用，从而造成资源浪费，硬件使用率低的问题。本发明2选1的多路选择器用于根据输入的配置位，确定逻辑单元的输出，检验位生成电路将4路信息位变换为3路伯格码校验位，结合比较器判断组合逻辑功能是否有故障，异或门用于判断时序逻辑功能是否发生故障，或门用于接收时序逻辑功能故障检验结果和组合逻辑功能故障检验结果，并对其进行或逻辑，判断逻辑单元是否发生故障。它用于在线检测逻辑单元。
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