公开(公告)号：CN115443413B

公开(公告)日：2025-05-23

申请号：CN202080100077.X

申请日：2020-08-31

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 崔昌明 ,  黄俊林 ,  黄宇 ,  付海涛

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种芯片测试电路及电路测试方法，可用于EDA软件中对芯片电路进行测试，用于解决目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置复杂的问题。该测试电路将测试向量的输入数据通过测试总线的输入传输至数据分发电路(301)中，通过数据分发电路(301)传输至被测电路(01)的扫描输入通道，被测电路(01)扫描结束后，被测电路(01)的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路(301)传输至测试总线的输出完成被测电路(01)的测试，通过对第一选择器(302)的配置实现数据分发电路(301)与测试总线(02)的动态对应关系，使得测试资源能够得以动态分配，极大程度地优化了绕线拥塞的问题，以便降低测试成本，并且可以简化配置过程，从而提高测试效率。

公开(公告)号：CN120012671A

公开(公告)日：2025-05-16

申请号：CN202311534228.4

申请日：2023-11-16

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 甄慧玲 ,  罗万千 ,  王乃行 ,  袁明轩 ,  黄宇 ,  田光骥

IPC: G06F30/33 ,  G06F30/327

Abstract: 本公开的实施例提供了用于芯片逻辑验证的方法、设备、装置、介质和程序产品，涉及芯片设计工具领域。该方法包括：构建表征子逻辑电路的与非图(and‑inverter graph，AIG)，子逻辑电路包括第一电路的至少一部分和第二电路的至少一部分；基于与非图确定分量图(component graph)，分量图包括与子逻辑电路中的电路功能模块对应的节点，并且电路功能模块包括与非图中的与门和反相器。方法还包括：基于分量图，确定第一电路与第二电路之间的逻辑等价性。以此方式，通过利用分量图来验证逻辑等价性，可以利用电路结构信息来求解逻辑等价性验证问题，并且可以减小求解模型的规模，从而提高验证逻辑等价性的效率。

公开(公告)号：CN118468776A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202310152290.0

申请日：2023-02-08

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 黄宇 ,  王柳峥 ,  王亚宁

IPC: G06F30/333 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3185

Abstract: 本公开的实施例提供了用于扫描测试的电路系统、方法、装置、介质和程序产品，涉及芯片设计工具领域。所提供的电路系统包括第一观测单元以及与第一观测单元串联连接以形成具有反馈路径的多输入特征寄存器(multi‑input signature register,MISR)的第二观测单元。第一观测单元被配置为在测试响应压缩模式中，至少基于第一移位值和待测电路中的第一观测点处的值，生成第一扫描观测值。第二观测单元被配置为在测试响应压缩模式中，基于第一扫描观测值、第二移位值和待测电路中的第二观测点处的值，生成第二扫描观测值。以此方式，通过在移位周期中捕获待测电路中的观测点处的多个值，并且将多个值压缩为用于观测故障的扫描观测值，可以提高芯片测试的效率。

公开(公告)号：CN118283014A

公开(公告)日：2024-07-02

申请号：CN202211716665.3

申请日：2022-12-29

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 张莹莹 ,  黄宇 ,  吴浩然 ,  周永强

IPC: H04L65/60 ,  H04L65/65 ,  H04R3/00

Abstract: 一种音频流传输方法及装置，应用于第一电子设备与第二电子设备组成的通信系统中，用于解决通信系统中第二电子设备无法识别音频类型的问题。该方法包括：第一电子设备确定第一音频流对应的第一音频类型；第一音频流为第一电子设备的待播放的音频流；第一电子设备向第二电子设备发送第一音频流报文，第一音频流报文包含第一音频流和类型指示信息，类型指示信息用于指示第一音频流的音频类型为第一音频类型。第二电子设备根据第一音频类型播放第一音频流。由于第二电子设备接收到的第一音频流报文中包含第一音频流和类型指示信息，使得第二电子设备能够根据第一音频类型，播放第一音频流，从而实现第二电子设备对音频类型的识别。

公开(公告)号：CN118209833A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202211624554.X

申请日：2022-12-16

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 甄慧玲 ,  王乃行 ,  黄薪月 ,  杨飞 ,  袁明轩 ,  黄宇

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请实施例提供了一种芯片故障分析方法，应用于包括Q个电路节点的芯片中，其中，该方法包括：获取第一信息，所述第一信息用于指示至少一个电路节点组，所述至少一个电路节点组中每个电路节点组包括所述Q个电路节点中的多个电路节点，同一电路节点组中的电路节点的赋值具有相关性；根据所述第一信息，确定M个目标电路节点；根据所述M个目标电路节点，确定N个第一电路节点，每个第一电路节点与所述M个目标电路节点中至少一个目标电路节点物理连接；根据所述M个目标电路节点的赋值，确定所述N个第一电路节点中每个第一电路节点的赋值。本申请技术方案能够充分利用优化过程中的冲突信息完成故障分析，从而加速覆盖率和良率爬坡。

公开(公告)号：CN117581229A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202180099832.1

申请日：2021-06-28

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 甄慧玲 ,  陈妙慧 ,  袁明轩 ,  王乃行 ,  罗万千 ,  黄宇

IPC: G06F30/33

Abstract: 一种基于自动测试向量生成的电路验证方法与装置。电路验证方法中，对待测电路中的目标线执行：在目标线对应的扇出逻辑锥中确定待检测的第一逻辑锥(S701)；根据第一逻辑锥在目标线对应的扇入逻辑锥中确定待检测的第二逻辑锥(S702)；基于第一逻辑锥和第二逻辑锥生成第一CNF，并利用第一CNF对目标线进行检测，得到第一检测结果(S703)；若第一逻辑锥是扇出逻辑锥中的部分区域，且第一检测结果满足第一逻辑锥对应的第一设定条件，则根据第一检测结果确定目标线的第一验证结果(S704)。电路验证方法与装置能减少计算量，提高验证效率。

公开(公告)号：CN117561515A

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202180099695.1

申请日：2021-06-23

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 李栋 ,  王超 ,  张锐 ,  刘武龙 ,  黄宇

IPC: G06F30/3947

Abstract: 一种拥塞预测模型训练方法、图像处理方法及装置。训练方法包括：将多个金属层划分为至少两个预测层；其中，多个金属层为K个半导体芯片中每个半导体芯片包含的金属层，K为正整数；确定每个预测层对应的M个第一特征图；其中，M个第一特征图分别用于描述每个预测层的M个芯片特征，M为正整数；将K个半导体芯片中每个预测层对应的M个第一特征图加入数据集，并利用数据集训练拥塞预测模型。采用本方法，能够在提高半导体芯片拥塞预测准确率的同时降低拥塞预测的耗时。

公开(公告)号：CN117556762A

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202210930926.5

申请日：2022-08-04

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 陈晨 ,  黄宇 ,  张威威

IPC: G06F30/367

Abstract: 本申请实施例提供一种测试单元的方法和相关装置，该方法包括：对单元中需要进行缺陷测试的N个缺陷进行无注错仿真，得到该单元的无注错仿真结果；根据该单元的无注错仿真结果，确定该N个缺陷中的每个缺陷在该注错仿真时使用的测试向量，其中该N个缺陷中的至少一个缺陷的测试向量包括2M个输入向量中的部分输入向量，M是该单元包括的输入端口的数量，M和N为大于或等于1的正整数。上述技术方案可以减少用于单元缺陷模型生成的注错仿真输入向量数目，从而减少单元缺陷模型生成中模拟瞬态仿真的时间消耗，进而可以更快地得到单元的缺陷模型。

公开(公告)号：CN117501422A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202180099370.3

申请日：2021-06-22

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 秦旻 ,  黄鑫 ,  黄宇 ,  芮祥麟 ,  陈诚

IPC: H01L21/66

Abstract: 本申请实施例提供了一种根因分析方法及相关设备，在该方法中，首先获取诊断报告，该诊断报告用于指示芯片缺陷的诊断信息；然后，根据该诊断报告进行特征提取，得到该芯片缺陷的特征信息；此后，基于第一神经网络处理该特征信息，得到该芯片缺陷的根因分布信息。其中，由于神经网络所处理的特征信息包括根据诊断报告所提取得到的特征信息，且神经网络中所包含的网络参数可变空间较大，可以在高维空间上拟合存在关联性的芯片缺陷的根因分布信息，使得该方案可以提升基于诊断报告进行根因分析过程中的根因分析精度。

公开(公告)号：CN117236240A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202210636982.8

申请日：2022-06-07

Applicant: 华为技术有限公司 ,  清华大学

Inventor： 胡静波 ,  汪玉 ,  戴国浩 ,  王柳峥 ,  黄宇

IPC: G06F30/3308 ,  G06F30/327

Abstract: 本申请提供一种仿真方法、装置以及系统。方法包括：第一仿真装置将至少一个逻辑门的序号存储到第一数据结构，至少一个逻辑门与故障逻辑门的输出节点连接，第一数据结构能够存储的序号数量为M，故障逻辑门的扇出区域内的逻辑门的数量为N，M＜N，故障逻辑门与至少一个故障对应；在确定第一逻辑门对应第一故障的逻辑值的条件下，第一仿真装置从第一数据结构中删除第一逻辑门的序号；其中，第一逻辑门是至少一个逻辑门之一，第一故障是至少一个故障之一。通过上述方法，本申请可以降低仿真装置在故障仿真时需要存储的数据量级，这可以增加用于故障仿真的测试向量数和并发的线程数，如此能够增强故障仿真的执行速度，进而可以提高故障仿真效率。