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公开(公告)号：CN107133476B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201710335811.0
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107085179B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710335823.3
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法，本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括：步骤一：获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下，在全频带范围工作的特征信息；步骤二：根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数；步骤三：得到紧密度函数曲线；步骤四：选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。
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公开(公告)号：CN104849651B
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201510271269.8
申请日：2015-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 一种硬件电路的在线检测逻辑单元，涉及逻辑单元在线检测领域。本发明是为了解决现有的查找表加上触发器的基本逻辑单元的结构缺少判断基本逻辑单元故障和对故障的应对机制，一旦发生故障，导致整个电路包括其他正常工作的基本逻辑单元都将被放弃使用，从而造成资源浪费，硬件使用率低的问题。本发明2选1的多路选择器用于根据输入的配置位，确定逻辑单元的输出，检验位生成电路将4路信息位变换为3路伯格码校验位，结合比较器判断组合逻辑功能是否有故障，异或门用于判断时序逻辑功能是否发生故障，或门用于接收时序逻辑功能故障检验结果和组合逻辑功能故障检验结果，并对其进行或逻辑，判断逻辑单元是否发生故障。它用于在线检测逻辑单元。
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公开(公告)号：CN104849651A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510271269.8
申请日：2015-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3177
Abstract: 一种硬件电路的在线检测逻辑单元，涉及逻辑单元在线检测领域。本发明是为了解决现有的查找表加上触发器的基本逻辑单元的结构缺少判断基本逻辑单元故障和对故障的应对机制，一旦发生故障，导致整个电路包括其他正常工作的基本逻辑单元都将被放弃使用，从而造成资源浪费，硬件使用率低的问题。本发明2选1的多路选择器用于根据输入的配置位，确定逻辑单元的输出，检验位生成电路将4路信息位变换为3路伯格码校验位，结合比较器判断组合逻辑功能是否有故障，异或门用于判断时序逻辑功能是否发生故障，或门用于接收时序逻辑功能故障检验结果和组合逻辑功能故障检验结果，并对其进行或逻辑，判断逻辑单元是否发生故障。它用于在线检测逻辑单元。
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公开(公告)号：CN107133476A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710335811.0
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。
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公开(公告)号：CN107085179A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710335823.3
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/316
CPC classification number: G01R31/316
Abstract: 一种基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法，本发明涉及基于紧密度评价的模拟电路故障检测中测试激励生成方法。本发明为了解决现有技术对故障特征本身比较微弱的故障状态的故障检测率会较低的问题。本发明组成包括：步骤一：获取电路在N次正常工作状态和N次任意元件H处于故障状态下，在全频带范围工作的特征信息；步骤二：根据特征信息计算待测电路在全频带下N次任意元件H处于故障状态时特征值超出正常工作范围的量值大小与次数；步骤三：得到紧密度函数曲线；步骤四：选择紧密度函数曲线中紧密度函数值取最大时对应的测试激励作为检测元件H的测试激励。本发明用于模拟电路故障检测领域。
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